如何通(tōng)過阻抗分(fēn)析儀測量樣品的(de)介電常數

　　如何通(tōng)過阻抗分(fēn)析儀測量樣品的(de)介電常數

　　我們想通(tōng)過阻抗分(fēn)析儀測某種粉體(粒度約100微米左右)在不同溫度下(xià)(如室溫至600攝氏度)的(de)介電常數，現在鄰近實驗室有一台阻抗分(fēn)析儀，目前初定的(de)方案是用(yòng)兩個(gè)金電極作爲極闆，将該樣品壓片做(zuò)成電介質，然後組成一個(gè)平闆電容，進而通(tōng)過阻抗分(fēn)析儀測得(de)該樣品的(de)阻抗譜，然後解譜獲得(de)該平闆電容器在不同溫度下(xià)的(de)電容，再通(tōng)過平闆電容器的(de)計算(suàn)公式求得(de)其介電常數。

　　但是現在有個(gè)問題是：測阻抗譜的(de)時(shí)候頻(pín)率都是一個(gè)範圍，但是實際上介電常數和(hé)激發頻(pín)率有很密切的(de)關系，因此就不知道這(zhè)樣獲得(de)的(de)介電常數是哪個(gè)激發頻(pín)率下(xià)的(de)了(le)。

　　實際上，阻抗和(hé)介電常數都是頻(pín)率的(de)函數，因此，習(xí)慣稱的(de)介電常數應該稱爲介電系數更合适些，隻不過人(rén)們習(xí)慣這(zhè)種稱謂，但介電常數并不是一個(gè)常數，測試頻(pín)率不同，這(zhè)個(gè)常數也(yě)不同。對(duì)很多(duō)材料，當頻(pín)率高(gāo)于某個(gè)頻(pín)率時(shí)，這(zhè)個(gè)常數變化(huà)很小，或從介電常數的(de)曲線看，介電常數-頻(pín)率圖出現一個(gè)平台，這(zhè)時(shí)，選取平台某一點對(duì)應的(de)頻(pín)率，再進行單頻(pín)測試，或就用(yòng)這(zhè)個(gè)數值，但需要标注爲某頻(pín)率下(xià)的(de)介電常數爲多(duō)少。

　　你的(de)測試方法是正确的(de)，但是将粉體壓成緻密的(de)片，在陶瓷片的(de)兩個(gè)面濺射一層金，或用(yòng)導電金/銀膏體塗抹陶瓷面，再熱(rè)處理(lǐ)(200-400C)，這(zhè)樣的(de)電極才能保證與材料良好的(de)電接觸。你直接用(yòng)金屬薄片夾住陶瓷片的(de)做(zuò)法，很難保證良好的(de)電接觸，除非在較大(dà)的(de)壓力下(xià)。

　　阻抗分(fēn)析儀器中，應該有單頻(pín)選擇的(de)，至于選擇哪個(gè)頻(pín)率，除了(le)參考文獻外，建議(yì)作一個(gè)全頻(pín)測試，從介電常數-lgf曲線上平台段選擇一個(gè)頻(pín)率，作爲繼續測試的(de)頻(pín)率。