一種極限環境下(xià)測試高(gāo)低溫介電測試系統

ZKSJD-600型全自動高(gāo)低溫介電溫譜儀

關鍵詞：高(gāo)低溫，介電溫譜，-190℃-600℃，薄膜，塊體

ZKSJD-600型全自動高(gāo)低溫介電溫譜儀是中科院聲學所研發的(de)最新一款高(gāo)低溫介電溫譜儀用(yòng)于分(fēn)析寬頻(pín)、高(gāo)低溫條件下(xià)被測樣品的(de)介電系數、阻抗Z、電抗X、導納Y、電導G、電納B、電感L、介電損耗D、品質因數Q等物(wù)理(lǐ)量，得(de)到這(zhè)些變化(huà)曲線的(de)頻(pín)率譜、溫度譜、介電譜曲線。可(kě)廣泛應用(yòng)于鐵電壓電陶瓷材料、半導體器件及功能薄膜材料等研究。測溫範圍從-190℃-600℃，滿足目條件下(xià)測試的(de)要求，同時(shí)高(gāo)低溫阻抗、介電測量系統軟件将高(gāo)溫測試平台，高(gāo)溫測試夾具與WK6500TonghuiSolartron1260LCRTH2826/2827/TH2810Agilent(Keysight)4294A/E4980A/E4990A測量設備無縫連接，實現了(le)自動完成高(gāo)溫環境下(xià)的(de)阻抗、介電參數的(de)測量與分(fēn)析。另外，還(hái)可(kě)以爲用(yòng)戶提供的(de)其他(tā)LCR品牌或型号完成定制需求。軟件可(kě)根據實驗方案設計，通(tōng)過測量C和(hé)D值，自動完成介電常數和(hé)介電損耗随頻(pín)率、電壓、偏壓、溫度、時(shí)間多(duō)維變化(huà)的(de)曲線。一次測量，同時(shí)輸出，測量效率高(gāo)、數據豐富多(duō)樣，是實驗室開發和(hé)研究新材料的(de)重要測量手段。在生産質量控制和(hé)優化(huà)上也(yě)是強有力的(de)工具。

一、産品特點：

1）高(gāo)溫介電溫譜儀-高(gāo)溫介電測量系統；

2）測量精度高(gāo)，控溫，測量頻(pín)率寬，抗交流幹擾；

3）介電軟件功能強大(dà)，擁有完善的(de)測量系統；

4）直接得(de)出介電常數實部和(hé)虛部的(de)比值曲線；

5）直接得(de)出複阻抗實部和(hé)虛部比值曲線的(de)Cole-Cole圖；

6）直接得(de)出機械品質因數Qm；

7）集方案、測量、分(fēn)析、數字化(huà)顯示于一體集成化(huà)設計；

8）自主研發設計電極系統，重複性更好，穩定性更高(gāo)；

9）高(gāo)溫、寬頻(pín)下(xià)測量材料的(de)介電性能；

10）一次隻能測量一個(gè)樣品，測量準确度更高(gāo)；

11）高(gāo)溫介電測量系統與安捷倫、穩科阻抗産品wan美(měi)兼容；

12）多(duō)種溫度選型，軟件免費升級。

二、主要技術參數：

溫度範圍   -190℃-600℃

控溫精度   ±1℃

頻(pín)率範圍：20Hz-50MHz

測量精度：0.05%

控溫方式   連續升溫和(hé)分(fēn)段升溫

測量精度   0.1℃

升溫斜率   0-10℃min（典型值3℃min）

控溫方式   PID精确控溫

顯示控制   電腦(nǎo)直接顯示

數據接口   USB接口

冷(lěng)卻方式   液氮

降溫斜率   0-1℃/mim（典型值3℃/min）

測量精度：0.05%

測量原理(lǐ)：平行闆電容器原理(lǐ)

供電:220V±10%,50Hz

工作環境:0℃-55℃

樣品尺寸:φ≤15min，d=3mm

測量方式:2線-4線測量

電極材料:鉑金

儀器尺寸:750×550×560

  溫度：-190℃-600℃