近代物(wù)理(lǐ)實驗室現有實驗室面積約800平方米,總資産達1200多(duō)萬元,涉及原子物(wù)理(lǐ)、原子核物(wù)理(lǐ)、固體物(wù)理(lǐ)、凝聚态物(wù)理(lǐ)、磁學、光(guāng)學、真空技術、當代新興物(wù)理(lǐ)實驗技術等領域的(de)綜合設計性項目30個(gè),爲學生開設80學時(shí)的(de)必修課程。另有微結構材料設計與性能模拟平台一個(gè),用(yòng)于進行虛拟仿真實驗,共有35個(gè)項目,其中課内安排了(le)2個(gè)項目共10學時(shí)。近代物(wù)理(lǐ)中的(de)壓電(D33測試儀,TDZT-0C4型鐵電測試儀,DLT-01型介電測試儀,PZT-JH10/4型壓電極化(huà)設備,這(zhè)些都是目前近代物(wù)理(lǐ)及材料,機電學院的(de)重要設備之一。具體資料和(hé)技術如下(xià):
産品名稱
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招标技術參數 | ||||||||||||||||||||
ZJ-3型精密D333測試儀主要介紹 | ZJ-3型壓電測試儀(靜壓電系數d33測量儀)是爲測量壓電材料的(de)d33常數而設計的(de)專用(yòng)儀器,它可(kě)用(yòng)來(lái)測量具有大(dà)壓電常數的(de)壓電陶瓷,小壓電常數的(de)壓電單晶及壓電高(gāo)分(fēn)子材料。此外,也(yě)可(kě)測量任意取向壓電單晶以及某些壓電器件的(de)等效壓電d’33常數,儀器測量範圍寬,分(fēn)辨率細,可(kě)靠性高(gāo),操作簡單,對(duì)試樣大(dà)小及形狀無特殊要求,圓片、圓環、圓管、方塊、長(cháng)條、柱形及半球殼等均可(kě)測量,測量結果和(hé)極性在三位半數字面闆表上直接顯示。ZJ-3型增加了(le)對(duì)被測元件的(de)放電保護、放電提示以及被測波形輸出等功能,使得(de)儀器在測量未放電(尤其是較大(dà)尺寸)的(de)壓電元件時(shí)具備了(le)高(gāo)電壓放電提示及保護功能,本儀器是從事壓電材料及壓電元件生産、應用(yòng)與研究部門的(de)儀器。
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ZJ-3型精密D333測試儀主要技術參數 | d33測量範圍: ×1擋:10到2000pC/N,20 至4000pC/N,可(kě)以升級到10000PC/N. 可(kě)配D31塊體夾具,D15塊體夾具,D15圓管夾具,薄膜拉伸夾具 可(kě)以配套PZT-JH10/4/8/12型壓電極化(huà)裝置使用(yòng) 可(kě)以配套ZJ-D33-YP15壓電壓片機使用(yòng) 計量标定标準樣尺寸:18mm*0.8mm,老化(huà)時(shí)間:2-3年(評判壓電測試儀準确性能的(de)重要依據之一) 補充參數:
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TDZT-04C鐵電性能綜合測試系統
| TDZT-04C鐵電性能綜合測試系統是最新一代鐵電材料參數測試儀适用(yòng)于鐵電薄膜、鐵電體材料(既可(kě)塊體材料)的(de)電性能測量,可(kě)測量鐵電薄膜電滞回線、I—V特性及開關特性,可(kě)精确地測出具有非對(duì)稱電滞回線鐵電薄膜的(de)Pr值。可(kě)測鐵電體材料的(de)電滞回線及I—V特性。
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TDZT-04C鐵電性能綜合測試系統 主要技術參數 |
主要技術指标: 1.輸出信号電壓::薄膜:0~±10V 陶瓷、材料:0~±2000V 2.輸出信号頻(pín)率:薄膜材料1-1000HZ,陶瓷:0-1Hz 3.電容範圍:1000nf~ 100nf, 精度: ≤1%。 4.電流範圍: 1nA~10A ,精度: ≤1%。 5、測試樣品:0-20mm 5個(gè) 6、高(gāo)壓樣品池:開放式:8CM*5CM 7、三維移動薄膜測試平台:直立式探針一套 8、電流:1-10倍放大(dà),信号:1-20倍。.數據結口:USB或BNC接口。 9. 數據采集分(fēn)析軟件: 能畫(huà)出鐵電薄膜的(de)電滞回線,定量得(de)到鐵電薄膜材料的(de)飽和(hé)極化(huà)Ps、剩餘極化(huà)Pr、矯頑場(chǎng)Ec、漏電流等參數;可(kě)以進行鐵電薄膜材料的(de)鐵電疲勞性能、鐵電保持性能的(de)測試,電阻測量,漏電流測量。 10.可(kě)以配合ZJ-3和(hé)ZJ-6型壓電測試儀操作系統
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PZT-JH10/4壓電極化(huà)裝置(10KV以下(xià)壓電陶瓷同時(shí)極化(huà)1-4片)
| PZT-JH10/4壓電極化(huà)裝置(10KV以下(xià)壓電陶瓷同時(shí)極化(huà)1-4片) 關鍵詞:壓電極化(huà),壓電陶瓷材料,1-4片
主要特點: 1.能夠同時(shí)極化(huà)1-4片試樣 2.提供多(duō)套測試夾具(可(kě)以測試粉末,單樣品,及薄的(de)壓電陶瓷片) 2. 安全可(kě)靠,溫度補償快(kuài)、恒溫精度高(gāo) 3. 每路當漏電流超過規定值時(shí),都具有切斷保護功能,不影(yǐng)響其它樣片的(de)極化(huà),其它回路可(kě)按正常極化(huà)時(shí)間完成極化(huà)。 4. 任意夾持樣品尺寸爲0-40mm片方型或是圓型試樣 7、工作電源:AC220V 50/60HZ 8、額定功率:2.0kw 9、壓電材料極化(huà)或耐壓測試:DC:0-10KV(±5%+2個(gè)字)連續可(kě)調 10、總電流:10mA 11、每路切斷電流:0.5mA 12、加熱(rè)時(shí)間:可(kě)以自動設定 13、加熱(rè)元件 :優質電阻絲 14、1次測試試樣數量:可(kě)加載1-4片試樣 15、額定溫度 :≤180℃ 16、最高(gāo)溫度 :200℃ 17、控溫方式 :智能化(huà)恒溫控制(進口表),多(duō)段程序可(kě)控 18、樣片 :樣品尺寸爲3-40mm片方型或是圓型試樣 19、外形尺寸 : 875*470*400(mm) 20、極化(huà)探頭:優質銅電極(0.2mm) 21、标準極化(huà)樣品:8片(10mm*1.5mm) 21、配套設備裝置:能夠配合ZJ-3和(hé)ZJ-6壓電測試儀進行測量 22、配套設備裝置:可(kě)以配置10MM,20MM,30MM,40MM壓片夾具
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DLT-01 Dielectric tester型介電測試儀
| DLT-01 Dielectric tester型介電測試儀 關鍵詞:介電常數,諧振頻(pín)率Fp,機電耦合系數Keff,機械品質因素 Qm
DLT-01 Dielectric tester型介電測試儀是一款多(duō)功能的(de)介電測試儀,即可(kě)測試包括介電常數、介電損耗、電容等參數,又可(kě)以測量諧振頻(pín)率Fs,反諧振頻(pín)率Fp,機電耦合系數 Keff,機械品質因素 Qm,最大(dà)導納Gmax等材料參數,爲材料研究測試提供第一手原始數據,提供元整的(de)數據圖,是高(gāo)等院校,科研院所及材料研究生産的(de)重要工具,同時(shí)還(hái)可(kě)以配合高(gāo)溫設備,進行高(gāo)溫設備測試。 一、主要特點: ●自動平衡技術電橋,測量準确度高(gāo) ●4端對(duì)開爾文測試端,測量範圍準确度高(gāo) ●提供内部直流偏壓-5V~+5V ●可(kě)選配内部±40V偏置電壓源 ●簡體中文、英文操作語言 ●分(fēn)檔測量、列表掃描、繪圖掃描、開路、短路、負載校正等等功能 ●配備電導率σ·介電常數ε的(de)運算(suàn)功能 ●進行測試數據、測試條件保存(U盤或内部) ●繪圖掃描圖像直接拷屏到U盤功能 ●加強的(de)測試端保護功能 ●USB、GPIB、RS232、LAN等上位機連接接口 二、主要技術參數 1、頻(pín)率:20HZ-1MHZ,5MHZ,10MHZ,15MHZ,30MHZ,50MHZ多(duō)種可(kě)選 2、D33測試範圍:0-6000PC/N(選配ZJ-3型精密壓電系數測試儀) 5、基本精度 :0.05% 6、測試電平: 5mV—2Vrms 7、輸出阻抗: 10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω 8、測試參數:D33,電容,介電常數,諧振頻(pín)率Fs,反諧振頻(pín)率Fp,機電耦合系數 Keff,機械品質因素 Qm,最大(dà)導納Gmax等 9、通(tōng)道數:1通(tōng)道 10、電極: 雙面夾持探針 11、軟件:自動計算(suàn)并輸出數據,軟件可(kě)根據實驗方案設計,通(tōng)過測量C和(hé)D值,自動完成介電常數和(hé)介電損耗随頻(pín)率、電壓、偏壓多(duō)維變化(huà)的(de)曲線。
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