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近代物(wù)理(lǐ)學新實驗設備(ZJ-3壓電,TDZT-04鐵電)

更新時(shí)間:2024-06-05  |  點擊率:609


關于近代物(wù)理(lǐ)學所擴展新實驗設備(ZJ-3壓電,TDZT-04C鐵電,DLT-01 Dielectric tester型介電測試儀)

近代物(wù)理(lǐ)實驗室現有實驗室面積約800平方米,總資産達1200多(duō)萬元,涉及原子物(wù)理(lǐ)、原子核物(wù)理(lǐ)、固體物(wù)理(lǐ)、凝聚态物(wù)理(lǐ)、磁學、光(guāng)學、真空技術、當代新興物(wù)理(lǐ)實驗技術等領域的(de)綜合設計性項目30個(gè),爲學生開設80學時(shí)的(de)必修課程。另有微結構材料設計與性能模拟平台一個(gè),用(yòng)于進行虛拟仿真實驗,共有35個(gè)項目,其中課内安排了(le)2個(gè)項目共10學時(shí)。近代物(wù)理(lǐ)中的(de)壓電(D33測試儀,TDZT-0C4型鐵電測試儀,DLT-01型介電測試儀,PZT-JH10/4型壓電極化(huà)設備,這(zhè)些都是目前近代物(wù)理(lǐ)及材料,機電學院的(de)重要設備之一。具體資料和(hé)技術如下(xià):

産品名稱

招标技術參數

ZJ-3型精密D333測試儀主要介紹

ZJ-3型壓電測試儀(靜壓電系數d33測量儀)是爲測量壓電材料的(de)d33常數而設計的(de)專用(yòng)儀器,它可(kě)用(yòng)來(lái)測量具有大(dà)壓電常數的(de)壓電陶瓷,小壓電常數的(de)壓電單晶及壓電高(gāo)分(fēn)子材料。此外,也(yě)可(kě)測量任意取向壓電單晶以及某些壓電器件的(de)等效壓電d’33常數,儀器測量範圍寬,分(fēn)辨率細,可(kě)靠性高(gāo),操作簡單,對(duì)試樣大(dà)小及形狀無特殊要求,圓片、圓環、圓管、方塊、長(cháng)條、柱形及半球殼等均可(kě)測量,測量結果和(hé)極性在三位半數字面闆表上直接顯示。ZJ-3型增加了(le)對(duì)被測元件的(de)放電保護、放電提示以及被測波形輸出等功能,使得(de)儀器在測量未放電(尤其是較大(dà)尺寸)的(de)壓電元件時(shí)具備了(le)高(gāo)電壓放電提示及保護功能,本儀器是從事壓電材料及壓電元件生産、應用(yòng)與研究部門的(de)儀器。

   

近代物(wù)理(lǐ)學新實驗設備(ZJ-3壓電,TDZT-04鐵電)

ZJ-3型精密D333測試儀主要技術參數

d33測量範圍:

×1擋:10到2000pC/N,20 至4000pC/N,可(kě)以升級到10000PC/N.
 ×0.1擋: 1到200pC/N,2 至400pC/N。

可(kě)配D31塊體夾具,D15塊體夾具,D15圓管夾具,薄膜拉伸夾具

可(kě)以配套PZT-JH10/4/8/12型壓電極化(huà)裝置使用(yòng)

可(kě)以配套ZJ-D33-YP15壓電壓片機使用(yòng)
 誤差:×1擋:±2%±1個(gè)數字,當d33在100到4000pC/N;

計量标定标準樣尺寸:18mm*0.8mm,老化(huà)時(shí)間:2-3年(評判壓電測試儀準确性能的(de)重要依據之一)
 ±5%±1個(gè)數字,當d33在10到200pC/N;
 ×0.1擋:±2%±1個(gè)數字,(當d33在10到200pC/N)
 ±5%±1個(gè)數字,當d33在10到20pC/N。
 分(fēn)辨率:   ×1擋:1 pC/N;×0.1擋:0.1   pC/N。
 尺寸:施力裝置:Φ110×140mm;儀器本體:240×200×80mm。
 重量:施力裝置:約4公斤;    
 儀器本體:2公斤。
 電源:220伏,50赫,20瓦。

補充參數:

頻(pín)帶寬度

DC~7MHz

Y偏轉系數

10mV/div~5V/div, 分(fēn)9檔

X偏轉系數

0.2μS/div~0.1S/div, 分(fēn)18檔

X擴展

×2

觸發源

内、外、電視場(chǎng)

同步方式

自動、觸發

有效顯示面

6div×10div(1div=0.6cm)

使用(yòng)電源

AC 220V/50Hz

外形尺寸

240B×100H×300Dmm

重量

3kg


TDZT-04C鐵電性能綜合測試系統

TDZT-04C鐵電性能綜合測試系統是最新一代鐵電材料參數測試儀适用(yòng)于鐵電薄膜、鐵電體材料(既可(kě)塊體材料)的(de)電性能測量,可(kě)測量鐵電薄膜電滞回線、I—V特性及開關特性,可(kě)精确地測出具有非對(duì)稱電滞回線鐵電薄膜的(de)Pr值。可(kě)測鐵電體材料的(de)電滞回線及I—V特性。



近代物(wù)理(lǐ)學新實驗設備(ZJ-3壓電,TDZT-04鐵電)


TDZT-04C鐵電性能綜合測試系統

主要技術參數

主要技術指标:

1.輸出信号電壓::薄膜:0~±10V 陶瓷、材料:0~±2000V

2.輸出信号頻(pín)率:薄膜材料1-1000HZ,陶瓷:0-1Hz

3.電容範圍:1000nf 100nf, 精度: 1%

4.電流範圍:   1nA10A   ,精度:   1%

5、測試樣品:0-20mm  5個(gè)

6、高(gāo)壓樣品池:開放式:8CM*5CM

7、三維移動薄膜測試平台:直立式探針一套

8、電流:1-10倍放大(dà),信号:1-20倍。.數據結口:USBBNC接口。

9. 數據采集分(fēn)析軟件: 能畫(huà)出鐵電薄膜的(de)電滞回線,定量得(de)到鐵電薄膜材料的(de)飽和(hé)極化(huà)Ps、剩餘極化(huà)Pr、矯頑場(chǎng)Ec、漏電流等參數;可(kě)以進行鐵電薄膜材料的(de)鐵電疲勞性能、鐵電保持性能的(de)測試,電阻測量,漏電流測量。

10.可(kě)以配合ZJ-3和(hé)ZJ-6型壓電測試儀操作系統

PZT-JH10/4壓電極化(huà)裝置(10KV以下(xià)壓電陶瓷同時(shí)極化(huà)1-4片)

        PZT-JH10/4壓電極化(huà)裝置(10KV以下(xià)壓電陶瓷同時(shí)極化(huà)1-4片)

關鍵詞:壓電極化(huà),壓電陶瓷材料,1-4

近代物(wù)理(lǐ)學新實驗設備(ZJ-3壓電,TDZT-04鐵電)

主要特點:

1.能夠同時(shí)極化(huà)1-4片試樣

2.提供多(duō)套測試夾具(可(kě)以測試粉末,單樣品,及薄的(de)壓電陶瓷片)

2. 安全可(kě)靠,溫度補償快(kuài)、恒溫精度高(gāo)

3. 每路當漏電流超過規定值時(shí),都具有切斷保護功能,不影(yǐng)響其它樣片的(de)極化(huà),其它回路可(kě)按正常極化(huà)時(shí)間完成極化(huà)。

4. 任意夾持樣品尺寸爲0-40mm片方型或是圓型試樣

7、工作電源:AC220V    50/60HZ

8、額定功率:2.0kw

9、壓電材料極化(huà)或耐壓測試:DC0-10KV(±5+2個(gè)字)連續可(kě)調

10、總電流:10mA

11、每路切斷電流:0.5mA

12、加熱(rè)時(shí)間:可(kě)以自動設定  

13、加熱(rè)元件 :優質電阻絲

141次測試試樣數量:可(kě)加載1-4片試樣

15、額定溫度 :≤180

16、最高(gāo)溫度 200

17、控溫方式 :智能化(huà)恒溫控制(進口表),多(duō)段程序可(kě)控

18、樣片 :樣品尺寸爲3-40mm片方型或是圓型試樣

19、外形尺寸   875*470*400mm)

20、極化(huà)探頭:優質銅電極(0.2mm

21、标準極化(huà)樣品:8片(10mm*1.5mm

21、配套設備裝置:能夠配合ZJ-3和(hé)ZJ-6壓電測試儀進行測量

22、配套設備裝置:可(kě)以配置10MM20MM30MM40MM壓片夾具

DLT-01 Dielectric tester型介電測試儀

DLT-01 Dielectric tester型介電測試儀

關鍵詞:介電常數,諧振頻(pín)率Fp,機電耦合系數Ke,機械品質因素 Qm

       

近代物(wù)理(lǐ)學新實驗設備(ZJ-3壓電,TDZT-04鐵電)

  DLT-01 Dielectric tester型介電測試儀是一款多(duō)功能的(de)介電測試儀,即可(kě)測試包括介電常數、介電損耗、電容等參數,又可(kě)以測量諧振頻(pín)率Fs,反諧振頻(pín)率Fp,機電耦合系數   Ke,機械品質因素 Qm,最大(dà)導納Gmax等材料參數,爲材料研究測試提供第一手原始數據,提供元整的(de)數據圖,是高(gāo)等院校,科研院所及材料研究生産的(de)重要工具,同時(shí)還(hái)可(kě)以配合高(gāo)溫設備,進行高(gāo)溫設備測試。

一、主要特點:

●自動平衡技術電橋,測量準确度高(gāo)

●4端對(duì)開爾文測試端,測量範圍準确度高(gāo)

●提供内部直流偏壓-5V~+5V

●可(kě)選配内部±40V偏置電壓源

●簡體中文、英文操作語言

●分(fēn)檔測量、列表掃描、繪圖掃描、開路、短路、負載校正等等功能

●配備電導率σ·介電常數ε的(de)運算(suàn)功能

●進行測試數據、測試條件保存(U盤或内部)

●繪圖掃描圖像直接拷屏到U盤功能

●加強的(de)測試端保護功能

●USB、GPIB、RS232、LAN等上位機連接接口

二、主要技術參數

1、頻(pín)率:20HZ-1MHZ,5MHZ,10MHZ,15MHZ,30MHZ,50MHZ多(duō)種可(kě)選

2、D33測試範圍:0-6000PC/N(選配ZJ-3型精密壓電系數測試儀)

5、基本精度 :0.05%

6、測試電平: 5mV—2Vrms

7、輸出阻抗: 10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω

8、測試參數:D33,電容,介電常數,諧振頻(pín)率Fs,反諧振頻(pín)率Fp,機電耦合系數 Ke,機械品質因素 Qm,最大(dà)導納Gmax等

9、通(tōng)道數:1通(tōng)道

10、電極: 雙面夾持探針

11、軟件:自動計算(suàn)并輸出數據,軟件可(kě)根據實驗方案設計,通(tōng)過測量C和(hé)D值,自動完成介電常數和(hé)介電損耗随頻(pín)率、電壓、偏壓多(duō)維變化(huà)的(de)曲線。