GDPT-900A型變溫壓電d33測量系統主要介紹

GDPT-900A型變溫壓電d33測量系統是我院研制的(de)即可(kě)低溫測試D33系數，又可(kě)以高(gāo)溫測試D33系數。主要是針對(duì)高(gāo)低溫壓電陶瓷材料和(hé)薄膜材料的(de)測試。

二、主要應用(yòng)領域：無損檢測超聲檢測，醫療超聲檢測，航空航天，石油天然器，汽車物(wù)聯網，，工業

GDPT-900A型變溫壓電d33測量系統主要技術參數

1、d33測量範圍：1PC/N-6000PC/N(1.5PC-30000PC)

2、力顯示：0.01-4N

3、電源：電壓220V

4、溫度範圍：溫度-100℃至+500℃

5、溫控精度：溫度顯示精度0.01℃，溫度控制精度±0.1℃，溫度漂移優于±0.1℃内，超調≤0.1℃。

6、升溫斜率：0.00至5.00℃/min，典型值2.00℃/min。

7、間隔保溫：0.10至50.00℃/點，保溫5分(fēn)鐘(zhōng)即可(kě)達到溫度穩定狀态。  

8、樣品夾具：夾持雙面電極樣品，直徑小于30mm，厚度小于5mm。

9、測量環境：低溫、高(gāo)溫、空氣等。

10、電極材料：耐高(gāo)溫電極。

11、制冷(lěng)方式：液氮控制系統

12、顯示：液晶顯示

13、采集方式：USB2.0高(gāo)速數據

14、總重量: 15kg左右。

15、軟件：專用(yòng)軟件自動測試溫度與壓電系數的(de)關系變化(huà)

GWTF-300高(gāo)溫鐵電材料測量系統

GWTF-300高(gāo)溫鐵電材料測量系統是一套建立在高(gāo)溫高(gāo)壓下(xià)的(de)鐵電測量系統，旨在針對(duì)一些特殊的(de)要求材料需要在高(gāo)溫下(xià)測量而研發的(de)一套鐵電測量系統。該系統不僅僅在溫度上将實現了(le)高(gāo)溫測試，而且在電壓和(hé)頻(pín)率上進行了(le)提高(gāo)，對(duì)我們的(de)鐵電材料研究和(hé)測試帶來(lái)更加重要的(de)幫助，該系統可(kě)以測量鐵電材料的(de)電滞回線，飽和(hé)極化(huà)Ps、剩餘極化(huà)Pr、矯頑場(chǎng)Ec、漏電流、疲勞、保持、I-V和(hé)開關特性等性能的(de)測試。

GWTF-300高(gāo)溫鐵電材料測量系統技術指标

1.輸出信号電壓：：0-4000/5000/6000/10000多(duō)種可(kě)定制

2.輸出信号頻(pín)率：0.2到100Hz（陶瓷、單晶），1到1kHz(薄膜）

3.電容範圍：電流0到±6mA（陶瓷、單晶），±50mA(薄膜）連續可(kě)調,精度: ≤1%。

4.電流範圍: 1nA～10A ,精度: ≤1%。

5、溫度測量範圍:0-200℃

6. 匹配高(gāo)溫電緻應變測試模塊、夾具及自動采集軟件。

7.測試速度：測量時(shí)間《5秒/樣品•溫度點

8. 樣品規格：塊體材料尺寸：直徑2-100mm，厚度0.1-10mm，薄膜：直徑：1-60mm

9. 數據采集分(fēn)析軟件： 能畫(huà)出鐵電薄膜的(de)電滞回線，定量得(de)到鐵電薄膜材料的(de)飽和(hé)極化(huà)Ps、剩餘極化(huà)Pr、矯頑場(chǎng)Ec、漏電流等參數;可(kě)以進行鐵電薄膜材料的(de)鐵電疲勞性能、鐵電保持性能的(de)測試，電阻測量，漏電流測量。

10、控制方式：計算(suàn)機實時(shí)控制、實時(shí)顯示、實時(shí)數據計算(suàn)、分(fēn)析與存儲

11、軟件采集：自動采集軟件，分(fēn)析可(kě)以兼容其他(tā)相關主流軟件。

GWJDN-1000型寬頻(pín)高(gāo)溫介電測量系統主要技術參數

         GWJDN-1000型寬頻(pín)高(gāo)溫介電測量系統

關鍵詞：高(gāo)溫介電，，-190℃-1000℃

GWJDN-1000型高(gāo)溫介電測量系統（2019款）高(gāo)溫介電測量系統應用(yòng)于高(gāo)溫環境下(xià)材料、器件的(de)導電、介電特性測量與分(fēn)析，通(tōng)過配置不同的(de)測試設備，完成不同參數的(de)測試。是高(gāo)溫介電測試系統測試裝置，是國家科研院所和(hé)高(gāo)等學府的(de)重要材料測試設備。

一、主要用(yòng)途：

1、測量以下(xià)參數随溫度（T）、頻(pín)率（f）、電平（V）、偏壓（Vi）的(de)變化(huà)規律：

2、測量電容（C）、電感（L）、電阻（R）、電抗（X）、阻抗（Z）、相位角（￠）、電導（G）、電納（B）、導納（Y）、損耗因子（D）、品質因素（Q）等參數，

3、同時(shí)計算(suàn)獲得(de)反應材料導電、介電性能的(de)複介電常數（εr）和(hé)介質損耗（D）參數。

4、可(kě)測試低溫環境下(xià)材料、器件的(de)介電性能

5、可(kě)以根據用(yòng)戶需求，定制開發居裏溫度點Tc、機電耦合系數Kp、機械品質因素Qm及磁導率μ等參數的(de)測量與分(fēn)析。系統集低溫環境、溫度控制、樣品安裝于一體；具有體積小、操作簡單控溫精度高(gāo)等特點。

二、主要技術參數：

主要技術參數：

1、溫度範圍： 室溫-1000℃

2、測溫精度：   0.1℃

3．升溫速度：   1—20℃/min

4、控溫模式： 程序控制，提供常溫、變溫、恒溫、升溫、降溫等多(duō)種組合方式

5、通(tōng)訊接口：   RS-485

8、電極材質： 鉑銥合金

9、上電極： 直徑1.6mm球頭電極，引線帶同軸屏蔽層

10、下(xià)電極：直徑26.8mm平面電極，引線帶同軸屏蔽層

11、保護電極：  帶保護電極，消除寄生電容、邊界電容對(duì)測試的(de)影(yǐng)響

12、電極幹擾屏蔽:電極引線帶同軸屏蔽，樣品平台帶屏蔽罩

13、夾具升降控制： 帶程序和(hé)手動控制，可(kě)更換夾具的(de)電動升降裝置

14、熱(rè)電偶 ：熱(rè)電偶探頭與樣品平台爲同一熱(rè)沉，測控溫度與樣品溫度保持一緻

15、無電極樣品尺寸：直徑小于40mm，厚度小于8mm

16、帶電極樣品尺寸： 直徑小于26mm，厚度小于8mm

17、軟件功能：自動分(fēn)析數據，可(kě)以分(fēn)類保存，樣品和(hé)測量方案結合在一起，生成系統所需的(de)實驗方案，輸出TXT、XLS、BMP等格式文件

18、測量方案：    提供靈活、豐富的(de)測試設置功能，包括頻(pín)率譜、阻抗譜、介電譜及其組合

19、标準極化(huà)樣品：8片（10mm*1.5mm）

20、配套設備裝置：能夠配合ZJ-3和(hé)ZJ-6壓電測試儀進行測量

21、配套設備裝置：可(kě)以配置10MM，20MM，30MM，40MM壓片夾具

23、測試頻(pín)率：20HZ-10MHZ

24、測試電平:100mV—2V

25、分(fēn)辨率：1MHZ

26、輸出阻抗:  100Ω

27、測試參數：Cp/Cs、Lp/Ls、Rp/Rs、|Z|、|Y|、R、X、G、B、θ、D、Q、Vac、Iac、Rdc、Vdc、Idc

28、基本準确度:   0.05%

29、顯示:液晶顯示

30、參數測量：多(duō)功能圖形和(hé)參數測量

31、接口方式:   RS232C或HANDLER

HTIM-600C型材料高(gāo)溫電阻率測試儀主要技術參數

HTIM-600C型材料高(gāo)溫電阻率測試儀

關鍵詞：電阻率，體電阻，表面電阻，CNAS

HTIM-600高(gāo)溫電阻率測試儀是一款針對(duì)于材料的(de)測量設備，可(kě)以出具CNAS整體認證的(de)專業材料高(gāo)溫測量設備，該儀器采用(yòng)使用(yòng)方法多(duō)樣化(huà)，2000V，6.4ms的(de)采集系統，實現了(le)是以往産品300倍的(de)抗幹擾功能6.4ms的(de)高(gāo)速測量，作爲皮安表使用(yòng)進行低電容檢查，2×10^19 Ω顯示，0.1fA分(fēn)辨率标配EXT I/O, RS-232C, GP-IB, USB，自行設計的(de)懸浮式電路，能不受測量環境影(yǐng)響進行穩定測量，并且運用(yòng)在産線中實現高(gāo)速測量。可(kě)實現絕緣材料在高(gāo)溫下(xià)電阻和(hé)電阻率試驗方法标準設計開發，可(kě)以直接測量高(gāo)溫、真空、氣氛條件下(xià)樣品的(de)電阻和(hé)體電阻率、漏電流等随溫度、時(shí)間變化(huà)的(de)曲線，高(gāo)溫絕緣材料電阻率測試儀系統已經在航天航空傳感器領域得(de)到很好的(de)應用(yòng)。

一、主要用(yòng)途：适用(yòng)于新材料評估的(de)特性:

1、用(yòng)于陶瓷元件的(de)絶縁劣化(huà)試驗

2、貼片電容的(de)IR測量

3、MLCC（多(duō)層陶瓷電容器）的(de)絕緣測量

4、光(guāng)伏電池薄膜的(de)絕緣測量

5、噪音(yīn)濾波器的(de)絕緣（高(gāo)阻）測量

6、液晶設備的(de)絕緣測量

7、塗層（塗料）的(de)表面電阻率測量

8、外殼的(de)帶電度的(de)測量

9、二極管的(de)微笑(xiào)洩漏電流測量

10、光(guāng)電耦合器的(de)初級/次級絕緣（高(gāo)電阻）測量

11、打印機墨粉輥軸的(de)絕緣測量

12、用(yòng)于針對(duì)半導體廠家的(de)絕緣密封件的(de)評估試驗

13、用(yòng)于組裝在貼片機、分(fēn)選機、自動化(huà)設備中

一、産品特點：

1、多(duō)種使用(yòng)方法的(de)超絕緣計,提供CNAS計量合格證書(shū)

2、能夠作爲IR表、靜電計等高(gāo)電阻計，以及作爲皮安表這(zhè)種微小電流計來(lái)使用(yòng)，使用(yòng)方法非常豐富的(de)測量儀器。

2、能不受測量環境影(yǐng)響進行穩定測量，并且運用(yòng)在産線中實現高(gāo)速測量2000V輸出

3、偏差1/60，抗噪音(yīn)性能300倍, 通(tōng)過全新的(de)SM懸浮式電路和(hé)三軸連接器的(de)組合，大(dà)幅提高(gāo)抗噪音(yīn)性能。

4、輸出電壓從0.1V到1000V，能夠以0.1V爲單位任意設置

5、6.4ms的(de)高(gāo)速檢查, 高(gāo)速檢查和(hé)50mA的(de)預充電功能的(de)組合可(kě)以實現高(gāo)産量的(de)MLCC檢查。

5、高(gāo)溫爐膛，耐高(gāo)溫、抗氧化(huà)的(de)測試夾具,提供CNAS計量合格證書(shū)

二、主要技術參數：

1、體積電阻率和(hé)表面電阻率測試範圍10的(de)4次方Ω.cm~10的(de)15次方Ω.cm；

2、測試電壓：10V、50V、100V、250V、500V、1000V

3、電極材質：600℃不氧化(huà)，三電極尺寸爲25mm（被保護電極直徑）、38mm（保護電極内徑）、50mm（保護電極外徑），樣品厚度在3mm以内；

3、測量精度：①電阻≤1010Ω時(shí)，精度±5％；電阻>1010Ω時(shí)，精度±10%；②電壓＜100V時(shí)，精度±5%，電壓≥100V時(shí)，精度±2％；

2、溫度範圍;室溫~600℃；

3、控溫精度：溫度≤300℃，精度±1℃，溫度＞300℃，精度±2℃；控溫設備需有測溫口；（能夠通(tōng)過計量CNAS認證）

4、測試軟件：①可(kě)設置連續升溫測試，得(de)到不同溫度下(xià)體積電阻率、表面電阻率具體值，直接得(de)到體積電阻率-溫度曲線、表面電阻率-溫度曲線；

5、溫度精度：可(kě)設置在某一具體溫度點測試，得(de)到體積電阻率、表面電阻率在不同時(shí)間點的(de)具體值，直接得(de)到體積電阻率-時(shí)間曲線、表面電阻率-時(shí)間曲線；

5、電腦(nǎo)要求：windows10 系統，内存16G以上，CPU四核；

6、升溫速率0℃/min~ 10℃/min（不做(zuò)計量要求）；

7、能通(tōng)氮氣，測試時(shí)在高(gāo)溫和(hé)氮氣環境下(xià)測試；

9、符合GB/T31838、GB/T10581、GB/T1410标準；

10、排氣口有過濾裝置；

HTRT-1000型導電材料高(gāo)溫電阻率測試儀技術參數

HTRT-1000型導電材料高(gāo)溫電阻率測試儀

關鍵詞：電阻率，導電，合金高(gāo)溫

電阻率表征技術是典型的(de)金屬、合金相變行爲研究手段，比如在先進鋼中的(de)碳運動行爲分(fēn)析、或是合金析出動力學研究、以及形狀記憶合金的(de)預相變行爲表征的(de)方面。電阻率對(duì)這(zhè)些相變行爲則非常敏感，應用(yòng)電阻率手段研究合金析出動力學行爲也(yě)是非常重要的(de)手段，是一種可(kě)以對(duì)合金時(shí)效析出過程全時(shí)段實現監控的(de)手段。同時(shí)，通(tōng)過電阻率的(de)演化(huà)規律，可(kě)以清晰的(de)判斷GP區(qū)、析出孕育時(shí)間、析出結束（析出量大(dà)）和(hé)熟化(huà)過程等不同的(de)階段。對(duì)于所有析出強化(huà)合金，電阻率數據都可(kě)以提供重要的(de)工藝指導。此外，預相變過程中出現納米疇并導緻模量軟化(huà)和(hé)弛豫内耗行爲，特别是在相變初期，用(yòng)電鏡觀察很難實現，而納米疇的(de)出現卻表現爲電阻率的(de)升高(gāo)，因此通(tōng)過電阻率演化(huà)可(kě)以清晰的(de)表征納米疇出現的(de)溫度和(hé)疇面積的(de)演化(huà)過程。

HTRT-1000本系統主要由高(gāo)精度高(gāo)穩定度的(de)小電流源、高(gāo)精度AD采樣芯片以及嵌入式芯片，上位機智能管理(lǐ)分(fēn)析軟件、真空多(duō)段溫控加熱(rè)設備組成的(de)金屬電阻率智能存儲分(fēn)析儀器。測試金屬樣品根據測試工藝要求任意設定加熱(rè)、降溫曲線，通(tōng)過過程中電阻率的(de)精密測量，完成對(duì)金屬内部結構變化(huà)如相變、碳化(huà)物(wù)、固溶度等特性的(de)分(fēn)析。

一、用(yòng)途：

1、棒材、管材、異型材金屬導電性能測量

2、金屬材料研究

3、碳系導電材料的(de)電阻率和(hé)電導率測量

4、金屬氧化(huà)物(wù)系導電材料的(de)電阻率和(hé)電導率測量

5、石墨烯金屬材料的(de)導電性能測試

二、器成套組成： 

1.溫度控制箱：任意設定多(duō)段加熱(rè)、保溫曲線，加熱(rè)範圍:室溫至1000℃。控溫精度±1oC。

2.真空加熱(rè)爐管：采用(yòng)石英真空管實現真空密閉狀态，達到6*10-2Pa。

3.控制信号盒：高(gāo)精度的(de)恒流源200uA-10mA,通(tōng)過計算(suàn)機通(tōng)信控制實現連續可(kě)調（或定制），測量到1uΩ。

4.計算(suàn)機：通(tōng)信控制溫控儀加熱(rè)曲線，實時(shí)接收當前溫度值并存儲顯示。結合溫度值顯示電阻率-溫度曲線。同時(shí)存儲過程的(de)測試條件信息，測試過程的(de)數據。完成數據庫的(de)基本管理(lǐ)、查詢、打印等功能。

5.   低溫裝置：低溫實驗可(kě)延伸-150℃，完成高(gāo)低溫實驗功能。

6.   app遠(yuǎn)程監控：手機app完成對(duì)實驗設備主要參數的(de)監控，不必守在爐子旁邊也(yě)能了(le)解實驗目前的(de)狀态。 

7.适用(yòng)于科研單位、高(gāo)等院校對(duì)金屬材料的(de)導電性能、微結構變化(huà)、相變信息等測試。

三、基本技術參數

1、控溫範圍；-150 ℃-1000 ℃，精度：-150 ℃-1000 ℃，精度±1 ℃

2、測量範圍：電  阻：1×10-6～1×10-1 Ω   ， 分(fēn)辨率：1×10-7Ω

電阻率：1×10-7～1×10-2 Ω-mm， 分(fēn)辨率：1×10-8

3、 材料尺寸：200mm*5mm*1mm,500mm*5mm*1mm,1000mm*5mm*1mm

4、 四線探針；0.5 mm-0.7mm   

5、夾具：針對(duì)不同的(de)樣品可(kě)以設計不同的(de)夾具

6、外形尺寸：主   機  1300mm（長(cháng)）×800 mm（寬）×500mm（高(gāo)）

7、淨   重：≤60kg

BKTEM-T1型熱(rè)電賽貝系數測試儀

BKTEM-T1型熱(rè)電賽貝系數測試儀以測定半導體材料、金屬材料及其他(tā)熱(rè)電材料(Bi2Te3, PbTe, Skutterudites等)的(de)Seebeck系數及電導率.

應用(yòng)範圍：1、精确地測定半導體材料、金屬材料及其他(tā)熱(rè)電(Bi2Te3,PbTe,Skutterudites康銅、鎳、鎢等金屬，Te、Bi2Te3、ZrNiSn、ZnAgSb、NiMoSb、SnTe、FeNbSb、CuGaTe2、GeTe、Ag1-xCuS、Cu2ZnSnSe4等)的(de)Seebeck系數及電導率、電阻率。

3、塊體和(hé)薄膜材料測均可(kě)以測試。

4、試樣與引線的(de)接觸是否正常V-1裝置可(kě)以自動檢出。

5、擁有自分(fēn)析軟件，獨立分(fēn)析，過程自動控制，界面友好。

6、國内高(gāo)等院校材料系研究或是熱(rè)電材料生産單位。

7、汽車和(hé)燃油、能源利用(yòng)效率、替代能源領域、熱(rè)電制冷(lěng).
  8、很多(duō)其他(tā)工業和(hé)研究領域-每年都會誕生新的(de)應用(yòng)領域

技術指标要求

測量溫度：   室溫-600℃

同時(shí)測試樣品數量：  1個(gè)

測量功能：   材料賽貝克系數和(hé)電阻率Seebeck系數及電導率

控溫精度：   0.5K

測量原理(lǐ)：   塞貝克系數：靜态直流電；電阻系數：四端法

測量精度：   塞貝克系數：＜±7％；電阻系數：＜±10％

樣品尺寸; 塊體方條形：2-3×2-3 mm×10-23mm長(cháng)，薄膜材料：≥50 nm

熱(rè)電偶導距:  ≥6 mm

電   流； 0 to 160 mA

加熱(rè)電極相數/電壓：        單相，220V，