一種電阻率/溫差電動勢測試系統

BKZEM-3電阻率/溫差電動勢測試系統

關鍵詞：塞貝克系數，半導體，熱(rè)電材料

BKZEM-3電阻率/溫差電動勢測試系統可(kě)用(yòng)于對(duì)于半導體，陶瓷材料，金屬材料等多(duō)種材料的(de)熱(rè)電性能分(fēn)析。

熱(rè)力發電是一種通(tōng)過熱(rè)電效應材料産生電力的(de)方法，由J.T.Seebeck德國物(wù)理(lǐ)學家在1821年發現的(de)。面對(duì)當前的(de)全球由二氧化(huà)碳排放以及化(huà)學材料消耗而導緻的(de)溫室效應，熱(rè)電轉變器件引起了(le)注意，因爲可(kě)以有效利用(yòng)餘熱(rè)。爲了(le)迎合這(zhè)種急迫的(de)需求公司爲這(zhè)些材料和(hé)器件開發了(le)特性評估裝置。

+  擁有溫度精确控制的(de)紅外金面加熱(rè)爐和(hé)控制溫差的(de)微型加熱(rè)器；

+  測量是由計算(suàn)機控制的(de)，并且能夠在的(de)溫度下(xià)執行測量，并允許自動測量消除背底電動勢；

+  歐姆接觸自動檢測功能（V-I圖）；

+  可(kě)以用(yòng)适配器來(lái)測量薄膜；

+  可(kě)定制高(gāo)阻型。

測試原理(lǐ)：

樣品以圓柱形或方柱的(de)形式垂直放置在加熱(rè)爐中的(de)上塊和(hé)下(xià)塊之間。通(tōng)過下(xià)塊中的(de)加熱(rè)器給樣品施加溫度梯度，同時(shí)将樣品加熱(rè)并保持在規定的(de)溫度。塞貝克系數的(de)測量是通(tōng)過測量壓在樣品側面的(de)熱(rè)電偶上的(de)上部和(hé)下(xià)部T1，T2與熱(rè)電偶一側的(de)同一股線之間的(de)熱(rè)電動勢dE來(lái)确定的(de)。
電阻測量采用(yòng)直流四端法，通(tōng)過在樣品兩端施加恒定電流I，測量熱(rè)電偶同一元件線之間的(de)電壓降dV，并去除引線之間的(de)熱(rè)電動勢來(lái)确定。

電阻測量系統可(kě)實現對(duì)金屬或半導體材料的(de)熱(rè)電性能的(de)評估。作爲ZEM的(de)特點，塞貝克系數（seebeck）和(hé)電阻都可(kě)以用(yòng)一種儀器來(lái)測量。該系統可(kě)用(yòng)于對(duì)于半導體，陶瓷材料，金屬材料等多(duō)種材料的(de)熱(rè)電性能分(fēn)析。

主要技術參數：

溫度範圍：  室溫-600℃，800℃ ，1000℃多(duō)種範圍可(kě)選擇

溫度設定範圍:測溫步數和(hé)溫度采樣測量步數：最大(dà)125步

測量方法 :溫差電動勢：靜态直流法

電阻率：四電極法

氣氛: 氩氣或氮氣

樣品尺寸:2~4 mm正方形或直徑2~4 mm，長(cháng)6~22 mm（最大(dà)）

導線間距:4，6，8 mm

電源供應:200 VAC，單相，40 A（M8，M10規格）

100 VAC，單相，20 A（L規格，M8和(hé)M10規格）

冷(lěng)卻水(shuǐ)需求:自來(lái)水(shuǐ),水(shuǐ)壓大(dà)于1.5 kgf/cm²,流量大(dà)于7 L/min

樣品溫差：MAX.50℃ 

測量方式：電腦(nǎo)全自動測量