描述：TF ANALYZER 2000E是一款擴展性的(de)模塊化(huà)鐵電壓電分(fēn)析儀，具備鐵電、壓電、熱(rè)釋電材料所有基本特性測試功能，可(kě)與激光(guāng)幹涉儀和(hé)SPM掃描探針顯微鏡等微位移傳感器聯用(yòng)，可(kě)廣泛地應用(yòng)于如各種鐵電/壓電/熱(rè)釋電薄膜、厚膜、體材料和(hé)電子陶瓷、鐵電傳感器/執行器/存儲器等領域的(de)研究。

鐵電壓電分(fēn)析儀 TF Analyzer 2000E

TF ANALYZER 2000E是一款擴展性的(de)模塊化(huà)鐵電壓電分(fēn)析儀，具備鐵電、壓電、熱(rè)釋電材料所有基本特性測試功能，可(kě)與激光(guāng)幹涉儀和(hé)SPM掃描探針顯微鏡等微位移傳感器聯用(yòng)，可(kě)廣泛地應用(yòng)于如各種鐵電/壓電/熱(rè)釋電薄膜、厚膜、體材料和(hé)電子陶瓷、鐵電傳感器/執行器/存儲器等領域的(de)研究。

模塊化(huà)設計的(de)TF Analyzer 2000 E具有優異的(de)擴展性。

· FE模塊-鐵電标準測試；

· MR模塊-磁阻和(hé)鐵性材料測試；

· RX模塊-弛豫電流測試；

· DR模塊-自放電測試。

測試基本單元：包括内置完整的(de)專用(yòng)計算(suàn)機主機和(hé)測試版路、運算(suàn)放大(dà)器、數據處理(lǐ)單元等，Windows 7 操作系統、鐵電分(fēn)析儀專用(yòng)測試軟件等。

FE模塊标準測試功能：
Dynamic Hysteresis 動态電滞回線測試頻(pín)率（标準FE模塊0.001Hz~5kHz）； 
Static Hysterestic 靜态電滞回線測試； 
PUND 脈沖測試；
Fatigue 疲勞測試；
Retention 保持力；
Imprint 印迹；
Leakage current漏電流測試；
Thermo Measurement 變溫測試功能。

FE模塊可(kě)選測試功能：
C-V curve電容-電壓曲線； 
Piezo Measurement壓電性能測試； 
Pyroelectric Measurement熱(rè)釋電性能測試； 
In-situ Compensation 原位補償；
DLCC 動态漏電流補償功能。

技術說明(míng)：
電壓範圍： +/- 25 V（可(kě)選的(de)附加高(gāo)壓放大(dà)器可(kě)擴展至+/- 10KV）； 
電滞頻(pín)率：5 kHz（标準FE模塊）；
最小脈沖寬度：2 μs；
最小上升時(shí)間：1 μs；
電流放大(dà)範圍：1pA～1A；
最大(dà)負荷電容：1μF；
輸出電流峰值：+/-1 A。

可(kě)擴展部件：
高(gāo)壓放大(dà)器、激光(guāng)幹涉儀、AFM、溫度控制器、薄膜探針冷(lěng)熱(rè)台、變溫塊體樣品盒、塊體變溫爐、薄膜e31測試平台、超導磁體、PPMS等。

MR模塊是用(yòng)來(lái)研究磁阻和(hé)鐵性材料的(de)。
此模塊提供連續電流激勵和(hé)測試，樣品上的(de)電壓降通(tōng)過高(gāo)精度四點測試。

RX模塊是用(yòng)來(lái)研究介電體和(hé)鐵電材料的(de)極化(huà)和(hé)去極化(huà)電流的(de)，即施加電壓階躍後的(de)電流響應。
該測試能将材料的(de)馳豫電流和(hé)漏電流分(fēn)開，并可(kě)記錄極化(huà)響應電流和(hé)去極化(huà)響應電流。

DR模塊用(yòng)于研究電介質材料的(de)自漏電性。
由于測試條件非常接近實際情況，因此通(tōng)過這(zhè)種方式可(kě)容易地測試應用(yòng)于DRAM材料的(de)合适性。

針對(duì)工業方面的(de)應用(yòng)，TF Analyzer 2000E提供了(le)256個(gè)自動測試的(de)通(tōng)道，大(dà)大(dà)擴展了(le)該儀器的(de)測試功能。

以上所有的(de)模塊可(kě)根據您的(de)測試需求以及科研方向進行獨立選擇或者任意組合。