描述：DAD-4型交流法導電材料電阻率測試儀是一種區(qū)别于直流法測試材料電阻率的(de)新的(de)測試方法，主要是針對(duì)于離子導電物(wù)質（如電解質溶液、導電凝膠）和(hé)導電粉體懸濁液（如碳粉、石墨烯粉體漿料）設計的(de)電阻率測試儀器。适用(yòng)範圍：廣泛應用(yòng)于科研單位、高(gāo)等院校對(duì)凝膠、溶液、離子導電材料以及不适用(yòng)于直流測試樣品的(de)導電性能測試。

DAD-4型交流法導電材料電阻率測試儀

關鍵詞：電解質溶液、導電凝膠、碳粉、石墨烯粉體漿料

DAD-4型交流法導電材料電阻率測試儀是一種區(qū)别于直流法測試材料電阻率的(de)新的(de)測試方法，主要是針對(duì)于離子導電物(wù)質（如電解質溶液、導電凝膠）和(hé)導電粉體懸濁液（如碳粉、石墨烯粉體漿料）設計的(de)電阻率測試儀器。适用(yòng)範圍：廣泛應用(yòng)于科研單位、高(gāo)等院校對(duì)凝膠、溶液、離子導電材料以及不适用(yòng)于直流測試樣品的(de)導電性能測試。

一、主要功能材料測試項目：

1、離子導電物(wù)質（如電解質溶液、導電凝膠）電阻率，電導率測試

2、導電粉體懸濁液（如碳粉、石墨烯粉體漿料）電阻率，電導率測試

3、可(kě)測金屬箔、碳紙等導電薄膜，也(yě)可(kě)測陶瓷、玻璃或 PE 膜等基底薄膜塗層電阻率/方阻

二、符合：

符合：符合 GB/T 1551-2009《矽單晶電阻率測定方法》

GB/T 1551-1995《矽、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》

GB/T 1552-1995《矽、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》等國标并參考美(měi)國 A.S.T.M 标準。

三、 優勢特征：

1、本測試儀特增設測試結果自動分(fēn)類功能。

2、可(kě)定制 USB 通(tōng)訊接口，便于其拓展爲集成化(huà)測試系統中的(de)測試模塊。

3、8 檔位超寬量程，行業。 同行一般爲五到六檔位。

4、儀器小型化(huà)、手動/自動一體化(huà)。

5、儀器操作簡便、性能穩定，所有參數設定、功能轉換全部采用(yòng)數字化(huà)鍵盤輸入，簡便而且免除模拟定位器的(de)不穩定。

6、 探頭選配：根據不同材料特性需要，探頭可(kě)有多(duō)款選配。

四、基本技術參數

3.1 測量範圍

1、電阻率：2πS*（0.10Ωm～100kΩm），（ S 針距，單位 m）

2、電阻：0.10Ω～100.0kΩ

3、 材料尺寸(由選配測試台和(hé)測試方式決定)

4、直 徑：測試台直接測試方式 180mm×180mm

5、手持方式不限. 長(cháng)(高(gāo))度：測試台直接測試方式 H≤100mm,

6、測量方位: 軸向、徑向均可(kě)

7、碳化(huà)鎢探針：Φ0.5mm，直線探針間距 1.0mm，探針壓力: 0～2kg 可(kě)調

(薄膜方阻探針：Φ0.7mm，直線或方形探針間距 2.0mm，探針壓力: 0～

0.6kg 可(kě)調

8、電源：22V，DC 8.4V (充電锂電池，大(dà)容量電池爲廠家定制)

9、.外形尺寸、重量：

10、主 機： 240mm（長(cháng)）×130 mm（寬）×50mm（高(gāo)）， 淨 重：≤2.5kg

11、帶電腦(nǎo)軟件，可(kě)以保存、查詢、統計分(fēn)析數據和(hé)打印報告。

12、USB 通(tōng)訊接口，通(tōng)用(yòng)性好、方便快(kuài)捷。

13、可(kě)以配置ZJ-3型壓電測試儀進行D33系數測試