描述：半導體冷(lěng)熱(rè)台JK-120BCH采用(yòng)半導體緻冷(lěng)，配合低溫循環液，實現從-40到180℃（選型）的(de)控溫。
結構緊湊，适用(yòng)于各種變溫測試
氣密腔室設計，可(kě)通(tōng)保護氣體
多(duō)探針測試
上位機軟件控制
支持改動或定制

JK-120BCH半導體冷(lěng)熱(rè)台

半導體冷(lěng)熱(rè)台JK-120BCH采用(yòng)半導體緻冷(lěng)，配合低溫循環液，實現從-40到180℃（選型）的(de)控溫。

結構緊湊，适用(yòng)于各種變溫測試

氣密腔室設計，可(kě)通(tōng)保護氣體

多(duō)探針測試

上位機軟件控制

支持改動或定制

溫控特性

1. 溫度範圍：

下(xià)限溫度(℃)（選型）：A. -30 B. -40

上限溫度(℃)（選型）：A. 120 B. 180

2. 控溫速度：0~10℃/min

3. 溫度分(fēn)辨率：0.1℃ 4. 溫度穩定性：±0.1℃

5. 溫度控制：高(gāo)精度PID控制

6. 載樣台材質：銅

7. 溫度傳感器：PT100

8. 冷(lěng)卻方式：低溫循環液

光(guāng)學特性

1. 光(guāng)路：反射光(guāng)路

2. 視窗(chuāng)：可(kě)拆卸更換，可(kě)用(yòng)不同材質玻璃實現不同波段光(guāng)觀察

3. 最小物(wù)鏡工作距離：12.0mm

4. 上蓋視窗(chuāng)：φ25mm

結構特性

1. 樣品台面尺寸：40x40mm（以實際尺寸爲準）

2. 樣品腔高(gāo)度：9.0mm（載樣台上部空間高(gāo)度）

3. 放樣：移除上蓋後放置樣品，固定探針

4. 氣氛控制：默認氣密腔室，通(tōng)過2個(gè)快(kuài)速自鎖接頭，充入保護氣氛

*可(kě)升級爲真空腔室，10-3mBar

5. 安裝固定：水(shuǐ)平安裝

6. 台體尺寸：150x150x36mm

電學特性

1. 探針：4個(gè)固定式探針（紫銅鍍金）

2. 探針接口：默認爲BNC接頭

*可(kě)升級爲同軸BNC

3. 樣品台面電位：默認電懸空，可(kě)選電接地

配置清單

基本配置：

LRT-P1冷(lěng)熱(rè)台 x1  高(gāo)低溫控制器 x1  低溫冷(lěng)卻循環機 x1   溫控軟件 x1

選配：

電腦(nǎo)主機/安裝支架/測試源表/同軸BNC/真空系統/濕度控制系統/定制控制軟件