JK-SEM1900型原位冷(lěng)熱(rè)台是一種在掃描電子顯微鏡（SEM）标準樣品台上（無需改造電鏡内部），提供樣品原位變溫測試的(de)電鏡附件。通(tōng)過外接法蘭裝置實現對(duì)冷(lěng)熱(rè)台上的(de)樣品進行控溫，穩定後溫控精度最高(gāo)可(kě)達±0.1℃ 可(kě)實現樣品變溫測試的(de)溫度範圍：-185~50℃ / -185~200℃，滿足原位高(gāo)低溫材料相變微觀表征。SEM原位冷(lěng)熱(rè)台适合于各種樣品在掃描電子顯微鏡中進行高(gāo)低溫結構研究，固定在現有樣品台上

JK-CH600190-XRD冷(lěng)熱(rè)台是一種安裝在X-射線衍射儀上研究樣品變溫X-射線衍射的(de)附件。産品采用(yòng)液氮緻冷(lěng)、電阻加熱(rè)的(de)方式，提供-190~600℃（選型）或RT~1000℃（選型）溫度範圍内的(de)氣氛/真空測試環境。适合于粉末、片材樣品在變溫下(xià)進行X-射線結構研究，适配現有各種X-射線衍射儀（布魯克、賽默飛(fēi)、理(lǐ)學等）。

JKGX-190光(guāng)學測試冷(lěng)熱(rè)台采用(yòng)液氮制冷(lěng)和(hé)電熱(rè)絲加熱(rè)方式，可(kě)以在-190℃~600℃範圍内進行溫度和(hé)環境控制，搭配其他(tā)儀表進行電學、光(guāng)學等測試。 結構緊湊，适用(yòng)于各種變溫測試 最大(dà)溫度範圍-190~600℃（選型） 氣密腔室設計，可(kě)通(tōng)保護氣體 上位機軟件控制支持改動或定制

JK-600CH190P4D型外部調節探針冷(lěng)熱(rè)台

JK-600GCH2190P4微型探針冷(lěng)熱(rè)台産品特點： 結構緊湊，适用(yòng)于各種變溫測試 最大(dà)溫度範圍-190~600℃（選型) 氣密腔室設計，可(kě)通(tōng)保護氣體 多(duō)探針測試 上位機軟件控制 支持改動或定制

JK-600CH190P8型常規探針冷(lěng)熱(rè)台是一款針對(duì)研究樣品變溫電學性能測試而設計的(de)産品，可(kě)表征樣品電學性能随溫度變化(huà)的(de)特征。産品采用(yòng)液氮緻冷(lěng)、電阻加熱(rè)的(de)方式，實現-190~600℃（選型）或RT~1000℃（選型）範圍内精準控制，與其他(tā)電學儀表（如源表、萬用(yòng)表等）搭配集成，進行變溫原位測試。