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2024-08-26訪問量
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JKZC-ST4型半導體材料四探針測試儀
關鍵詞:電阻,電阻率,四探針,半導體
膜探頭測薄膜 鎢針探頭
一、産品概述
JKZC-ST4型數字式四探針測試儀是運用(yòng)四探針測量原理(lǐ)測試電阻率/方阻的(de)多(duō)用(yòng)途綜合測量儀器。該儀器設計符合GB/T 1551-2009 《矽單晶電阻率測定方法》、GB/T 1552-1995《矽、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美(měi)國 A.S.T.M 标準。
儀器具有測量精度高(gāo)、靈敏度高(gāo)、穩定性好、智能化(huà)程度高(gāo)、測量簡便、結構緊湊、使用(yòng)方便等特點。
儀器适用(yòng)于半導體材料廠器件廠、科研單位、高(gāo)等院校對(duì)導體、半導體、類半導體材料的(de)導電性能的(de)測試。
二、符合:
1、符合GB/T 1551-2009 《矽單晶電阻率測定方法》、
2、符合GB/T 1552-1995《矽、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》
3、符合美(měi)國 A.S.T.M 标準
二、産品應用(yòng):
1、測試矽類半導體、金屬、導電塑料類等硬質材料的(de)電阻率/方阻;
2、可(kě)測柔性材料導電薄膜電阻率/方阻
3、金屬塗層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導電膜(ITO膜)電阻率/方阻
4、納米塗層等半導體材料的(de)電阻率/方阻
5、電阻器體電阻、金屬導體的(de)低、中值電阻以及開關類接觸電阻進行測量
6、可(kě)測試電池極片等箔上塗層電阻率方阻
二、基本技術參數
1、 測量範圍
電 阻:1×10-4~2×105 Ω ,分(fēn)辨率:1×10-5~1×102 Ω
電阻率:1×10-4~2×105 Ω-cm,分(fēn)辨率:1×10-5~1×102 Ω-cm
方 阻:5×10-4~2×105 Ω/□,分(fēn)辨率:5×10-5~1×102 Ω/□
2、測量方式:自動或手動
3、基本精度:±0.1/%
4、四探針探頭:
(1)碳化(huà)鎢探針:Φ0.5mm,直線探針間距1.0mm,探針壓力: 0~2kg 可(kě)調
(2)薄膜方阻探針:Φ0.7mm,直線或方形探針間距2.0mm,探針壓力: 0~0.6kg 可(kě)
5. 電源:198V -242V(AC),47.5Hz -63Hz
6、操作環境: 0°C -40°C ,≤90%RH
7、外形尺寸:200mm(長(cháng))×220 mm(寬)×100mm(高(gāo))
8、數據傳輸方式;USB
9、軟件方式:人(rén)性化(huà)分(fēn)析軟件界面,數據自動生成
分(fēn)析軟件(一)