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    WBFJ-1750型微擾法複介電常數測試系統

    微擾法複介電常數測試系統是采用(yòng)諧振腔微擾法是一種用(yòng)于研究諧振器性能的(de)方法,特别是在微波技術領域有廣泛應用(yòng)。這(zhè)種方法涉及到在諧振腔内部引入微小的(de)擾動,這(zhè)些擾動可(kě)能來(lái)自于腔壁的(de)輕微變形或其他(tā)形式的(de)局部變化(huà),然後通(tōng)過對(duì)微擾前後場(chǎng)量的(de)對(duì)比和(hé)分(fēn)析,來(lái)估算(suàn)這(zhè)些變化(huà)如何影(yǐng)響諧振腔的(de)諧振頻(pín)率和(hé)其他(tā)相關參數。微波介質材料介電特性的(de)測量,對(duì)于研究材料的(de)微波特性和(hé)制作微波器件,獲得(de)材料的(de)結構信息以促進新材料的(de)研制,以及

    更新時(shí)間:2024-08-27型号:浏覽量:312
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    諧振腔法是一種重要的(de)材料測量方法,具有廣泛的(de)應用(yòng)前景。随著(zhe)科技的(de)不斷發展,諧振腔法将會在材料科學、電子工程、通(tōng)信技術等領域發揮越來(lái)越重要的(de)作用(yòng)。XZQ-5000型諧振腔法高(gāo)溫介電溫譜測試儀是爲中低損耗材料、均質材料、小樣品測試等需求而開發的(de)一款高(gāo)精度高(gāo)性價比的(de)材料測試平台。融合矢量網絡分(fēn)析儀和(hé)試夾具于一體,可(kě)進行30MHz到110GHz頻(pín)率範圍内的(de)微波複介電常數測試。該系列産品精度高(gāo)、接口豐

    更新時(shí)間:2024-08-27型号:浏覽量:545
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    JKZC-ST4半導體材料四探針測試儀

    JKZC-ST4型數字式四探針測試儀是運用(yòng)四探針測量原理(lǐ)測試電阻率/方阻的(de)多(duō)用(yòng)途綜合測量儀器。該儀器設計符合GB/T 1551-2009 《矽單晶電阻率測定方法》、GB/T 1552-1995《矽、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美(měi)國 A.S.T.M 标準 儀器具有測量精度高(gāo)、靈敏度高(gāo)、穩定性好、智能化(huà)程度高(gāo)、測量簡便、結構緊湊、使用(yòng)方便等特點。

    更新時(shí)間:2024-08-26型号:JKZC-ST4浏覽量:1578
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  • AV-40G微波介質材料電磁特性參數測試系統
    AV-40G微波介質材料電磁特性參數測試系統

    微波介質材料目前已經廣泛應用(yòng)于航空航天、微波通(tōng)信、隐身技術、微波通(tōng)信、衛星通(tōng)信、電子對(duì)抗、雷達導航、遙感、遙測等系統生物(wù)醫學、 電磁兼容等各領域在研發、生産和(hé)使用(yòng)微波介質材料時(shí)都需要測試其電磁特性參數,AV-40G型微波介質材料電磁特性參數測試系統是一款設計采用(yòng)傳輸反射法進行寬頻(pín)帶掃頻(pín)測量,主要設備包括矢量網絡分(fēn)析儀、測試電纜、測試夾具和(hé)自動測量軟件,系統用(yòng)于測量固體介質材料的(de)介電常數、

    更新時(shí)間:2024-08-26型号:AV-40G浏覽量:1998
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  • JKZC-G3型非接觸式靜電電壓表測量裝置
    JKZC-G3型非接觸式靜電電壓表測量裝置

    1. 概述 随著(zhe)工業技術特别是信息産業發展,靜電對(duì)各部門的(de)影(yǐng)響越來(lái)越大(dà),靜電電壓表和(hé)靜電場(chǎng)強表使用(yòng)越來(lái)越多(duō),對(duì)靜電進行定期計量校準、标定檢定是确保靜電防護的(de)基本條件。 JKZC-G系列靜電電壓表計量裝置能迅速準确計量校準、标定檢定目前國内外大(dà)部分(fēn)的(de)靜電電壓表和(hé)靜電場(chǎng)強表.。标準型主要适用(yòng)于電子、航天、兵(bīng)器、國防等與電子元器件、電子設備相關的(de)行業。

    更新時(shí)間:2024-08-26型号:浏覽量:1566
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  • 非接觸式靜電電壓表校準裝置結構
    非接觸式靜電電壓表校準裝置結構

    非接觸式靜電電壓表校準裝置測量時(shí)勿需同帶電體接觸,數字風速儀不但能測量金屬體的(de)靜電,也(yě)能測量絕緣體的(de)靜電,且對(duì)被測量物(wù)體影(yǐng)響小。非接觸式靜電電壓表校準裝置結構

    更新時(shí)間:2024-08-26型号:浏覽量:1618
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