描述：JKZC-YDZK03N壓電阻抗綜合測試系統是一款多(duō)用(yòng)途的(de)綜合測試系統，即可(kě)用(yòng)于縱向壓電D33測試，豎向D15,橫向D31等性能測試，配置了(le)高(gāo)低溫冷(lěng)熱(rè)台，進行變溫測試，配置顯微鏡進行微觀觀測，也(yě)可(kě)以用(yòng)于用(yòng)于用(yòng)于鐵電晶體、壓電陶瓷、壓電晶體、超聲波換能器等器件的(de)阻抗分(fēn)析與測試，是對(duì)壓電器件和(hé)設備進行頻(pín)率掃描和(hé)阻抗測量分(fēn)析的(de)*解決方案，可(kě)以快(kuài)捷方便地測試壓電器件的(de)各項參數特性,正反諧振阻抗及壓電

JKZC-YDZK03AN壓電阻抗綜合測試系統

關鍵詞：壓電系數，阻抗，顯微鏡，高(gāo)低溫

    JKZC-YDZK03N壓電阻抗綜合測試系統是一款多(duō)用(yòng)途的(de)綜合測試系統，即可(kě)用(yòng)于縱向壓電D33測試，豎向D15,橫向D31等性能測試，配置了(le)高(gāo)低溫冷(lěng)熱(rè)台，進行變溫測試，配置顯微鏡進行微觀觀測，也(yě)可(kě)以用(yòng)于用(yòng)于用(yòng)于鐵電晶體、壓電陶瓷、壓電晶體、超聲波換能器等器件的(de)阻抗分(fēn)析與測試，是對(duì)壓電器件和(hé)設備進行頻(pín)率掃描和(hé)阻抗測量分(fēn)析的(de)*解決方案，可(kě)以快(kuài)捷方便地測試壓電器件的(de)各項參數特性,正反諧振阻抗及壓電材料的(de)電容等相關系數，是研究壓電材料和(hé)阻抗分(fēn)析的(de)綜合設備，是科研的(de)重要輔助設備。

一、産品應用(yòng)範圍：

1.壓電材料器件科學研究

2.壓電材料的(de)用(yòng)于評定壓電陶瓷片性能優劣

3.壓電材料阻抗分(fēn)析

4.其他(tā)介質材料： 塑料、陶瓷和(hé)其它材料的(de)介電常數和(hé)損耗角評估

磁性材料：鐵氧體、非晶體和(hé)其它磁性材料的(de)導磁率和(hé)損耗角評估

半導體材料：半導體材料的(de)介電常數、導電率和(hé)C-V特性

液晶單元：介電常數、彈性常數等C-V特性

5.  導體材料：半導體材料的(de)介電常數、導電率和(hé)C-V特性

半導體元件：LED驅動集成電路寄生參數測試分(fēn)析；變容二極管的(de)C-VDC特性； 晶體管或集成電路的(de)寄生參數分(fēn)析

二、主要技術參數：

頻(pín)率：10HZ-30MHZ

測試電平：AC: AC電壓:5mV - 2Vrms ,分(fēn)辨率：1mV, DC：±40V，分(fēn)辨率：1mV

測試參數：Cp/Cs、Lp/Ls、Rp/Rs、|Z|、|Y|、R、X、G、B、θ、D、Q、Vac、Iac、Rdc、Vdc、Idc

顯微鏡：630萬像素，偏光(guāng)觀察模式

薄膜平台：30*30MM樣品台,探針連接

×1擋：10到2000pC/N，20 至4000pC/N，可(kě)以升級到10000PC/N.

×0.1擋： 1到200pC/N，2 至400pC/N。

可(kě)以配套PZT-JH10/4/8/12型壓電極化(huà)裝置使用(yòng)

可(kě)以配套ZJ-D33-YP15壓電壓片機使用(yòng)

誤差：×1擋：±2%±1個(gè)數字，當d33在100到4000pC/N；

計量标定标準樣尺寸：18mm*0.8mm，老化(huà)時(shí)間：2-3年（評判壓電測試儀準确性能的(de)重要依據之一）

提供壓電薄膜标準片：20*20MM

電壓保護：放電保護功能 

±5%±1個(gè)數字，當d33在10到200pC/N；

×0.1擋：±2%±1個(gè)數字，(當d33在10到200pC/N)

±5%±1個(gè)數字，當d33在10到20pC/N。

分(fēn)辨率：   ×1擋：1 pC/N；×0.1擋：0.1 pC/N。

尺寸：施力裝置：Φ110×140mm；儀器本體：240×200×80mm。