描述：JKZC-YDZK03C型超寬頻(pín)率壓電阻抗分(fēn)析儀







關鍵詞：壓電阻抗，壓電陶瓷，壓電材料，自動平衡

JKZC-YDZK03C型超寬頻(pín)率壓電阻抗分(fēn)析儀是用(yòng)于壓電材料測試高(gāo)精度阻抗分(fēn)析儀，主要是主要用(yòng)于鐵電晶體、壓電陶瓷、壓電晶體、超聲波換能器等器件的(de)阻抗分(fēn)析與測試，是對(duì)壓電器件和(hé)設備進行頻(pín)率掃描和(hé)阻抗測量分(fēn)析的(de)*解決方案，可(kě)以快(kuài)捷方便地測試壓電器件的(de)各項參數特性,正反諧振阻抗及壓

JKZC-YDZK03C型超寬頻(pín)率壓電阻抗分(fēn)析儀

關鍵詞：壓電阻抗，壓電陶瓷，壓電材料，自動平衡

JKZC-YDZK03C型超寬頻(pín)率壓電阻抗分(fēn)析儀是用(yòng)于壓電材料測試高(gāo)精度阻抗分(fēn)析儀，主要是主要用(yòng)于鐵電晶體、壓電陶瓷、壓電晶體、超聲波換能器等器件的(de)阻抗分(fēn)析與測試，是對(duì)壓電器件和(hé)設備進行頻(pín)率掃描和(hé)阻抗測量分(fēn)析的(de)*解決方案，可(kě)以快(kuài)捷方便地測試壓電器件的(de)各項參數特性,正反諧振阻抗及壓電材料的(de)電容等相關系數，是一款壓電器件的(de)科學研究重要輔助工具，而且可(kě)以配合壓陶瓷壓電分(fēn)析夾具和(hé)壓電分(fēn)析軟件，可(kě)以測試壓電陶瓷的(de)壓電器件的(de)頻(pín)率響應曲線分(fēn)析等相關參數，可(kě)以配合高(gāo)溫平台進行高(gāo)溫壓電陶瓷的(de)各種性能測試。

一：産品特點：

高(gāo)精度：自動平衡電橋技術的(de)應用(yòng)，得(de)以在10Hz-130MHz頻(pín)率、1mΩ-100M的(de)阻抗範圍内都能達到理(lǐ)想的(de)測量精度，其中最高(gāo)精度達0.08%，遠(yuǎn)遠(yuǎn)高(gāo)于射頻(pín)反射測量法的(de)阻抗分(fēn)析儀、網絡分(fēn)析儀的(de)精度。

高(gāo)速度：最快(kuài)達2.5ms的(de)測試速度

• 高(gāo)分(fēn)辨：10.1英寸電容式觸摸屏，分(fēn)辨率1280*800

• 點測、列表掃描、圖形掃描、等效電路、晶體振蕩器分(fēn)析五種

 測試方式：1601點多(duō)參數列表掃描功能

• 四參數測量： 自動電平控制（ALC）功能

• 4通(tōng)道圖形掃描功能，每通(tōng)道可(kě)顯示4條曲線，通(tōng)道和(hé)曲線有14種分(fēn)屏顯示方式

• 強大(dà)的(de)分(fēn)選：LCR模式10檔分(fēn)選

• 圖形掃描模式每條曲線單獨分(fēn)選，頻(pín)率分(fēn)段掃描并分(fēn)選

• 高(gāo)兼容性：支持SCPI指令集，兼容KEYSIGHT E4990A、E4980A、E4980AL、HP4284A

一、産品應用(yòng)範圍：

1.壓電材料器件科學研究

2.壓電材料的(de)用(yòng)于評定壓電陶瓷片性能優劣

3.壓電材料阻抗分(fēn)析

4.其他(tā)介質材料： 塑料、陶瓷和(hé)其它材料的(de)介電常數和(hé)損耗角評估

磁性材料：鐵氧體、非晶體和(hé)其它磁性材料的(de)導磁率和(hé)損耗角評估

半導體材料：半導體材料的(de)介電常數、導電率和(hé)C-V特性

液晶單元：介電常數、彈性常數等C-V特性

二、主要技術參數：

1.測試頻(pín)率：1KHZ-100MHZ,10HZ-130MHZ多(duō)種可(kě)選

2、基本精度：0.08%

2. 測試電平:DC: 電壓:  ±40V, 分(fēn)辨率：1mV，電流: ±100mA，分(fēn)辨：<40uA

3. 測量參數：|Z|、|Y|、R、X、G、B、θ、D、Q、VAC、IAC，Cp/Cs、Lp/Ls、Rp/Rs、

4、測試電平：AC電壓：5mVrms - 2Vrms，分(fēn)辨率：1mV，AC電流：50uA - 20mArms，分(fēn)辨率：10uA

5.輸出阻抗: 100Ω， ±1% @1kHz

5. 顯示器: 320×240點陣圖形LCD顯示

6. 多(duō)功能參數掃描：測量參數、測試頻(pín)率、AC電壓、AC電流、DC BIAS電壓、DC BIAS電流

7. 接口方式: RS232C，USB HOST、USB DEVICE、LAN等

 8.電壓:AC-220V

9、可(kě)搭配顯微鏡：630萬像素，偏光(guāng)觀察模式

10、可(kě)以搭配薄膜平台：30*30MM樣品台,探針連接

11、可(kě)以配合高(gāo)低溫台進行高(gāo)低溫數據測試

12. 體積：430x210x320MM

13.重量 ：13.8KG