描述：微擾法複介電常數測試系統是采用(yòng)諧振腔微擾法是一種用(yòng)于研究諧振器性能的(de)方法，特别是在微波技術領域有廣泛應用(yòng)。這(zhè)種方法涉及到在諧振腔内部引入微小的(de)擾動，這(zhè)些擾動可(kě)能來(lái)自于腔壁的(de)輕微變形或其他(tā)形式的(de)局部變化(huà)，然後通(tōng)過對(duì)微擾前後場(chǎng)量的(de)對(duì)比和(hé)分(fēn)析，來(lái)估算(suàn)這(zhè)些變化(huà)如何影(yǐng)響諧振腔的(de)諧振頻(pín)率和(hé)其他(tā)相關參數。微波介質材料介電特性的(de)測量，對(duì)于研究材料的(de)微波特性和(hé)制作微波器件，獲得(de)材料的(de)結構信息以促進新材料的(de)研制，以及

WBFJ-1750型微擾法複介電常數測試系統

關鍵詞：諧振腔，微波，介電常數tan

微擾法複介電常數測試系統是采用(yòng)諧振腔微擾法是一種用(yòng)于研究諧振器性能的(de)方法，特别是在微波技術領域有廣泛應用(yòng)。這(zhè)種方法涉及到在諧振腔内部引入微小的(de)擾動，這(zhè)些擾動可(kě)能來(lái)自于腔壁的(de)輕微變形或其他(tā)形式的(de)局部變化(huà)，然後通(tōng)過對(duì)微擾前後場(chǎng)量的(de)對(duì)比和(hé)分(fēn)析，來(lái)估算(suàn)這(zhè)些變化(huà)如何影(yǐng)響諧振腔的(de)諧振頻(pín)率和(hé)其他(tā)相關參數。微波介質材料介電特性的(de)測量，對(duì)于研究材料的(de)微波特性和(hé)制作微波器件，獲得(de)材料的(de)結構信息以促進新材料的(de)研制，以及促進現代技術(吸收材料和(hé)微波遙感)等都有重要意義。這(zhè)是研究新型關鍵材料的(de)重要設備。

一、主要應用(yòng)範圍：

1、主要應用(yòng)于5G材料，例如薄膜等。

2、高(gāo)速數字/微波電路用(yòng)基底材料 ；

3、濾波器和(hé)介電天線用(yòng)低損耗電介質 ；

4、化(huà)學制品； 
      5、薄膜與新材料；半導體材料；電子材料（包括CCL和(hé)PCB）

二、主要特點：

1、全新架構，更高(gāo)精度采用(yòng)了(le)全新的(de)内部架構，具備更加強大(dà)的(de)數據處理(lǐ)能力，響應速度更快(kuài)，能輕松實現4端口S參數測量，差分(fēn)（平衡）測量，時(shí)域測量、帶寬、Q值等一鍵測量。并且其動态範圍高(gāo)達135dB，有著(zhe)極低的(de)相位噪聲，可(kě)以幫助工程師在苛刻的(de)測試場(chǎng)景下(xià)仍獲得(de)準确可(kě)靠的(de)測試結果。

2、電子校準件-讓校準一步到位：頻(pín)率範圍9kHz~40GGHz，能幫助工程師解決使用(yòng)傳統機械校準件耗時(shí)久、誤差大(dà)、操作繁瑣等問題。電子校準件大(dà)幅縮減了(le)校準步驟，減少了(le)連接器的(de)損耗，保證了(le)校準精度，極大(dà)的(de)節省了(le)校準所需時(shí)間，爲多(duō)端口測試和(hé)産線測試提供了(le)極大(dà)便利。

3、開關矩陣-輕松實現多(duō)端口器件測試需求：單台可(kě)将輸出端口擴展至24個(gè)，還(hái)可(kě)繼續疊加。與傳統測量方式相比，使用(yòng)射頻(pín)開關矩陣測量速度大(dà)大(dà)提升，可(kě)以幫助工程師輕松實現矢量網絡分(fēn)析儀和(hé)多(duō)端口被測物(wù)的(de)連接與測試，也(yě)極大(dà)的(de)适配了(le)生産線使用(yòng)場(chǎng)景。

4、脈沖測量功能：内置脈沖調制器和(hé)脈沖發生器應用(yòng)于測試諸如功率晶體管之類的(de)大(dà)功率被測器件，以及需要工作在脈沖模式下(xià)的(de)模塊。連續波激勵所積累的(de)熱(rè)量可(kě)能會損壞被測器件，而使用(yòng)脈沖激勵進行測量可(kě)以安全地對(duì)這(zhè)類器件的(de)特性進行表征，同時(shí)也(yě)支持控制外部脈沖生成器和(hé)調制器，與外部主脈沖保持同步

5、混頻(pín)器測量

6、混頻(pín)器是微波毫米波系統的(de)重要部件，其特性的(de)好壞直接影(yǐng)響設備或儀器的(de)性能。在混頻(pín)器研發生産的(de)各個(gè)階段，都需要對(duì)其性能指标進行測量。

三、主要技術參數：

頻(pín)率範圍：0.1～40.0GHz

測試溫度：室溫～1750℃

複介電常數測試範圍：

r= 1.0～30.0

tan=5.0×10-4～5×10-2

r= 0.5～10

tan = 0.001～1.0

測試誤差：

|r/r|  1.5%  當r=2.0～30.0

|r|  2.0%  r + 0.02   當r=1.05～2

|tan|  15.0% tan + 2.010-4

|r/r|  2.0%

|tan|  15% tan + 5.010-4

樣品尺寸：

圓棒或方棒狀小樣品材料，直徑：1.0～6.0mm，高(gāo)度不低于30mm；（實際尺寸視具體情況而定）