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2024-08-27訪問量
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品牌 | 其他(tā)品牌 | 産地類别 | 國産 |
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應用(yòng)領域 | 電子,冶金,航天,汽車,電氣 |
HTIM-600C型高(gāo)溫電阻率測試儀(提供CNAS計量認證)
關鍵詞:電阻率,體電阻,表面電阻,CNAS
HTIM-600高(gāo)溫電阻率測試儀是一款針對(duì)于材料的(de)測量設備,可(kě)以出具CNAS整體認證的(de)專業材料高(gāo)溫測量設備,該儀器采用(yòng)使用(yòng)方法多(duō)樣化(huà),最大(dà)2000V,最快(kuài)6.4ms的(de)采集系統,實現了(le)是以往産品300倍的(de)抗幹擾功能最快(kuài)6.4ms的(de)高(gāo)速測量,作爲皮安表使用(yòng)進行低電容檢查,最高(gāo)2×10^19 Ω顯示,最小0.1fA分(fēn)辨率标配EXT I/O, RS-232C, GP-IB, USB,自行設計的(de)懸浮式電路,能不受測量環境影(yǐng)響進行穩定測量,并且運用(yòng)在産線中實現高(gāo)速測量。可(kě)實現絕緣材料在高(gāo)溫下(xià)電阻和(hé)電阻率試驗方法标準設計開發,可(kě)以直接測量高(gāo)溫、真空、氣氛條件下(xià)樣品的(de)電阻和(hé)體電阻率、漏電流等随溫度、時(shí)間變化(huà)的(de)曲線,高(gāo)溫絕緣材料電阻率測試儀系統已經在航天航空傳感器領域得(de)到很好的(de)應用(yòng)。
一、主要用(yòng)途:适用(yòng)于新材料評估的(de)特性:
1、用(yòng)于陶瓷元件的(de)絶縁劣化(huà)試驗
2、貼片電容的(de)IR測量
3、MLCC(多(duō)層陶瓷電容器)的(de)絕緣測量
4、光(guāng)伏電池薄膜的(de)絕緣測量
5、噪音(yīn)濾波器的(de)絕緣(高(gāo)阻)測量
6、液晶設備的(de)絕緣測量
7、塗層(塗料)的(de)表面電阻率測量
8、外殼的(de)帶電度的(de)測量
9、二極管的(de)微笑(xiào)洩漏電流測量
10、光(guāng)電耦合器的(de)初級/次級絕緣(高(gāo)電阻)測量
11、打印機墨粉輥軸的(de)絕緣測量
12、用(yòng)于針對(duì)半導體廠家的(de)絕緣密封件的(de)評估試驗
13、用(yòng)于組裝在貼片機、分(fēn)選機、自動化(huà)設備中
一、産品特點:
1、多(duō)種使用(yòng)方法的(de)超絕緣計,提供CNAS計量合格證書(shū)
2、能夠作爲IR表、靜電計等高(gāo)電阻計,以及作爲皮安表這(zhè)種微小電流計來(lái)使用(yòng),使用(yòng)方法非常豐富的(de)測量儀器。
2、能不受測量環境影(yǐng)響進行穩定測量,并且運用(yòng)在産線中實現高(gāo)速測量2000V輸出
3、偏差1/60,抗噪音(yīn)性能300倍, 通(tōng)過全新的(de)SM懸浮式電路和(hé)三軸連接器的(de)組合,大(dà)幅提高(gāo)抗噪音(yīn)性能。
4、輸出電壓從最小0.1V到最大(dà)1000V,能夠以0.1V爲單位任意設置
5、最快(kuài)6.4ms的(de)高(gāo)速檢查, 高(gāo)速檢查和(hé)最大(dà)50mA的(de)預充電功能的(de)組合可(kě)以實現高(gāo)産量的(de)MLCC檢查。
5、高(gāo)溫爐膛,耐高(gāo)溫、抗氧化(huà)的(de)測試夾具,提供CNAS計量合格證書(shū)
二、主要技術參數:
1、體積電阻率和(hé)表面電阻率測試範圍10的(de)4次方Ω.cm~10的(de)15次方Ω.cm;
2、測試電壓:10V、50V、100V、250V、500V、1000V
3、電極材質:600℃不氧化(huà),三電極尺寸爲25mm(被保護電極直徑)、38mm(保護電極内徑)、50mm(保護電極外徑),樣品厚度在3mm以内;
3、測量精度:①電阻≤1010Ω時(shí),精度±5%;電阻>1010Ω時(shí),精度±10%;②電壓<100V時(shí),精度±5%,電壓≥100V時(shí),精度±2%;
2、溫度範圍;室溫~600℃;
3、控溫精度:溫度≤300℃,精度±1℃,溫度>300℃,精度±2℃;控溫設備需有測溫口;(能夠通(tōng)過計量CNAS認證)
4、測試軟件:①可(kě)設置連續升溫測試,得(de)到不同溫度下(xià)體積電阻率、表面電阻率具體值,直接得(de)到體積電阻率-溫度曲線、表面電阻率-溫度曲線;
5、溫度精度:可(kě)設置在某一具體溫度點測試,得(de)到體積電阻率、表面電阻率在不同時(shí)間點的(de)具體值,直接得(de)到體積電阻率-時(shí)間曲線、表面電阻率-時(shí)間曲線;
5、電腦(nǎo)要求:windows10 系統,内存16G以上,CPU四核;
6、升溫速率0℃/min~ 10℃/min(不做(zuò)計量要求);
7、能通(tōng)氮氣,測試時(shí)在高(gāo)溫和(hé)氮氣環境下(xià)測試;
9、符合GB/T31838、GB/T10581、GB/T1410标準;
10、排氣口有過濾裝置;
11、降溫要求:600℃降到室溫在1h以内((不做(zuò)計量要求);
12、控溫設備的(de)溫度精度和(hé)高(gāo)阻計精度,具體要求爲:①控溫設備溫度精度計量:需廠家找的(de)第三方計量單位(CNAS認證)到公司現場(chǎng)計量,溫度計量點至少包括125℃、200℃、300℃、500℃、600℃;②高(gāo)阻計電阻計量:廠家提供第三方計量報告(CNAS認證),電阻計量點至少包括104Ω、107Ω、1010Ω、1013Ω、1015Ω;③高(gāo)阻計電壓計量:廠家提供第三方計量報告
高(gāo)溫絕緣電阻率運用(yòng)三電極法設計原理(lǐ)測量。該儀器設計符合《GB/T 10518-2006絕緣材料在高(gāo)溫下(xià)電阻和(hé)電阻率試驗方法》标準設計開發。利用(yòng)三電極測試系統,重複性與穩定性比較好,提升了(le)夾具的(de)抗幹擾能力,同時(shí)大(dà)大(dà)提升精度,也(yě)可(kě)應用(yòng)于産品檢測以及新材料電學性能研究等用(yòng)途。
★減弱電網諧波對(duì)采集精度的(de)影(yǐng)響
在超高(gāo)阻、弱信号測量過程中、輸入偏置電流和(hé)洩漏電流都會引起測量誤差。同時(shí)電網中大(dà)量使用(yòng)變頻(pín)器等高(gāo)頻(pín)、高(gāo)功率設備,将對(duì)電網造成諧波幹擾。以緻影(yǐng)響弱信号的(de)采集,推出的(de)抗幹擾模塊以及采用(yòng)特殊參數分(fēn)析技術,實現了(le)高(gāo)達1fA(10^-15 A)的(de)測量分(fēn)辨率。
★減弱不規則輸入的(de)自動平均值功能、數據處理(lǐ)及内部屏蔽
自動平均值是檢測電流的(de)變化(huà),并自動将其進行平均化(huà)的(de)功能, 在查看測量結果的(de)同時(shí)不需要改變設置。通(tōng)過自動排除充電電流的(de)過渡響應時(shí)或接觸不穩定導緻偏差較大(dà)。電流輸入端口采用(yòng)大(dà)口徑三軸連接器,是将内部屏蔽連接至GUARD(COM)線,外部屏蔽連接至GROUND的(de)3層同軸設計。兼顧抗幹擾的(de)穩定性和(hé)高(gāo)壓檢查時(shí)的(de)安全性。
具備彈性的(de)自定義功能,可(kě)進行電壓、電流、溫度、時(shí)間等設置,符合絕緣材料與其它新材料測試多(duō)樣化(huà)的(de)需求。
表面電阻和(hé)體電阻測試
保持溫度和(hé)階梯溫度
2000V電壓阻值表