HTIM-600高(gāo)溫電阻率測試儀是一款針對(duì)于材料的(de)測量設備，可(kě)以出具CNAS整體認證的(de)專業材料高(gāo)溫測量設備，該儀器采用(yòng)使用(yòng)方法多(duō)樣化(huà)，最大(dà)2000V，最快(kuài)6.4ms的(de)采集系統，實現了(le)是以往産品300倍的(de)抗幹擾功能最快(kuài)6.4ms的(de)高(gāo)速測量，作爲皮安表使用(yòng)進行低電容檢查，最高(gāo)2×10^19 Ω顯示，最小0.1fA分(fēn)辨率标配EXT I/O, RS-232C, GP-IB, USB，自行設計的(de)懸浮式電路，

HTIM-3高(gāo)低溫材料電阻率測試儀主要用(yòng)于半導體材料導電性能的(de)評估和(hé)測試，該系統采用(yòng)四線電阻法測量原理(lǐ)進行設計開發，可(kě)以在高(gāo)溫、真空氣氛的(de)條件下(xià)測量半導體材料電阻和(hé)電阻率，可(kě)以分(fēn)析被測樣品電阻和(hé)電阻率随溫度、時(shí)間變化(huà)的(de)曲線。目前主要針對(duì)圓片、方塊、長(cháng)條等測試樣品進行測試，可(kě)以廣泛用(yòng)于半導體材料矽（si）、鍺（ge）,化(huà)合物(wù)半導體材料砷化(huà)镓(GaAs)、銻化(huà)铟（InSb），三元化(huà)合物(wù)半導體GaAsA

HTRS-1000型高(gāo)溫半導體材料電阻率測試儀主要用(yòng)于半導體材料導電性能的(de)評估和(hé)測試，該系統采用(yòng)四線電阻法測量原理(lǐ)進行設計開發，可(kě)以在高(gāo)溫、真空氣氛的(de)條件下(xià)測量半導體材料電阻和(hé)電阻率，可(kě)以分(fēn)析被測樣品電阻和(hé)電阻率随溫度、時(shí)間變化(huà)的(de)曲線。目前主要針對(duì)圓片、方塊、長(cháng)條等測試樣品進行測試，可(kě)以廣泛用(yòng)于半導體材料矽（si）、鍺（ge）,化(huà)合物(wù)半導體材料砷化(huà)镓（GaAs）、銻化(huà)铟（InSb），三元化(huà)合物(wù)半導