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TFVT-1000型薄膜變溫電阻測試儀一款兼具薄膜和(hé)塊體(可(kě)擴展)的(de)測試各種薄膜材料在高(gāo)溫、真空、氣氛條件下(xià)的(de)電阻和(hé)電阻率,可(kě)以用(yòng)來(lái)分(fēn)析樣品的(de)電阻率随溫度變化(huà)曲線、電阻溫阻系數、樣品相變溫度點。而且可(kě)廣泛用(yòng)于光(guāng)電、鐵電、熱(rè)電等各種導電材料的(de)電阻率測量。是目前科研和(hé)生産的(de)重要材料測量設備。
四通(tōng)道同屏對(duì)比測試高(gāo)溫介電溫譜測量系統運用(yòng)三電極法設計原理(lǐ)測量,并參考美(měi)國 A.S.T.M 标準。采用(yòng)Labview系統開發具備彈性的(de)自定義功能,可(kě)進行介電溫譜、頻(pín)譜、升溫速度、測量參數等設置,符合壓電陶瓷與其它新材料測試多(duō)樣化(huà)的(de)需求。
GWST-1000型高(gāo)溫四探針綜合測試系統(包含薄膜,塊體功能)是爲了(le)更方便的(de)研究在高(gāo)溫條件下(xià)的(de)半導體的(de)導電性能,該系統可(kě)以*實現在高(gāo)溫、真空及惰性氣氛條件下(xià)測量矽、鍺單晶(棒料、晶片)電阻率和(hé)外延層、擴散層和(hé)離子層的(de)方塊電阻及測量其他(tā)方塊電阻。