描述：SCD-1500型半導體C-V特性分(fēn)析儀創新性地采用(yòng)了(le)雙CPU架構、Linux底層系統、10.1英寸電容式觸摸屏、中英文操作界面、内置使用(yòng)說明(míng)及幫助等新一代技術，适用(yòng)于生産線快(kuài)速分(fēn)選、自動化(huà)集成測試及滿足實驗室研發及分(fēn)析。半導體C-V特性分(fēn)析儀測試頻(pín)率爲10kHz-2MHz，VGS電壓可(kě)達±40V，足以滿足二極管、三極管、MOS管及IGBT等半導體件CV特性測試分(fēn)析。

SCD-1500型半導體C-V特性分(fēn)析儀

關鍵詞：半導體，C-V特性，集成電路

SCD-1500型半導體C-V特性分(fēn)析儀創新性地采用(yòng)了(le)雙CPU架構、Linux底層系統、10.1英寸電容式觸摸屏、中英文操作界面、内置使用(yòng)說明(míng)及幫助等新一代技術，适用(yòng)于生産線快(kuài)速分(fēn)選、自動化(huà)集成測試及滿足實驗室研發及分(fēn)析。半導體C-V特性分(fēn)析儀測試頻(pín)率爲10kHz-2MHz，VGS電壓可(kě)達±40V，足以滿足二極管、三極管、MOS管及IGBT等半導體件CV特性測試分(fēn)析。

一、主要應用(yòng)範圍：

半導體元件/功率元件
二極管、三極管、MOSFET、IGBT、晶閘管、集成電路、光(guāng)電子芯片等寄生電容測試、C-V特性分(fēn)析

半導體材料
晶圓、C-V特性分(fēn)析

液晶材料
彈性常數分(fēn)析

二、性能特點：

通(tōng)道：2（可(kě)擴展至6）

高(gāo)偏置：VGS：0 - ±40V，VDS：0–200V,1500V,3000V

雙CPU架構，最短積分(fēn)時(shí)間0.56ms（1800次/秒）

10.1英寸電容式觸摸屏，分(fēn)辨率1280*800，Linux系統

點測、列表掃描、圖形掃描(選件)三種測試方式

四寄生參數（Ciss、Coss、Crss、Rg）同屏顯示

快(kuài)速導通(tōng)測試Cont

一體化(huà)設計：LCR+高(gāo)壓源+繼電器矩陣

快(kuài)速充電，縮短電容充電時(shí)間，實現快(kuài)速測試

自動延時(shí)設置

10檔分(fēn)選

三、功能特點

A.單點測試，10.1英寸大(dà)屏，四種寄生參數同屏顯示，讓細節一覽無遺

10.1英寸觸摸屏、1280*800分(fēn)辨率，Linux系統、中英文操作界面，支持鍵盤、鼠标、LAN接口，帶來(lái)了(le)無以倫比的(de)操作便捷性。

MOSFET最重要的(de)四個(gè)寄生參數：Ciss、Coss、Crss、Rg在同一個(gè)界面直接顯示測量結果，并将四個(gè)參數測試等效電路圖同時(shí)顯示，一目了(le)然。

多(duō)至6個(gè)通(tōng)道測量參數可(kě)快(kuài)速調用(yòng)，分(fēn)選結果在同一界面直接顯示。

B.列表測試，靈活組合

SCD-1500型半導體C-V特性分(fēn)析儀支持最多(duō)6個(gè)通(tōng)道、4個(gè)測量參數的(de)測試及分(fēn)析，列表掃描模式支持不同通(tōng)道、不同參數、不同測量條件任意組合，并可(kě)設置極限範圍，并顯示測量結果 。

C.曲線掃描功能（選件）

SCD-1500型半導體C-V特性分(fēn)析儀支持C-V特性曲線分(fēn)析，可(kě)以對(duì)數、線性兩種方式實現曲線掃描，可(kě)同時(shí)顯示多(duō)條曲線：同一參數、不同Vg的(de)多(duō)條曲線；同一Vg、不同參數多(duō)條曲線 。

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C.曲線掃描功能（選件）

SCD-1500型半導體C-V特性分(fēn)析儀支持C-V特性曲線分(fēn)析，可(kě)以對(duì)數、線性兩種方式實現曲線掃描，可(kě)同時(shí)顯示多(duō)條曲線：同一參數、不同Vg的(de)多(duō)條曲線；同一Vg、不同參數多(duō)條曲線 。

D.簡單快(kuài)捷設置

E.10檔分(fēn)選及可(kě)編程HANDLER接口

儀器提供了(le)10檔分(fēn)選，爲客戶産品質量分(fēn)級提供了(le)可(kě)能，分(fēn)選結果直接輸出至HANDLER接口。

在與自動化(huà)設備連接時(shí)，怎麽配置HANDLER接口輸出，一直是自動化(huà)客戶的(de)難題，TH510系列将HANDLER接口腳位、輸入輸出方式、對(duì)應信号、應答(dá)方式等可(kě)視化(huà)，讓自動化(huà)連接更簡單。

F.支持定制化(huà)，智能固件升級方式

SCD-1500型半導體C-V特性分(fēn)析儀客戶而言是開放的(de)，儀器所有接口、指令集均爲開放設計，客戶可(kě)自行編程集成或進行功能定制，定制功能若無硬件更改，可(kě)直接通(tōng)過固件升級方式更新。

儀器本身功能完善、BUG解決、功能升級等，都可(kě)以通(tōng)過升級固件(Firmware)來(lái)進行更新，而無需返廠進行。

固件升級非常智能，可(kě)以通(tōng)過系統設置界面或者文件管理(lǐ)界面進行，智能搜索儀器内存、外接優盤甚至是局域網内升級包，并自動進行升級

G.半導體元件寄生電容知識

在高(gāo)頻(pín)電路中，半導體器件的(de)寄生電容往往會影(yǐng)響半導體的(de)動态特性，所以在設計半導體元件時(shí)需要考慮下(xià)列因數在高(gāo)頻(pín)電路設計中往往需要考慮二極管結電容帶來(lái)的(de)影(yǐng)響；MOS管的(de)寄生電容會影(yǐng)響管子的(de)動作時(shí)間、驅動能力和(hé)開關損耗等多(duō)方面特性；寄生電容的(de)電壓依賴性在電路設計中也(yě)是至關重要，以MOSFET爲例。

技術參數

1、通(tōng)道：2通(tōng)道（可(kě)擴展6通(tōng)道）

2、顯示：液晶顯示，觸摸屏

3、 測量參數：C、L、X、B、R、G、D、Q、ESR、Rp、θ、|Z|、|Y|

4、測試頻(pín)率：10kHz-2MHz

5、 精度：0.01%

6、分(fēn)辨率：10mHz  1.00000kHz-9.99999kHz

7、電壓範圍：5mVrms-2Vrms

8、精度：±（10%×設定值+2mV）

9、 VGS電壓： ±40V，準确度：1%×設定電壓+8Mv,分(fēn)辨率;1mV(0V-±10V)

10、 VDS電壓：0 - 200V

11、精度：1%×設定電壓+100mV

12、 1%×設定電壓+100mV

13、輸出阻抗：100Ω，±2%@1kHz

14、軟件：C-V特性曲線分(fēn)析，對(duì)數、線性兩種方式實現曲線掃描