描述：GWJDN-150型高(gāo)低溫高(gāo)溫介電溫譜儀中的(de)測試夾具依據國際标準ASTM D150方法設計，采用(yòng)平行闆電極原理(lǐ)，測試電極由上下(xià)電極+保護電極組成。上下(xià)電有良好的(de)同心度和(hé)平行度，保護電極可(kě)減少周圍空氣電容的(de)影(yǐng)響，使得(de)測試數據更加準确可(kě)靠。

2.介電溫譜儀可(kě)測量陶瓷、薄膜、半導體等塊狀材料，可(kě)與WK6500系列、Agilent/keysight E4990A、同惠TH28系列阻抗分(fēn)析儀集成使用(yòng)，組成

GWJDN-150型高(gāo)低溫高(gāo)溫介電溫譜儀

關鍵詞：高(gāo)溫介電，溫譜，平行闆電極原理(lǐ)

GWJDN-150型高(gāo)低溫高(gāo)溫介電溫譜儀中的(de)測試夾具依據國際标準ASTM D150方法設計，采用(yòng)平行闆電極原理(lǐ)，測試電極由上下(xià)電極+保護電極組成。上下(xià)電有良好的(de)同心度和(hé)平行度，保護電極可(kě)減少周圍空氣電容的(de)影(yǐng)響，使得(de)測試數據更加準确可(kě)靠。

2.介電溫譜儀可(kě)測量陶瓷、薄膜、半導體等塊狀材料，可(kě)與WK6500系列、Agilent/keysight E4990A、同惠TH28系列阻抗分(fēn)析儀集成使用(yòng)，組成一套集實驗方案設計、測量、數據輸出、數據分(fēn)析的(de)三琦高(gāo)溫介電溫譜測量系統。可(kě)同時(shí)測量及輸出頻(pín)率譜、電壓譜、偏壓譜、溫度譜的(de)測量數據與圖形。測試頻(pín)率爲DC-30MHz。

系統配置：

（一）、低溫模塊：

1、系統配置參數

系統采用(yòng)模塊化(huà)結構，測試主機、溫控系統、信号采集系統、LCR表模塊四個(gè)分(fēn)系統分(fēn)離，易于系統寬展和(hé)升級。含測試計算(suàn)機1台、信号切換與控制系統1台，低溫儀含四通(tōng)道夾具1台、6L液氮罐1個(gè)，測試軟件1套，

2、性能指标參數

（1）溫度區(qū)間：低溫系統-185℃~260℃；

（2）溫度精度：±0.5 ℃

（3）升溫速率：1℃/min~10℃/min；

（4）四通(tōng)道測試夾具：低溫夾具爲融石英與铍銅鍍金探針複合結構夾具，探針壓力150g，探針直徑小于3mm，探針彈簧行程大(dà)于4mm，保證長(cháng)期測試穩定性；

（5）系統屏蔽：輸入端口采用(yòng)四個(gè)BNC端口；輸出端口采用(yòng)10個(gè)SMA輸出端口，需采用(yòng)SMA接頭以提高(gāo)高(gāo)頻(pín)測試穩定性（頻(pín)率大(dà)于1MHz時(shí)）；四通(tōng)道切換主闆采用(yòng)預埋屏蔽層設計，連接線材采用(yòng)射頻(pín)同軸線，保證低頻(pín)與高(gāo)頻(pín)測試精度和(hé)穩定性；

（6）測試頻(pín)率範圍：阻抗測試範圍20Hz-10MHz, LCR測試範圍20Hz-2MHz（請依據系統中匹配的(de)阻抗分(fēn)析儀或LCR表）

（7）測試頻(pín)率數量：1~8個(gè)

（8）測試樣品個(gè)數：4個(gè)

（9）測試樣品直徑：1.5 mm~20mm

（10）測試樣品厚度：0.02 mm~4mm

（11）測試液氮用(yòng)量：一次測試液氮使用(yòng)小于1L；

（12）變溫介電頻(pín)譜測試功能；變溫阻抗測試功能；掃頻(pín)測試功能。

（13）軟件：采用(yòng)C#語言編寫，可(kě)視化(huà)程度高(gāo)，自動測試。同時(shí)顯示四通(tōng)道的(de)測試數據，并圖形化(huà)。

（二）、高(gāo)溫模塊：

1、系統配置參數

系統采用(yòng)模塊化(huà)結構，測試主機、溫控系統、信号采集系統、LCR表模塊四個(gè)分(fēn)系統分(fēn)離，易于系統寬展和(hé)升級。含測試信号切換與控制系統1台，高(gāo)溫儀含四通(tōng)道測試夾具1台，測試軟件1套。

2、性能指标參數

（1）溫度區(qū)間：室溫~1000℃；

（2）溫度精度：±0.5 ℃

（3）升溫速率：1℃/min~10℃/min；

（4）四通(tōng)道測試夾具：高(gāo)溫夾具爲融石英與探針複合夾具。其中探針爲氧化(huà)鋁與鉑金複合結構，芯層爲鉑金，絕緣層爲氧化(huà)鋁，屏蔽層爲鉑金并屏蔽至樣品端，探針直徑小于3.5mm。以保證長(cháng)期高(gāo)溫測試穩定性。

（5）系統屏蔽：輸入端口采用(yòng)四個(gè)BNC端口；輸出端口采用(yòng)10個(gè)SMA輸出端口，需采用(yòng)SMA接頭以提高(gāo)高(gāo)頻(pín)測試穩定性（頻(pín)率大(dà)于1MHz時(shí)）；四通(tōng)道切換主闆采用(yòng)預埋屏蔽層設計，連接線材采用(yòng)射頻(pín)同軸線，保證低頻(pín)與高(gāo)頻(pín)測試精度和(hé)穩定性；

（6）測試頻(pín)率範圍：阻抗測試範圍20Hz-10MHz, LCR測試範圍20Hz-2MHz（請依據系統中匹配的(de)阻抗分(fēn)析儀或LCR表）

（7）測試頻(pín)率數量：1~8個(gè)

（8）測試樣品個(gè)數：4個(gè)

（9）測試樣品直徑：1.5 mm~20mm

（10）測試樣品厚度：0.02 mm~4mm

（11）變溫介電頻(pín)譜測試功能；變溫阻抗測試功能；掃頻(pín)測試功能。

（12）軟件：采用(yòng)C#語言編寫，可(kě)視化(huà)程度高(gāo)，自動測試。同時(shí)顯示四通(tōng)道的(de)測試數據，并圖形化(huà)。