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型号:GWJDN-1000
高(gāo)溫材料測試I高(gāo)溫介電測試儀I介電溫譜儀

描述:GWJDN-1000型高(gāo)溫介電測量系統高(gāo)溫介電測量系統應用(yòng)于高(gāo)溫環境下(xià)材料、器件的(de)導電、介電特性測量與分(fēn)析,可(kě)以測量帶電極和(hé)不帶電極的(de)樣品,通(tōng)過配置不同的(de)測試設備,完成不同參數的(de)測試。是新一代高(gāo)溫介電測試系統,科研測試裝置,是國家科研院所和(hé)高(gāo)等學府的(de)設備。

  • 廠商性質

    生産廠家
  • 更新時(shí)間

    2024-09-02
  • 訪問量

    153
詳細介紹
品牌ACE/美(měi)國産地類别國産
應用(yòng)領域能源,電子,冶金,航天,電氣

            高(gāo)溫材料測試I高(gāo)溫介電測試儀I介電溫譜儀


GWJDN-1000型高(gāo)溫介電測量系統高(gāo)溫介電測量系統應用(yòng)于高(gāo)溫環境下(xià)材料、器件的(de)導電、介電特性測量與分(fēn)析,可(kě)以測量帶電極和(hé)不帶電極的(de)樣品,通(tōng)過配置不同的(de)測試設備,完成不同參數的(de)測試。是新一代高(gāo)溫介電測試系統,科研測試裝置,是國家科研院所和(hé)高(gāo)等學府的(de)設備。高(gāo)溫材料測試I高(gāo)溫介電測試儀I介電溫譜儀


GWJDN-1000型高(gāo)溫介電測量系統高(gāo)溫介電測量系統應用(yòng)于高(gāo)溫環境下(xià)材料、器件的(de)導電、介電特性測量與分(fēn)析,可(kě)以測量帶電極和(hé)不帶電極的(de)樣品,通(tōng)過配置不同的(de)測試設備,完成不同參數的(de)測試。是新一代高(gāo)溫介電測試系統,科研測試裝置,是國家科研院所和(hé)高(gāo)等學府的(de)設備。   

一、主要技術參數:

1、溫度範圍: -190-1000

2、測溫精度: 0.1

3.升溫速度: 120/min

4、控溫模式: 程序控制,提供常溫、變溫、恒溫、升溫、降溫等多(duō)種組合方式

5、通(tōng)訊接口: RS-485

8、電極材質: 鉑銥合金

9、上電極: 直徑1.6mm球頭電極,引線帶同軸屏蔽層

10、下(xià)電極:直徑26.8mm平面電極,引線帶同軸屏蔽層

11、保護電極:  帶保護電極,消除寄生電容、邊界電容對(duì)測試的(de)影(yǐng)響

12、電極幹擾屏蔽:電極引線帶同軸屏蔽,樣品平台帶屏蔽罩

13、夾具升降控制: 帶程序和(hé)手動控制,可(kě)更換夾具的(de)電動升降裝置

14、熱(rè)電偶 :熱(rè)電偶探頭與樣品平台爲同一熱(rè)沉,測控溫度與樣品溫度保持一緻

15、無電極樣品尺寸:直徑小于40mm,厚度小于8mm

16、帶電極樣品尺寸: 直徑小于26mm,厚度小于8mm

17、軟件功能:自動分(fēn)析數據,可(kě)以分(fēn)類保存,樣品和(hé)測量方案結合在一起,生成系統所需的(de)實驗方案,輸出TXTXLSBMP等格式文件

18、測量方案:提供靈活、豐富的(de)測試設置功能,包括頻(pín)率譜、阻抗譜、介電譜及其組合

19、标準極化(huà)樣品:8片(10mm*1.5mm

20、配套設備裝置:能夠配合ZJ-3和(hé)ZJ-6壓電測試儀進行測量

21、配套設備裝置:可(kě)以配置10MM20MM30MM40MM壓片夾具

23、測試頻(pín)率:20HZ-50MHZ

24、測試電平:100mV2V

25、分(fēn)辨率:1MHZ

26、輸出阻抗:  100Ω

27、測試參數:Cp/CsLp/LsRp/Rs|Z||Y|RXGB、θ、DQVacIacRdcVdcIdc

28、基本準确度: 0.05%

29、顯示:液晶顯示

30、參數測量:多(duō)功能圖形和(hé)參數測量

31、接口方式: RS232CHANDLER


 二、主要測量參數功能:


1、測量以下(xià)參數随溫度(T)、頻(pín)率(f)、電平(V)、偏壓(Vi)的(de)變化(huà)規律:

2、測量電容(C)、電感(L)、電阻(R)、電抗(X)、阻抗(Z)、相位角(¢)、電導(G)、電納(B)、導納(Y)、損耗因子(D)、品質因素(Q)等參數,

3、同時(shí)計算(suàn)獲得(de)反應材料導電、介電性能的(de)複介電常數(εr)和(hé)介質損耗(D)參數。

4、可(kě)測試低溫環境下(xià)材料、器件的(de)介電性能

5、可(kě)以根據用(yòng)戶需求,定制開發居裏溫度點Tc、機電耦合系數Kp、機械品質因素Qm及磁導率μ等參數的(de)測量與分(fēn)析。






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