JKZC-UC系列高(gāo)低溫探針台是一款在非真空條件下(xià)實現低溫環境的(de)測試探針台。該産品釆用(yòng)液氮或者空氣壓縮機制冷(lěng) ,自動控溫，設備配置非常豐富。自帶屏蔽暗室，一方面可(kě)以屏蔽無線電磁幹擾，另外一方面也(yě)可(kě)以保持氮氣正壓環境下(xià)樣品在低溫時(shí)無結霜。此設備對(duì)于一些有溫度需求的(de)測試，尤其是低溫，運用(yòng)非常廣泛。

JKZC-DSH系列探針台是我司自主研發的(de)一款雙面探針台，最大(dà)可(kě)完成12英寸晶圓的(de)正反面點針測試。在具備常 規探針台的(de)功能基礎上,可(kě)用(yòng)于晶圓和(hé)PCB闆的(de)測試，對(duì)晶圓或者PCB闆正面和(hé)背面同時(shí)紮針以實現各種 光(guāng)/電性能測試需求的(de)測試，或背面點針，正面收集光(guāng)線等,運用(yòng)十分(fēn)豐富。該定制探針台具有優良的(de)機械系統，穩定的(de)結構，符合人(rén)體工程學，以及多(duō)項升級功能。

JKZC-DM系列探針台是我司一款基于高(gāo)校教育與實驗室而研發的(de)基礎型晶圓測試探針台。其結構緊湊，設計精密，價格實惠，配置靈活，高(gāo)性價比。在高(gāo)等院校教學和(hé)小型實驗室科研過程中得(de)到了(le)廣泛運用(yòng)，配合對(duì)應的(de)儀器儀表，用(yòng)于測試各類器件的(de)IV、CV、l-t、V-t,光(guāng)電信号，1/f噪聲測試，器件表征測試，RF射頻(pín)等。如 果您的(de)測試器件pad電極大(dà)于50um,此系列探針台。

GDWT-480型全自動型高(gāo)低溫真空探針台主要應用(yòng)于I-V/C-V，PIV測試,傳感器，半導體，光(guāng)電，集成電路以及封裝的(de)測試。 廣泛應用(yòng)于複雜(zá)、高(gāo)速器件的(de)精密電子樣品測量的(de)研發，旨在确保質量及可(kě)靠性，并縮減研發時(shí)間和(hé)器件制造工藝的(de)成本，可(kě)以配合Keithley,Tektronix等國内外各種源表對(duì)材料進行測試，可(kě)以做(zuò)材料的(de)介電，鐵電等測試,是目前高(gāo)等院校和(hé)研究所及材料生産單位的(de)重要輔助設備。