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目前常規的(de)方法是通(tōng)過電滞回線計算(suàn)高(gāo)壓下(xià)電介質的(de)能量密度,測試時(shí),樣品的(de)電荷是放回到高(gāo)壓源上,而不是釋放到負載上,通(tōng)過電滞回線測得(de)的(de)儲能密度一般會大(dà)于樣品實際釋放的(de)能量密度,無法正确評估電介質材料的(de)正常放電性能。DCD-100儲能型電介質充放電測試系統專爲研究儲能電介質材料快(kuài)速充放電性能而設計,适用(yòng)陶瓷、薄膜材料,可(kě)進行變溫下(xià)的(de)欠、過阻尼充放電測試。是目前研究儲能材料的(de)重要科研設備,是目前高(gāo)等院校和(hé)