當前位置:首頁  >  産品中心  >  材料電學性能測試儀  >  鐵電材料測試儀
  • 2024新推出DHM型動态雙電測功能鐵電測試儀
    2024新推出DHM型動态雙電測功能鐵電測試儀

    2024新推出DHM型動态雙電測功能鐵電測試儀 擴展型鐵電性能測試儀是一款高(gāo)量程款的(de)鐵電性能材料測試裝置,這(zhè)款設備可(kě)以适用(yòng)于鐵電薄膜、鐵電體材料(既可(kě)塊體材料)的(de)電性能測量,可(kě)測量鐵電薄膜電滞回線、可(kě)測出具有非對(duì)稱電滞回線鐵電薄膜值。設備可(kě)以擴展高(gāo)溫電阻,高(gāo)溫介電,電容-電壓曲線,TSC/TSDC等功能。本儀器是從事壓電材料及壓電元件生産、應用(yòng)與研究部門的(de)重要設備之一,已經在各大(dà)高(gāo)校和(hé)科研院所廣泛

    更新時(shí)間:2024-08-27型号:浏覽量:410
    查看詳情
  • 材料表征測試鐵電測試儀DHM
    材料表征測試鐵電測試儀DHM

    TDZT-04C鐵電性能綜合測試系統是最新一代鐵電材料參數測試儀适用(yòng)于鐵電薄膜、鐵電體材料(既可(kě)塊體材料)的(de)電性能測量,可(kě)測量鐵電薄膜電滞回線、I—V特性及開關特性,可(kě)精确地測出具有非對(duì)稱電滞回線鐵電薄膜的(de)Pr值。可(kě)測鐵電體材料的(de)電滞回線及I—V特性。 一、産品介紹: TDZT-04C 型鐵電性能綜合測試系統是最新一代鐵電材料參數測試儀适用(yòng)于鐵電薄膜、鐵電體材料(既可(kě)塊體材料)的(de)電性能測量,可(kě)

    更新時(shí)間:2024-08-27型号:浏覽量:436
    查看詳情
  • 無極變速 FTTD-5000B型變溫鐵電測試儀
    無極變速 FTTD-5000B型變溫鐵電測試儀

    FTTD-5000B型變溫鐵電測試儀是一款擴展靈活的(de)變溫鐵電測試系統,也(yě)是一款可(kě)替代德國aixACCT公司生産的(de)TF Analyzer 2000鐵電分(fēn)析儀的(de)國産鐵電材料性能測試設備,可(kě)廣泛地應用(yòng)于如各種鐵電/壓電/熱(rè)釋電薄膜、厚膜、體材料和(hé)電子陶瓷、鐵電傳感器/執行器/存儲器等領域的(de)研究。

    更新時(shí)間:2024-08-27型号:浏覽量:540
    查看詳情
  • TDTF-3000 Analyzer 型擴展型鐵電分(fēn)析儀
    TDTF-3000 Analyzer 型擴展型鐵電分(fēn)析儀

    TDT-3000 Analyzer型擴展型鐵電分(fēn)析儀 是一款的(de)高(gāo)速型模塊化(huà)鐵電壓電分(fēn)析儀,具備鐵電、壓電、熱(rè)釋電材料所有基本特性測試功能,可(kě)與激光(guāng)幹涉儀和(hé)SPM掃描探針顯微鏡等微位移傳感器聯用(yòng),可(kě)廣泛地應用(yòng)于如各種鐵電/壓電/熱(rè)釋電薄膜、厚膜、體材料和(hé)電子陶瓷、鐵電傳感器/執行器/存儲器等領域的(de)研究。 模塊化(huà)設計的(de)TDT-3000型鐵電分(fēn)析儀 具有優異的(de)擴展性,提供高(gāo)達15中測試功能

    更新時(shí)間:2024-08-27型号:浏覽量:575
    查看詳情
  • TF ANALYZER 1000型鐵電測試儀
    TF ANALYZER 1000型鐵電測試儀

    TF ANALYZER 1000是一款緊湊型鐵電壓電分(fēn)析儀,具備鐵電、壓電材料所有基本特性測試功能,可(kě)與激光(guāng)幹涉儀和(hé)SPM掃描探針顯微鏡等微位移傳感器聯用(yòng),适用(yòng)于薄膜、厚膜和(hé)塊狀陶瓷及鐵電器件等分(fēn)析測試。

    更新時(shí)間:2024-08-27型号:浏覽量:796
    查看詳情
  • JKTD-1000鐵電材料特性測試系統(電壓,電流多(duō)功能)
    JKTD-1000鐵電材料特性測試系統(電壓,電流多(duō)功能)

    本測試系統用(yòng)于鐵電體的(de)鐵電性能測量,可(kě)用(yòng)于鐵電體的(de)科學研究及近代物(wù)理(lǐ)實驗中的(de)固體物(wù)理(lǐ)實驗以及工業化(huà)生産鐵電存儲器的(de)鐵電性能檢測中,本測試系統主要由信号源、高(gāo)壓電源、電荷放大(dà)器、積分(fēn)器、示波器、計算(suàn)機通(tōng)訊接口、計算(suàn)機和(hé)應用(yòng)軟件等部分(fēn)組成。 模式測量電路,與傳統的(de) Sawyer-Tawer-模式相比,此電路取消了(le)外接電容,可(kě)減小寄生元件的(de)影(yǐng)響。此電路的(de)測試精度取決于積分(fēn)器積分(fēn)電容的(de)精度,減少了(le)對(duì)測試

    更新時(shí)間:2024-08-27型号:JKTD-1000浏覽量:1126
    查看詳情
共 11 條記錄,當前 1 / 2 頁  首頁  上一頁  下(xià)一頁  末頁  跳轉到第頁