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  • HTIM-1001型高(gāo)溫絕緣電阻率測試儀
    HTIM-1001型高(gāo)溫絕緣電阻率測試儀

    HTIM-1001型高(gāo)溫絕緣電阻率測試儀根據歐姆定律,被測電阻Rx等于施加電壓V除以通(tōng)過的(de)電流I。傳統的(de)高(gāo)阻計的(de)工作原理(lǐ)是測量電壓V固定,通(tōng)過測量流過取樣電阻的(de)電流I來(lái)得(de)到電阻值。從歐姆定律可(kě)以看出,由于電流I是與電阻成反比,而不是成正比,所以電阻的(de)顯示值是非線性的(de),即電阻無窮大(dà)時(shí),電流爲零,即表頭的(de)零位處是∞,其附近的(de)刻度非常密,分(fēn)辨率很低。整個(gè)刻度是非線性的(de)。又由于測量不同的(de)電阻時(shí),其電壓V也(yě)

    更新時(shí)間:2024-09-11型号:HTIM-1001型浏覽量:139
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  • HTRC-800型高(gāo)溫導電材料電阻率測試系統
    HTRC-800型高(gāo)溫導電材料電阻率測試系統

    HTRC-800型高(gāo)溫導電材料電阻率測試系統是一款用(yòng)于測量材料電阻,電導率的(de)專用(yòng)設備,采用(yòng)由四端測量方法測試電阻率系統與高(gāo)溫試驗箱爲一體的(de)專用(yòng)的(de)高(gāo)溫測試系統,滿足半導體及導體材料因溫度變化(huà)對(duì)電阻值變化(huà)的(de) 測量要求,通(tōng)以在高(gāo)溫 、真空、氣氛的(de)條件下(xià)測量導電材料電阻和(hé)電阻率,可(kě)以分(fēn)析被測樣的(de)電阻和(hé)電阻率随溫度、 時(shí)間變化(huà)的(de)曲 線. 目前主要針對(duì)圓片、方塊、長(cháng)條等樣品進行測試,可(kě)以廣泛用(yòng)于碳

    更新時(shí)間:2024-08-27型号:浏覽量:289
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  • RTS-4A型全自動掃描四探針測試系統
    RTS-4A型全自動掃描四探針測試系統

    PRTS-4A全自動掃描四探針測試系統通(tōng)過采用(yòng)四探針雙位組合測量技術,将範德堡測量方法推廣應用(yòng)到直線四探針上。利用(yòng)電流探針和(hé)電壓探針的(de)組合變換,進行兩次電測量,其最後計算(suàn)結果能自動消除由樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和(hé)機械遊移等因素所引起的(de),對(duì)測量結果的(de)不利影(yǐng)響。因而在測試過程中,在滿足基本條件下(xià)可(kě)以不考慮探針間距、樣品尺寸及探針在樣品表面上的(de)位置等因素。這(zhè)種動态地對(duì)以上不利因素的(de)自動修正,

    更新時(shí)間:2024-08-27型号:浏覽量:383
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  • JKZC-YDZK50M型1000℃高(gāo)溫精密阻抗分(fēn)析儀
    JKZC-YDZK50M型1000℃高(gāo)溫精密阻抗分(fēn)析儀

    JKZC-YDZK50M型1000℃高(gāo)溫精密阻抗分(fēn)析儀是一款兼容高(gāo)溫功能的(de)精密阻抗分(fēn)析儀,是一款能夠應用(yòng)于*材料測試的(de)多(duō)功能複合型精密阻抗分(fēn)析儀,該阻抗分(fēn)析儀可(kě)以兼容多(duō)種高(gāo)溫夾具,可(kě)以測試粉末,液體,塊體等多(duō)種不同類型的(de)樣品。常溫下(xià)測試數據豐富,高(gāo)溫下(xià)測試數據穩定,無漂移。是一款兼顧中頻(pín)率的(de)精密阻抗分(fēn)析儀。在陶瓷及*材料生産中和(hé)科研院校廣泛使用(yòng)。

    更新時(shí)間:2024-08-27型号:浏覽量:463
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  • JKZC-HRE01型材料體電阻和(hé)表面超高(gāo)阻測試儀
    JKZC-HRE01型材料體電阻和(hé)表面超高(gāo)阻測試儀

    JKZC-HRE01型絕緣材料體電阻和(hé)表面電阻超高(gāo)阻測試儀是一款即可(kě)測試絕緣材料超高(gāo)阻,又可(kě)以測試微電流的(de)精密測量裝置,用(yòng)了(le)大(dà)規模集成電路,使儀器體積小、重量輕、準确度高(gāo)。能夠直接顯示電阻的(de)高(gāo)阻計和(hé)電流值,量限從0.01×104Ω ~1×1018 Ω,電流測量範圍爲2×10-4 ~1×10-16A。機内測試電壓爲10/50/100/250/500/1000V任意可(kě)調。本儀器具有精度高(gāo)、顯示迅速、性

    更新時(shí)間:2024-08-27型号:浏覽量:521
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