熱(rè)電性能測試儀 COMTESSE (Thermoelectric Measurement) 本系統主要用(yòng)于熱(rè)電性能測試。 包括：熱(rè)導率thermal conductivity, 電導率electrical conductivity, 塞貝克系數Seebeck-Coefficient, Harman ZT等随溫度的(de)變化(huà)。

機電薄膜e31測試儀 aix4PB (Electromechanical thin film e31 analyzer ) 薄膜材料的(de)機電性能是MEMS器件設計的(de)關鍵性能，縱向壓電系數d33和(hé)橫向壓電系數e31被用(yòng)于表征傳感器和(hé)執行器的(de)這(zhè)些關鍵性能。 縱向壓電系數可(kě)由aixDBLI測試，而橫向壓電系數e31就可(kě)用(yòng)aix4PB系統測試。 通(tōng)過必要夾具，可(kě)以測得(de)正向e31和(hé)逆向e31。

高(gāo)溫塊體壓電分(fēn)析儀 aixPES-600/800 本系統主要用(yòng)于高(gāo)溫下(xià)的(de)壓電塊體陶瓷樣品的(de)全面電性能和(hé)機電性能的(de)表征。 壓電測試溫度可(kě)以達到室溫到600℃或室溫到800℃兩種溫度範圍。 大(dà)信号和(hé)小信号材料的(de)特征可(kě)以在一定溫度範圍内表征。樣品上的(de)電流響應測量是通(tōng)過精确的(de)虛拟接地方法衡量電壓激勵信号。樣品的(de)微位移同時(shí)通(tōng)過激光(guāng)幹涉儀進行測量。

多(duō)鐵材料磁電磁阻測試儀 aixPES-MR (MagnetoResistive Measurement) 本系統主要用(yòng)于研究磁阻和(hé)鐵性材料。 本系統提供連續電流激勵和(hé)測試，樣品上的(de)電壓降通(tōng)過高(gāo)精度四點測試。

電卡效應測試儀 ECM (ElectroCaloric Measurement) 本系統除了(le)可(kě)以測試材料的(de)鐵電、壓電、熱(rè)釋電性能外，還(hái)可(kě)以用(yòng)于測試材料在寬溫度範圍内的(de)電卡性能。 電卡測試性能參數： 溫度範圍: -50℃到200℃ 溫度靈敏度: 20mK

低溫塊體壓電分(fēn)析儀 aixPES-Cryo 本系統主要用(yòng)于高(gāo)低溫下(xià)的(de)壓電塊體陶瓷樣品的(de)全面電性能和(hé)機電性能的(de)表征。壓電測試溫度可(kě)以達到-100℃到+600℃。 大(dà)信号和(hé)小信号材料的(de)特征可(kě)以在一定溫度範圍内表征。樣品上的(de)電流響應測量是通(tōng)過精确的(de)虛拟接地方法衡量電壓激勵信号。樣品的(de)微位移同時(shí)通(tōng)過激光(guāng)幹涉儀進行測量。