SWXWY-600型*材料高(gāo)低溫三維顯微應變測量系統系統——光(guāng)學顯微鏡和(hé)DIC數字圖像相關技術的(de)結合，可(kě)以滿足納米級精度測量需求。SWXWY-600型*材料三維顯微應變測量系統系統彌補了(le)傳統設備無法進行微小物(wù)體變形測量的(de)不足，成爲微觀尺度領域變形應變測量的(de)一個(gè)有力工具。該設備對(duì)于*材料各種參數的(de)測量，如：楊氏模量、泊松比、彈塑性，微觀應變等，對(duì)于材料的(de)研究有著(zhe)重要作用(yòng)。

應用(yòng)領域主要有： Ferroelectric/ Multiferroic Tunnel-Junctions (FTJ/MFTJ) 鐵電/多(duō)鐵隧道結 Electro-Chemical Metallization Memory (ECM) 電化(huà)反應存儲器 Magnetoresistive Tunnel-Junctions (MTJ) 磁阻隧道結 Electronic Effect Memory (EE

aixPES壓電材料綜合表征系統 本系統主要用(yòng)于壓電塊體陶瓷樣品的(de)全面電性能和(hé)機電性能的(de)表征。 大(dà)信号和(hé)小信号材料的(de)特征可(kě)以在一定溫度範圍内表征。樣品上的(de)電流響應測量是通(tōng)過精确的(de)虛拟接地方法衡量電壓激勵信号。樣品的(de)微位移同時(shí)通(tōng)過激光(guāng)幹涉儀進行測量。

本設備主要用(yòng)來(lái)研究電介質材料的(de)自漏電性。 由于測試條件非常接近實際情況，因此通(tōng)過這(zhè)種方式可(kě)容易地測試應用(yòng)于DRAM材料的(de)合适性。 技術說明(míng)：

TF Analyzer 3000鐵電壓電分(fēn)析儀 TF ANALYZER 3000E是一款擴展性的(de)高(gāo)速型模塊化(huà)鐵電壓電分(fēn)析儀，具備鐵電、壓電、熱(rè)釋電材料所有基本特性測試功能，可(kě)與激光(guāng)幹涉儀和(hé)SPM掃描探針顯微鏡等微位移傳感器聯用(yòng)，可(kě)廣泛地應用(yòng)于如各種鐵電/壓電/熱(rè)釋電薄膜、厚膜、體材料和(hé)電子陶瓷、鐵電傳感器/執行器/存儲器等領域的(de)研究。

TF ANALYZER 2000E是一款擴展性的(de)模塊化(huà)鐵電壓電分(fēn)析儀，具備鐵電、壓電、熱(rè)釋電材料所有基本特性測試功能，可(kě)與激光(guāng)幹涉儀和(hé)SPM掃描探針顯微鏡等微位移傳感器聯用(yòng)，可(kě)廣泛地應用(yòng)于如各種鐵電/壓電/熱(rè)釋電薄膜、厚膜、體材料和(hé)電子陶瓷、鐵電傳感器/執行器/存儲器等領域的(de)研究。