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型号:BKTEM-Dx
熱(rè)電材料性能測試儀

描述:BKTEM-Dx熱(rè)電材料性能測試儀
關鍵詞:熱(rè)電,Seebeck系數,電導率,電阻率,n或p型熱(rè)電材料π對(duì)熱(rè)電轉換效
BKTEM-Dx熱(rè)電材料性能測試儀是特别是其對(duì)熱(rè)電材料π對(duì)與器件的(de)熱(rè)電轉換效率測試,用(yòng)于測試、分(fēn)析和(hé)研究兩個(gè)

  • 廠商性質

    生産廠家
  • 更新時(shí)間

    2024-08-26
  • 訪問量

    2722
詳細介紹
品牌Bigdipper/北(běi)鬥星儀器應用(yòng)領域電子,交通(tōng),冶金,航天,電氣

BKTEM-Dx熱(rè)電材料性能測試儀

關鍵詞:熱(rè)電,Seebeck系數,電導率,電阻率,n或p型熱(rè)電材料π對(duì)熱(rè)電轉換效

産品介紹:

 BKTEM-Dx熱(rè)電材料性能測試儀是其對(duì)熱(rè)電材料π對(duì)

與器件的(de)熱(rè)電轉換效率測試,用(yòng)于測試、分(fēn)析和(hé)研究兩個(gè)相同或不相同的(de)

n或p型熱(rè)電材料π對(duì)的(de)熱(rè)電轉換效率對(duì)于熱(rè)電材料的(de)研究,熱(rè)電性能測試是*的(de)試驗數據。BKD-Dx(x=1,2,3)系列可(kě)以地測定半導體材料、金屬材料及其他(tā)熱(rè)電材料(Bi2Te3, PbTe, Skutterudites等)的(de)Seebeck系數及電導率。主要原理(lǐ)和(hé)特點如下(xià):

該裝置由高(gāo)精度,高(gāo)靈敏度溫度可(kě)控的(de)電阻爐和(hé)控制溫度用(yòng)的(de)微型加熱(rè)源構成。通(tōng)過PID程序控溫,采用(yòng)四點法的(de)方式測定半導體材料及熱(rè)電材料的(de)Seebeck系數及電導率、電阻率。試樣與引線的(de)接觸是否正常V-1裝置可(kě)以自動檢出。

一、測試原理(lǐ)

原理(lǐ):(1)通(tōng)過測量派對(duì)或器件開路電壓和(hé)短路電流求得(de)派對(duì)或器件的(de)輸出功率。(2)采用(yòng)合适尺寸的(de)溫差電熱(rè)流量計測量通(tōng)過熱(rè)電派對(duì)或器件的(de)熱(rè)流量,其溫差電熱(rè)流量計的(de)工作原理(lǐ)是:當對(duì)溫差電制冷(lěng)片通(tōng)電時(shí),其一端降溫一端升溫,降溫端朝向熱(rè)電材料的(de)冷(lěng)端,升溫端連接恒溫的(de)冷(lěng)卻水(shuǐ)(恒溫),利用(yòng)經過校準的(de)通(tōng)過熱(rè)量計的(de)高(gāo)低溫端工作溫度--制冷(lěng)量關系方程式求出不同溫度梯度下(xià)流經溫差電熱(rè)流計的(de)熱(rè)流量,即爲通(tōng)過派對(duì)或器件的(de)熱(rè)流。(3)大(dà)輸出功率與通(tōng)過的(de)熱(rè)流相比求得(de)轉換效率。

一、适用(yòng)範圍:

1、碲化(huà)铋類、碲化(huà)鉛類、碲化(huà)鍺類、方钴礦類、電子晶體-聲子玻璃類、納米超晶格類、功能梯度類、Half-Heusler類熱(rè)電材料π對(duì)與器件的(de)熱(rè)電轉換效率測試,用(yòng)于測試、分(fēn)析和(hé)研究兩個(gè)相同或不相同的(de)n或p型熱(rè)電材料π對(duì)的(de)熱(rè)電轉換效率。(國内外*)

2、地測定半導體材料、金屬材料及其他(tā)熱(rè)電(Bi2Te3,PbTe,Skutterudites康銅、鎳、鎢等金屬,Te、Bi2Te3、ZrNiSn、ZnAgSb、NiMoSb、SnTe、FeNbSb、CuGaTe2、GeTe、Ag1-xCuS、Cu2ZnSnSe4等)的(de)Seebeck系數及電導率、電阻率。

3、試樣與引線的(de)接觸是否正常V-1裝置可(kě)以自動檢出。

4、擁有自身分(fēn)析軟件,獨立分(fēn)析,過程自動控制,界面友好。

二、技術特點:

·解決高(gāo)溫下(xià)溫控精度不準的(de)問題,靜态法測量更加直觀的(de)了(le)解産品熱(rè)電材料的(de)真正表征物(wù)理(lǐ)屬性。

·熱(rè)電材料π對(duì)與器件的(de)熱(rè)電轉換效率測試,用(yòng)于測試、分(fēn)析和(hé)研究兩個(gè)相同或不相同的(de)np型熱(rè)電材料π對(duì)的(de)熱(rè)電轉換效率。

  • 溫度檢測可(kě)采用(yòng)J、K型熱(rè)電偶,降低測試成本。
    •  
  • 每次可(kě)測試1-3個(gè)樣品.
  • 采用(yòng)高(gāo)級數據采集技術,避免電路闆數據采集技術帶來(lái)的(de)幹擾誤差,可(kě)控溫場(chǎng)下(xià)同步測量賽貝克系數和(hé)電阻率。
  • 具備真空和(hé)Ar氣保護兩種工況選項。

四、主要技術參數:

 

BKTEM-D1

BKTEM-D2

BKTEM-D3

測量溫度

室溫-600℃

室溫-600℃

室溫-600℃

同時(shí)測試樣品數量

1個(gè)

2個(gè)

3個(gè)

控溫精度

0.5K(溫度波動:≤±0.1℃)

熱(rè)流量測量

采用(yòng)溫差電熱(rè)流計測量流經試樣卻沒有被轉換的(de)熱(rè)流

測量原理(lǐ)

塞貝克系數:靜态直流電;電阻系數:四端法

測量範圍

塞貝克系數:0.5μV/K_25V/K;電阻系數:0.2Ohm-2.5KOhm

分(fēn)辨率

塞貝克系數:10nV/K;電阻系數: 10nOhm

測量精度

塞貝克系數:<±6%;電阻系數:<±5%

樣品尺寸

方條形:2-3×2-3 mm×10-23mm長(cháng)

熱(rè)電偶導距

≥6 mm

  

0 to 160 mA

  

減壓He(具備真空和(hé)Ar氣保護兩種工況選項,真空工況下(xià),真空度:≤6×10-2 Pa;)

加熱(rè)電極相數/電壓

單相,220V,

熱(rè)電轉換效率輸出功率

0.01W~10W

夾具接觸熱(rè)阻

≤0.05 m2K/W,夾具界面石墨或Ag化(huà)處理(lǐ)

 

 

 

 

 

 

 

 單一樣品測試系統原理(lǐ)示意圖

 

 

 

 

圖2 雙樣品測試系統原理(lǐ)示意圖

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