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詳細介紹
| 産地類别 | 國産 | 應用(yòng)領域 | 交通(tōng),航天,司法,電氣 |
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BKTEM-D1熱(rè)電性能分(fēn)析系統
關鍵詞：熱(rè)電材料，Seebeck系數，電導率， 電阻率，V-1裝置
産品介紹：
BKTEM-Dx熱(rè)電材料性能測試儀是我國熱(rè)電材料的(de)設備，是國家材料計劃中前沿裝備其測試性能遠(yuǎn)超越國内外熱(rè)電材料測試儀，不僅可(kě)以用(yòng)于塊體材料同時(shí)也(yě)可(kě)以用(yòng)于薄材料的(de)測試，是目前國内高(gāo)等院校和(hé)材料研究所的(de)重要設備。
對(duì)于熱(rè)電材料的(de)研究，熱(rè)電性能測試是*的(de)試驗數據。BKTEM-Dx(x=1,2,3)系列可(kě)以精确地測定半導體材料、金屬材料及其他(tā)熱(rè)電材料(Bi2Te3, PbTe, Skutterudites等)及薄膜材料的(de)Seebeck系數及電導率。主要原理(lǐ)和(hé)特點如下(xià):
該裝置由高(gāo)精度，高(gāo)靈敏度溫度可(kě)控的(de)電阻爐和(hé)控制溫度用(yòng)的(de)微型加熱(rè)源構成。通(tōng)過PID程序控溫，采用(yòng)四點法的(de)方式精确測定半導體材料及熱(rè)電材料的(de)Seebeck系數及電導率、電阻率。試樣與引線的(de)接觸是否正常V-1裝置可(kě)以自動檢出。
一、适用(yòng)範圍：
1、精确地測定半導體材料、金屬材料及其他(tā)熱(rè)電(Bi2Te3,PbTe,Skutterudites康銅、鎳、鎢等金屬，Te、Bi2Te3、ZrNiSn、ZnAgSb、NiMoSb、SnTe、FeNbSb、CuGaTe2、GeTe、Ag1-xCuS、Cu2ZnSnSe4等)的(de)Seebeck系數及電導率、電阻率。
3、塊體和(hé)薄膜材料測均可(kě)以測試。
4、試樣與引線的(de)接觸是否正常V-1裝置可(kě)以自動檢出。
5、擁有自身分(fēn)析軟件，獨立分(fēn)析，過程自動控制，界面友好。
6、國内高(gāo)等院校材料系研究或是熱(rè)電材料生産單位。
7、汽車和(hé)燃油、能源利用(yòng)效率、替代能源領域、熱(rè)電制冷(lěng).
8、很多(duō)其他(tā)工業和(hé)研究領域-每年都會誕生新的(de)應用(yòng)領域.
二、技術特點：
·解決高(gāo)溫下(xià)溫控精度不準的(de)問題，靜态法測量更加直觀的(de)了(le)解産品熱(rè)電材料的(de)真正表征物(wù)理(lǐ)屬性。
溫度檢測可(kě)采用(yòng)J、K型熱(rè)電偶，降低測試成本。
每次可(kě)測試1-3個(gè)樣品.
采用(yòng)高(gāo)級數據采集技術，避免電路闆數據采集技術帶來(lái)的(de)幹擾誤差，可(kě)控溫場(chǎng)下(xià)同步測量賽貝克系數和(hé)電阻率。
三：主要技術：
測量溫度：室溫-600℃,800℃,1200℃ 可(kě)選
同時(shí)測試樣品數量：1個(gè)，2個(gè)，3個(gè) 可(kě)選
控溫精度：0.5K（溫度波動:≤±0.1℃）
測量原理(lǐ)：塞貝克系數：靜态直流電；電阻系數：四端法
測量範圍：塞貝克系數：0.5μV/K_25V/K；電阻系數：0.2Ohm-2.5KOhm
分(fēn)辨率：塞貝克系數：10nV/K;電阻系數： 10nOhm
測量精度：塞貝克系數：＜±6％；電阻系數：＜±5％
樣品尺寸：塊體方條形：2-3×2-3 mm×10-23mm長(cháng)，薄膜材料：≥50 nm
熱(rè)電偶導距: ≥6 mm
電 流: 0 to 200 Ma
氣 氛：0 to 160 mA
加熱(rè)電極相數/電壓：單相，220V，
夾具接觸熱(rè)阻：≤0.05 m2K/W
溫度檢測：采用(yòng)J、K型熱(rè)電偶
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