描述：模式測量電路，與傳統的(de) Sawyer-Tawer-模式相比，此電路取消了(le)外接電容，可(kě)減小寄生元件的(de)影(yǐng)響。此電路的(de)測試精度取決于積分(fēn)器積分(fēn)電容的(de)精度，減少了(le)對(duì)測試的(de)影(yǐng)響環節,比較容易定标和(hé)校準，且能實現較高(gāo)的(de)測量準确度它不僅能畫(huà)出鐵電薄膜的(de)電滞回線還(hái)可(kě)以定量得(de)到鐵電薄膜材料的(de)和(hé)極化(huà)Ps、剩餘極化(huà)Pr、矯頑場(chǎng)Ec、漏電流k等參數，以及對(duì)鐵電薄膜材料的(de)鐵電勞性能、鐵電保持性能的(de)測試，能夠較全面确地測量鐵

JKTD-1000型鐵電材料特性測試系統

關鍵詞：電滞回線，蝴蝶曲線，疲勞，脈沖

1.系統簡介：

鐵電體具有介電壓電、熱(rè)釋電、鐵電性質以及與之相關的(de)電緻伸縮性質非線性光(guāng)學性質、電光(guāng)性質、聲光(guāng)性質、光(guāng)折變性質、鐵電記憶存儲性能等等，都與其電極化(huà)性質相關，特别是電介質的(de)熱(rè)釋電與鐵電性質都與其白發極化(huà)相關，由于鐵電體具有上述性質，因而在諸多(duō)高(gāo)技術中有著(zhe)很重要的(de)應用(yòng)利用(yòng)其壓電性能可(kě)制作電聲換能器，用(yòng)于超聲波探測，聲納，穩頻(pín)振諧器，聲表面波器件等；利用(yòng)其熱(rè)釋電性質可(kě)制作紅外探測器,紅外監視器,熱(rè)成像系統等利用(yòng)線性光(guāng)學效應可(kě)制作激光(guāng)倍頻(pín)、三倍額和(hé)頻(pín)；差頻(pín)器：利用(yòng)電光(guāng)性可(kě)制作激光(guāng)電光(guāng)開關，光(guāng)偏轉器，光(guāng)調器等：利用(yòng)聲光(guāng)效應可(kě)制作激光(guāng)聲光(guāng)開關，聲光(guāng)偏轉器、聲光(guāng)調制器等：利用(yòng)光(guāng)折變效應可(kě)制作光(guāng)存儲器件；鐵電材料的(de)鐵電性可(kě)制作鐵電記憶存器。

本測試系統用(yòng)于鐵電體的(de)鐵電性能測量，可(kě)用(yòng)于鐵電體的(de)科學研究及近代物(wù)理(lǐ)實驗中的(de)固體物(wù)理(lǐ)實驗以及工業化(huà)生産鐵電存儲器的(de)鐵電性能檢測中，本測試系統主要由信号源、高(gāo)壓電源、電荷放大(dà)器、積分(fēn)器、示波器、計算(suàn)機通(tōng)訊接口、計算(suàn)機和(hé)應用(yòng)軟件等部分(fēn)組成。

模式測量電路，與傳統的(de) Sawyer-Tawer-模式相比，此電路取消了(le)外接電容，可(kě)減小寄生元件的(de)影(yǐng)響。此電路的(de)測試精度取決于積分(fēn)器積分(fēn)電容的(de)精度，減少了(le)對(duì)測試的(de)影(yǐng)響環節,比較容易定标和(hé)校準，且能實現較高(gāo)的(de)測量準确度它不僅能畫(huà)出鐵電薄膜的(de)電滞回線還(hái)可(kě)以定量得(de)到鐵電薄膜材料的(de)和(hé)極化(huà)Ps、剩餘極化(huà)Pr、矯頑場(chǎng)Ec、漏電流k等參數，以及對(duì)鐵電薄膜材料的(de)鐵電勞性能、鐵電保持性能的(de)測試，能夠較全面确地測量鐵電薄膜的(de)鐵電性能，儀器采儀器采用(yòng)一體化(huà)設計，實現測試結果全數字化(huà)，操作簡單方便。

一、産品主要用(yòng)途：

1、可(kě)廣泛應用(yòng)于薄膜、厚膜的(de)鐵電材料性能測試和(hé)研究

2、可(kě)廣泛應用(yòng)于塊狀陶瓷、鐵電器件及存儲器等鐵電材料領域的(de)研究。

二、測試主要技術參數：

1、電滞回線（包含飽和(hé)極化(huà)，剩餘極化(huà)，漏電流等參數）

2、鐵電材料疲勞測試，保持性能測試等

3、鐵電材料脈沖測試, 印迹等參數

4、應變/位移曲線（蝴蝶曲線）

三、主要技術指标

1)        輸出信号電壓：±10000V

2)        施加頻(pín)率：1Hz到1000Hz

3)        波形：正弦波、三角波、方波

4)        USB示波器：4CH；70MHz

5)        絕緣電阻/漏電流測量：10TΩ/1pA,1000V

6)        電滞回線測試變溫範圍：RT~200℃

7)        變溫測量控制單元：精度0.1℃；功率：500W；接口：RS485

8)        測試采樣速度：<5秒/樣品•溫度點  

9)        樣品規格：陶瓷塊體：Φ10-100mm，厚度0.1~10mm

             薄膜樣品：Φ10-100mm，厚度1~100μm

10)    控制方式：計算(suàn)機實時(shí)控制、實時(shí)顯示、實時(shí)數據計算(suàn)

11)    數據采集分(fēn)析軟件：

a)        運行環境 windows 7；

b)        測量時(shí)實時(shí)顯示采集到的(de)電滞回線，可(kě)定量得(de)到鐵電材料的(de)飽和(hé)極化(huà)Ps、剩餘極化(huà)Pr、矯頑場(chǎng)Ec、漏電流等參數；可(kě)以進行鐵電材料的(de)鐵電疲勞性能、鐵電保持性能的(de)測試，可(kě)選擇測量模式、掃描電場(chǎng)的(de)幅值等；

c)        依據位移回歸法繪制樣品D33應變/位移曲線（蝴蝶曲線）

d)        測量結果可(kě)以保存爲數據文件供Origin等數據處理(lǐ)軟件調用(yòng)處理(lǐ)，也(yě)可(kě)保存和(hé)打印微機屏幕顯示結果界面；

e)        具有數據平滑化(huà)、電滞回線校正等數據處理(lǐ)功能。

                                                      電滞回線（一）