描述：GWJDN-4型四通(tōng)道同屏高(gāo)溫介電溫譜測量系統運用(yòng)三電極法設計原理(lǐ)測量，并參考美(měi)國A.S.T.M 标準。采用(yòng)Labview系統開發具備彈性的(de)自定義功能，可(kě)進行介電溫譜、頻(pín)譜、升溫速度、測量參數等設置，符合壓電陶瓷與其它新材料測試多(duō)樣化(huà)的(de)需求。電壓、過電流、超溫等異常情況以保證測試過程的(de)安全；資料保存機制，當遇到電腦(nǎo)異常瞬時(shí)斷電可(kě)将資料保存于控制器中，不丢失試驗數據，設備重新啓動後可(kě)恢複原有試驗數據

GWJDN-4型高(gāo)低溫介電溫譜測量系統

關鍵詞:四通(tōng)道，溫度：-190℃-1000℃，120MHZ

GWJDN-4型四通(tōng)道同屏高(gāo)溫介電溫譜測量系統運用(yòng)三電極法設計原理(lǐ)測量，并參考美(měi)國A.S.T.M 标準。采用(yòng)Labview系統開發具備彈性的(de)自定義功能，可(kě)進行介電溫譜、頻(pín)譜、升溫速度、測量參數等設置，符合壓電陶瓷與其它新材料測試多(duō)樣化(huà)的(de)需求。電壓、過電流、超溫等異常情況以保證測試過程的(de)安全；資料保存機制，當遇到電腦(nǎo)異常瞬時(shí)斷電可(kě)将資料保存于控制器中，不丢失試驗數據，設備重新啓動後可(kě)恢複原有試驗數據。用(yòng)于分(fēn)析寬頻(pín)、高(gāo)低溫條件下(xià)樣品的(de)介電系數、阻抗Z、電抗X、導納Y、電導G、電納B、電感L、介電損耗D、品質因數Q等物(wù)理(lǐ)量，得(de)到這(zhè)些變化(huà)曲線的(de)頻(pín)率譜、溫度譜、介電譜曲線。可(kě)廣泛應用(yòng)于鐵電壓電陶瓷材料、半導體器件及功能薄膜材料等研究。

産品特點：

1、   提供多(duō)方位的(de)測量功能和(hé)多(duō)元化(huà)的(de)價位, 擁有更出色的(de)測量精度:

匹配阻抗分(fēn)析儀是采用(yòng)當前的(de)自動平衡電橋原理(lǐ)研制成功的(de)新一代阻抗測試儀器，其0.05%的(de)基本精度、最快(kuài)達5.6ms的(de)測試速度、10Hz-300MHz的(de)頻(pín)率範圍及高(gāo)達1GΩ的(de)阻抗測試範圍可(kě)以滿足元件與材料的(de)測量要求，特别有利于低損耗(D)電容器和(hé)高(gāo)品質因數(Q)電感器的(de)測量。四端對(duì)的(de)端口配置方式可(kě)有效消除測試線電磁耦合的(de)影(yǐng)響，将低阻抗測試能力的(de)下(xià)限比常規五端配置的(de)儀器向下(xià)擴展了(le)十倍。

2、      采用(yòng)Labview系統開發具備彈性的(de)自定義功能，可(kě)進行介電溫譜、頻(pín)譜、升溫速度、測量參數等設置。自動升溫降溫，測試功能強大(dà)

3、   四通(tōng)道同時(shí)測量,提高(gāo)效率,增加對(duì)比測試的(de)精度;

材料與結構匹配設計夾具,高(gāo)低溫穩定性好、精度高(gāo);

溫介電頻(pín)譜測試功能；變溫阻抗測試功能；掃頻(pín)測試功能；

軟件：采用(yòng)C#語言編寫，可(kě)視化(huà)程度高(gāo)，自動測試，同時(shí)顯示四通(tōng)道的(de)測試數據，并圖形化(huà)。

4、         專用(yòng)高(gāo)頻(pín)測試線纜，更适合高(gāo)頻(pín)測量：測試引線使用(yòng)4端子對(duì)配置以擴展測量端口，附帶BNC陽頭連接闆，用(yòng)于連接高(gāo)溫爐的(de)測試夾具，同時(shí)測試線采用(yòng)高(gāo)頻(pín)測試專用(yòng)測試線，設計兩層屏蔽。更适合高(gāo)頻(pín)介電參數測量。

5、      可(kě)以實現多(duō)種材料不同功能的(de)測試，高(gāo)溫介電，電阻測試等

探測采用(yòng)高(gāo)精度鉑金電極，抗幹擾能力強，測量精度高(gāo)

高(gāo)溫爐加熱(rè)均勻，可(kě)實現多(duō)種氣氛環境下(xià)的(de)測試

介電系數、阻抗Z、電抗X、導納Y、電導G、電納B、電感L、介電損耗D、品質因數Q等物(wù)理(lǐ)量，得(de)到這(zhè)些變化(huà)曲線的(de)頻(pín)率譜、溫度譜、介電譜曲線，多(duō)種物(wù)理(lǐ)參數可(kě)實時(shí)測試

專用(yòng)的(de)分(fēn)析和(hé)測試軟件，可(kě)以自行定義，保存數據

主要技術參數：

1、溫度範圍： -190℃-1000℃

2、測溫精度： 0.1℃

3．升溫速度： 1—20℃/min

4、控溫模式： 程序控制，提供常溫、變溫、恒溫、升溫、降溫等多(duō)種組合方式

5、通(tōng)訊接口： RS-485

8、電極材質： 鉑銥合金

9、上電極： 直徑1.6mm球頭電極，引線帶同軸屏蔽層

10、下(xià)電極：直徑26.8mm平面電極，引線帶同軸屏蔽層

11、保護電極：  帶保護電極，消除寄生電容、邊界電容對(duì)測試的(de)影(yǐng)響

12、電極幹擾屏蔽:電極引線帶同軸屏蔽，樣品平台帶屏蔽罩

13、夾具升降控制： 帶程序和(hé)手動控制，可(kě)更換夾具的(de)電動升降裝置

14、熱(rè)電偶 ：熱(rè)電偶探頭與樣品平台爲同一熱(rè)沉，測控溫度與樣品溫度保持一緻

15、無電極樣品尺寸：直徑小于40mm，厚度小于8mm

16、帶電極樣品尺寸： 直徑小于26mm，厚度小于8mm

17、軟件功能：自動分(fēn)析數據，可(kě)以分(fēn)類保存，樣品和(hé)測量方案結合在一起，生成系統所需的(de)實驗方案，輸出TXT、XLS、BMP等格式文件

18、測量方案：    提供靈活、豐富的(de)測試設置功能，包括頻(pín)率譜、阻抗譜、介電譜及其組合

19、标準極化(huà)樣品：8片（10mm*1.5mm）

20、配套設備裝置：能夠配合ZJ-3和(hé)ZJ-6壓電測試儀進行測量

21、配套設備裝置：可(kě)以配置10MM，20MM，30MM，40MM壓片夾具

23、測試頻(pín)率：20HZ-10MHZ

24、測試電平:100mV—2V

25、分(fēn)辨率：1MHZ

26、輸出阻抗:  100Ω

27、測試參數：Cp/Cs、Lp/Ls、Rp/Rs、|Z|、|Y|、R、X、G、B、θ、D、Q、Vac、Iac、Rdc、Vdc、Idc

28、基本準确度: 0.05%

29、顯示:液晶顯示

30、參數測量：多(duō)功能圖形和(hé)參數測量

31、接口方式: RS232C或HANDLER

測試儀器：

高(gāo)溫介電測試系統可(kě)适配Agilent E4990A/E4294A/E4980A、Wayne Kerr 6500P/B、

Tonghui TH2838/TH2839/TH2826/TH2828/TH2829/TH2827等系列LCR表或阻抗分(fēn)析儀，其他(tā)品牌型号也(yě)可(kě)定制開發

Agilent E4990A

·         五種頻(pín)率選擇；20 Hz 至 10/20/30/50/120 MHz，可(kě)升級

·         ±0.08%（典型值 ±0.045%）基本阻抗測量精度

·         25Ω m 至 40 MΩ 寬阻抗測量範圍（10% 測量精度範圍）

·         測量參數：|Z|、|Y|、θ、R、X、G、B、L、C、D、Q、複合 Z、複合 Y、VAC、Iac、VDC、Idc

·         内置直流偏置範圍：0 V 至 ±40 V、0 A 至 ±100 mA

·         10.4 英寸彩色 LCD 觸摸屏上的(de) 4 通(tōng)道和(hé) 4 迹線

·         數據分(fēn)析功能：等效電路分(fēn)析、極限線測試

Agilent E4294A

覆蓋了(le)很寬的(de)測試頻(pín)率範圍(40hz至110mhz)，具有±0.08%的(de)基本阻抗精度。其優異的(de)高(gāo)q值/低d值精度使其能分(fēn)析低損耗元件。其寬信号電平範圍可(kě)用(yòng)于在實際工作條件下(xià)評估器件。測試信号電平範圍爲5mv至1vrms或200ua至20marms，直流偏置範圍爲0v至±40v或0ma至±100ma。校準和(hé)誤差補償功能避免了(le)進行夾具内器件測量時(shí)的(de)測量誤差。agilent 4294a是适用(yòng)于電子元件設計、論證、質量控制和(hé)生産測試的(de)強大(dà)工具。電路設計和(hé)開發工程師也(yě)能從它提供的(de)性能和(hé)功能中受益。

Agilent E4980A

基本精度爲0.1%

測試頻(pín)率爲100Hz、120Hz、1kHz、10kHz、100kHz
量程爲20mV～1Vrms,以5mVrms分(fēn)檔
具有測試信号電平監視功能
高(gāo)速測量:25ms
高(gāo)速接觸檢查
大(dà)的(de)電容測試量程
變壓器參數測量(供選用(yòng))

Wayne Kerr 6500P/B

簡易的(de)TFT觸屏操作，10分(fēn)鐘(zhōng)内輕易上手

　　電介質、壓電片及石英晶體測試解決方案

　　30 ms超高(gāo)速測試速度

　　等效Rdc 可(kě)高(gāo)度精準四線式測試，量測到0.01mΩ

　　0.05%基本精确度

　　可(kě)内建0-100mA +/- 40V，外加可(kě)至60A DC Bias

　　可(kě)将測試波形儲存成CSV格式，放大(dà)、縮小及MARKER功能

　　20Hz~120MHz，七種機型，可(kě)随時(shí)升級 ，最高(gāo)升級到120MHz

　　直覺的(de)用(yòng)戶操作接口，USB、LAN、GPIB及HANDLER

　　可(kě)使用(yòng)鼠标及鍵盤操控，也(yě)可(kě)外接打印機及使用(yòng)USB接口儲存數據

　　具等效電路仿真功能，内建同頻(pín)率LCR Meter一台

Tonghui TH29系列

測試頻(pín)率:20Hz-1MHz，分(fēn)辨率:最高(gāo)0.1nHz

基本精度:0.05%

測試速度:最快(kuài)5.6ms/次

測試原理(lǐ):自動平衡電橋

高(gāo)穩定性和(hé)一緻性:高(gāo)達15個(gè)測試量程配置