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詳細介紹
| 品牌 | 其他(tā)品牌 | 産地類别 | 國産 |
|---|---|---|---|
| 應用(yòng)領域 | 電子,交通(tōng),航天,汽車,電氣 |
HTIM-300型高(gāo)低溫材料電阻率測試儀
高(gāo)低溫測試平台
6517B高(gāo)阻測試儀
2450低阻表
HTIM-3高(gāo)低溫材料電阻率測試儀主要用(yòng)于半導體材料導電性能的(de)評估和(hé)測試，該系統采用(yòng)四線電阻法測量原理(lǐ)進行設計開發，可(kě)以在高(gāo)溫、真空氣氛的(de)條件下(xià)測量半導體材料電阻和(hé)電阻率，可(kě)以分(fēn)析被測樣品電阻和(hé)電阻率随溫度、時(shí)間變化(huà)的(de)曲線。目前主要針對(duì)圓片、方塊、長(cháng)條等測試樣品進行測試，可(kě)以廣泛用(yòng)于半導體材料矽（si）、鍺（ge）,化(huà)合物(wù)半導體材料砷化(huà)镓(GaAs)、銻化(huà)铟（InSb），三元化(huà)合物(wù)半導體GaAsAl、GaAsP，固溶體半導體，如Ge-Si、GaAs-GaP等的(de)塊體材料的(de)電阻率測量等材料的(de)電阻率測量。
主要應用(yòng)領域：
半導體材料電阻測試
複合絕緣材料
陶瓷材料
雲母
玻璃材料
導電功能薄膜材料
絕緣超材料
矽橡膠材料
PCB材料
一、主要技術參數：
溫度範圍：-160℃-600℃
升溫斜率：0-10℃/min (典型值：3℃/min)
控溫精度：±0.5℃
電阻測量範圍：0.1mΩ~1MΩ
電阻率測量範圍：100nΩ..cm~100KΩ .cm
測量環境：惰性氣氛、還(hái)原氣氛、真空氣氛
測量方法：四線電阻法
測試通(tōng)道：單通(tōng)道
樣品尺寸：10mmx10mmX20mm或φ＜20mm ,d＜5mm
電極材料：紫銅鍍金
絕緣材料：99氧化(huà)鋁陶瓷
數據存儲格式：TXT文本格式
數據傳輸：USB
符合标準：ASTM
供電：220V±10%，50Hz
工作溫度：5℃ 至 + 40 ℃；
存儲溫度：–40 ℃ 至 +65 ℃
工作濕度：+40 ℃ 時(shí)，相對(duì)濕度高(gāo)達 95%（無冷(lěng)凝）
設備尺寸：400x450x580mm
重量：38kg
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