描述：TDT-3000 Analyzer型擴展型鐵電分(fēn)析儀 是一款的(de)高(gāo)速型模塊化(huà)鐵電壓電分(fēn)析儀，具備鐵電、壓電、熱(rè)釋電材料所有基本特性測試功能，可(kě)與激光(guāng)幹涉儀和(hé)SPM掃描探針顯微鏡等微位移傳感器聯用(yòng)，可(kě)廣泛地應用(yòng)于如各種鐵電/壓電/熱(rè)釋電薄膜、厚膜、體材料和(hé)電子陶瓷、鐵電傳感器/執行器/存儲器等領域的(de)研究。
模塊化(huà)設計的(de)TDT-3000型鐵電分(fēn)析儀 具有優異的(de)擴展性，提供高(gāo)達15中測試功能

TDTF-3000 Analyzer 型擴展型鐵電分(fēn)析儀 

關鍵詞：鐵電，電滞回線，脈沖，疲勞

TDT-3000 Analyzer型擴展型鐵電分(fēn)析儀 是一款的(de)高(gāo)速型模塊化(huà)鐵電壓電分(fēn)析儀，具備鐵電、壓電、熱(rè)釋電材料所有基本特性測試功能，可(kě)與激光(guāng)幹涉儀和(hé)SPM掃描探針顯微鏡等微位移傳感器聯用(yòng)，可(kě)廣泛地應用(yòng)于如各種鐵電/壓電/熱(rè)釋電薄膜、厚膜、體材料和(hé)電子陶瓷、鐵電傳感器/執行器/存儲器等領域的(de)研究。
模塊化(huà)設計的(de)TDT-3000型鐵電分(fēn)析儀 具有優異的(de)擴展性，提供高(gāo)達15中測試功能

TDTF-3000 Analyzer主要模塊标準測試功能：
1、Dynamic Hysteresis 動态電滞回線測試頻(pín)率（增強型FE模塊250kHz，高(gāo)速增強型FE模塊1MHz）； 
2、Static Hysterestic 靜态電滞回線測試； 
3、PUND 脈沖測試；
4、Fatigue 疲勞測試；
5、Retention 保持力；
6、Imprint 印迹；
7、Leakage current漏電流測試；
8、Thermo Measurement 變溫測試功能。

9、TSDC熱(rè)釋電測試功能

10、ECM電卡功能

11、RT電阻測量

12、POM油浴極化(huà)

• FE模塊-鐵電标準測試；

• MR模塊-磁阻和(hé)鐵性材料測試；

• RX模塊-弛豫電流測試；

• DR模塊-自放電測試。

測試基本單元：包括内置完整的(de)專用(yòng)計算(suàn)機主機和(hé)測試版路、運算(suàn)放大(dà)器、數據處理(lǐ)單元等，Windows 10操作系統、鐵電分(fēn)析儀專用(yòng)測試軟件等。

升級擴展FE模塊可(kě)選測試功能：
C-V curve電容-電壓曲線； 
Piezo Measurement壓電性能測試； 
Pyroelectric Measurement熱(rè)釋電性能測試； 
In-situ Compensation 原位補償；
DLCC 動态漏電流補償功能；
Impedance Measurement 阻抗測試 (僅适用(yòng)于高(gāo)速增強型)。

主要技術技術說明(míng)：
電壓範圍： +/- 25 V（可(kě)選的(de)附加高(gāo)壓放大(dà)器可(kě)擴展至+/- 10KV，20KV）； 

電荷測量解析度範圍: 0.80pC~5.26mC；

電荷分(fēn)辨率：1u

材料測量面積解析度範圍0.080μm² ~50cm²；

在使用(yòng)外部高(gāo)壓電源時(shí)，測量電荷的(de)最大(dà)解析度爲526mC。
電滞頻(pín)率：增強型FE模塊250kHz，高(gāo)速增強型FE模塊1MHz；
最小脈沖寬度：50ns；
最小上升時(shí)間：10ns；
最大(dà)疲勞頻(pín)率：16MHz；
電流放大(dà)範圍：1pA～1A；
最大(dà)負荷電容：1nF；
輸出電流峰值：+/-1 A。
輸入阻抗：等效阻抗

小信号頻(pín)率：500KHZ

大(dà)信号頻(pín)率：1MHZ

信号轉換效率：28位(高(gāo)精度采集)


MR模塊是用(yòng)來(lái)研究磁阻和(hé)鐵性材料的(de)。
此模塊提供連續電流激勵和(hé)測試，樣品上的(de)電壓降通(tōng)過高(gāo)精度四點測試。

RX模塊是用(yòng)來(lái)研究介電體和(hé)鐵電材料的(de)極化(huà)和(hé)去極化(huà)電流的(de)，即施加電壓階躍後的(de)電流響應。
該測試能将材料的(de)馳豫電流和(hé)漏電流分(fēn)開，并可(kě)記錄極化(huà)響應電流和(hé)去極化(huà)響應電流。

DR模塊用(yòng)于研究電介質材料的(de)自漏電性。
由于測試條件非常接近實際情況，因此通(tōng)過這(zhè)種方式可(kě)容易地測試應用(yòng)于DRAM材料的(de)合适性。

針對(duì)工業方面的(de)應用(yòng)，TDTF-3000 Analyzer提供了(le)256個(gè)自動測試的(de)通(tōng)道，大(dà)大(dà)擴展了(le)該儀器的(de)測試功能。

以上所有的(de)模塊可(kě)根據您的(de)測試需求以及科研方向進行獨立選擇或者任意組合。

優勢：

1、高(gāo)集成電路模塊，采集電壓電流各項指标，運行速度快(kuài)，采集率高(gāo)提供了(le)高(gāo)集成電路陶瓷基闆技術（HCT），爲NASA提供了(le)解決方案。在可(kě)承受平流層的(de)特殊環境而且耐用(yòng)的(de)氧化(huà)鋁基闆上，我們運用(yòng)氮化(huà)钽實現了(le)20μm寬度的(de)高(gāo)精密電路

2、全面的(de)測試功能

3、

DH動态電滞回線功能，SH靜态電滞回線功能，PUND 脈沖測試，Retention 保持力，Leakage current漏電流測試

4、 全過程質量管理(lǐ)與測試

原材料和(hé)外購(gòu)件的(de)質量控制-嚴肅工藝紀律-驗證工序能力-工序檢驗-驗證狀态的(de)控制-儀器合格

優勢五、完善的(de)售後服務體系

産品保修5年，終身維護，24小時(shí)接聽(tīng)技術問答(dá)，前期的(de)技術溝通(tōng)和(hé)免費的(de)來(lái)樣驗證測試，讓您的(de)測試放心。

可(kě)擴展部件：
高(gāo)壓放大(dà)器、激光(guāng)幹涉儀、AFM、溫度控制器、薄膜探針冷(lěng)熱(rè)台、變溫塊體樣品盒、塊體變溫爐、薄膜e31測試平台、超導磁體、PPMS、阻抗分(fēn)析儀等。