描述：産品簡介

GWJDN-1000B高(gāo)溫介電溫譜分(fēn)析儀采用(yòng)當前的(de)自動平衡電橋原理(lǐ)研制成功的(de)新一高(gāo)溫介電溫譜分(fēn)析儀，産品全新的(de)電子器件。.了(le)傳統國産儀器複雜(zá)繁瑣的(de)操作界面。基于Windows10操作系統。實現了(le)全電腦(nǎo)化(huà)操作界面。讓測試更智能、更簡便。

T 120MHz的(de)頻(pín)率瓶頸:解決了(le)國外同類儀器隻能分(fēn)析、無法單獨測試的(de)缺陷:中英文操作界面也(yě)解決了(le)國外儀器僅有英文界面的(de)增尬:采用(yòng)單測和(hé)分(fēn)析兩種界面。

GWJDN-1000B高(gāo)溫介電溫譜分(fēn)析儀

關鍵詞：彈性常數等C-V ,介電常數，損耗角，電導率，C-特性

産品簡介

GWJDN-1000B高(gāo)溫介電溫譜分(fēn)析儀采用(yòng)當前的(de)自動平衡電橋原理(lǐ)研制成功的(de)新一高(gāo)溫介電溫譜分(fēn)析儀，産品全新的(de)電子器件。.了(le)傳統國産儀器複雜(zá)繁瑣的(de)操作界面。基于Windows10操作系統。實現了(le)全電腦(nǎo)化(huà)操作界面。讓測試更智能、更簡便。

T 120MHz的(de)頻(pín)率瓶頸:解決了(le)國外同類儀器隻能分(fēn)析、無法單獨測試的(de)缺陷:中英文操作界面也(yě)解決了(le)國外儀器僅有英文界面的(de)增尬:采用(yòng)單測和(hé)分(fēn)析兩種界面。讓測試更簡單。

快(kuài)達2.5ms的(de)測試速度、及高(gāo)達100MQ的(de)阻抗測試範圖可(kě)以滿足元件與材料的(de)測量基求。特别有利于低損耗(D)電容器和(hé)高(gāo)品質因數Q)電感器的(de)測量。四端對(duì)的(de)端口配置方式可(kě)有效消除測試線電磁耦合的(de)影(yǐng)響。将低阻抗測試能力的(de)下(xià)限比常規五端配置的(de)儀器向下(xià)擴展了(le)十倍。

主要性能特點

測試頻(pín)率: 10Hz-1 30MHz

高(gāo)精度:采用(yòng)自動平衡電橋技術，四端對(duì)測試配置

高(gāo)穩定性和(hé)一緻性

高(gāo)速度:最快(kuài)達2.5ms的(de)測試速度

高(gāo)分(fēn)辨: 10. 1英寸電容式觸摸屏,分(fēn)辨率1280*800

點測、列表掃描、圖形掃描、等效電路、晶體振蕩器分(fēn)析五種測試方式

1601點多(duō)參數列表掃描功能

四參數測量

自動電平控制(ALC) 功能

4通(tōng)道圖形掃描功能，每通(tōng)道可(kě)顯示4條曲線,通(tōng)道和(hé)曲線有14種分(fēn)屏顯示方式

強大(dà)的(de)分(fēn)選: LCR模式10檔分(fēn)選

圖形掃描模式每條曲線單獨分(fēn)選

高(gāo)兼容性:支持SCPI指令集,兼容KEYSIGHT E4990A、E4980A、E4980AL、HP4284A

A.高(gāo)精度

自動平衡電橋技術的(de)應用(yòng)，得(de)以在10Hz-1 30MHz頻(pín)率、1mQ -100M的(de)阻抗範圍内都能達到理(lǐ)想的(de)測量精度，其中最高(gāo)精度達0.08%，遠(yuǎn)遠(yuǎn)高(gāo)于射頻(pín)反射測童法的(de)阻抗分(fēn)析儀、網絡分(fēn)析儀的(de)精度。

應用(yòng)

■無源元件:

電容器、電感器、磁芯、電阻器、電器件、變壓器、芯片組件和(hé)網絡元件等的(de)阻抗參數評估和(hé)性能分(fēn)析。

■半 導體元件:

LED驅動集成電路寄生參數測試分(fēn)析;變容二極管的(de)C-VDC特性;晶體管或集成電路的(de)寄生參數分(fēn)析

■ 其它元件:

印制電路闆、繼電器、開關、電纜、電池等阻抗評估

介質材料:

塑料、陶瓷和(hé)其它材料的(de)介電常數和(hé)損耗角評估

磁性材料:

鐵氧體、非晶體和(hé)其它磁性材料的(de)導磁率和(hé)損耗角評估

半導體材料:

半導體材料的(de)介電常數、電導率和(hé)C-特性

液晶單元:

介電常數、彈性常數等C-V特性

B.高(gāo)穩定性和(hé)高(gāo)一緻性

下(xià)圖是在速度5、則試頻(pín)率1MHz，測量100Ω電阻的(de)曲線，由下(xià)圖可(kě)見其軌迹噪聲≤0.003%（≤±0.0015Ω）

C.高(gāo)速度

D.10. 1時(shí)大(dà)屏，四種測裏參數，讓細節一覽無遺

10. 1寸觸摸屏、1280*800分(fēn) 辨率，Windows10系統 、中英文操作界面，支持鍵盤、鼠标、LAN、VGA/ HOMI接口，帶來(lái)的(de)是無以倫比的(de)操作便捷性。

大(dà)屏幕帶來(lái)更多(duō)的(de)好處是，可(kě)以把所有測試參數及分(fēn)選參數、分(fēn)選結果、功能選擇等參數放置在同一屏幕，而且看起來(lái)絕不擁擠和(hé)雜(zá)亂，同時(shí)可(kě)以顯示四種測量參數，四種測量參數任意可(kě)調。屏幕左邊的(de)按鈕可(kě)以快(kuài)捷選擇8套測試參數

E.增強的(de)列表掃描功能

可(kě)以最多(duō)設置1 601點的(de)列表掃描，每個(gè)點可(kě)以單獨設置測試頻(pín)率、測試電壓、直流偏置等測試條件。

F.強大(dà)的(de)分(fēn)析圖形界面

最多(duō)通(tōng)道可(kě)以最多(duō)顯示4條曲線。通(tōng)道和(hé)曲線各有十四種分(fēn)屏顯示方法

G.分(fēn)段掃描功能

最多(duō)可(kě)以4通(tōng)道同時(shí)顯示，每個(gè)通(tōng)道可(kě)以最多(duō)顯示4條曲線。通(tōng)道和(hé)曲線各有十四種分(fēn)屏顯示方法。分(fēn)段掃描是在一個(gè)掃描周期内，設置不同的(de)頻(pín)率分(fēn)段進行掃描，掃描時(shí)可(kě)設置不同的(de)電平及偏置，掃描結果直接圖形顯示，用(yòng)于需要快(kuài)速篩選多(duō)個(gè)頻(pín)率段參數的(de)掃描需求。

如晶體諧振器需要測試标稱諧振/抗諧振頻(pín)率以及其他(tā)雜(zá)散頻(pín)率，通(tōng)過分(fēn)段掃描共呢(ne)個(gè)可(kě)在特定頻(pín)率範圍内掃描測量，無需掃描不相關頻(pín)率。

H.強大(dà)的(de)光(guāng)标分(fēn)析能力

TH2851系列精密阻抗分(fēn)析儀具有強大(dà)的(de)光(guāng)标分(fēn)析能力，可(kě)以通(tōng)過光(guāng)标實現如下(xià)功能:

1.讀取測量結果的(de)數值(作爲絕對(duì)數值或者相對(duì)于參考點的(de)相對(duì)值)

2.查找曲線上的(de)特定點(光(guāng)标查找)

3.分(fēn)析曲線測量結果，計算(suàn)統計數據

4.使用(yòng)光(guāng)标值修改掃描範圍以及縱坐(zuò)标縮放

TH2851可(kě)以在每條曲線上顯示10個(gè)光(guāng)标，包括了(le)參考光(guāng)标。

每個(gè)光(guāng)标有一個(gè)激勵值( 坐(zuò)标系x軸對(duì)應的(de)數值)和(hé)響應值(坐(zuò)标系Y軸對(duì)應的(de)數值)。

光(guāng)标查找功能允許搜索下(xià)列條件測量點:最大(dà)值、最小值

峰谷值:峰值(極大(dà)值)、 谷值(極小值)、 光(guāng)标左側最近的(de)峰谷值、光(guāng)标右側最近的(de)峰谷值、多(duō)重峰谷值

目标值:距離光(guāng)标最近的(de)目标值 、光(guāng)标左側最近的(de)目标值、光(guāng)标右側最近的(de)目标值、多(duō)重目标值

G.強大(dà)的(de)圖形分(fēn)析功能

1) 曲線分(fēn)選功能

可(kě)以對(duì)掃描曲線全部或者部分(fēn)區(qū)域的(de)測試值進行合格/不合格判斷,常用(yòng)于諧振曲線刷選如壓電元件等諧振頻(pín)率篩選。

2)等效電路分(fēn)析測試

現實生活中不同類型的(de)器件可(kě)以械等效成簡單的(de)三參數四種模型、四參數三種模型的(de)阻抗器件，等效電路3分(fēn)析則式功能提供了(le)7種基本電路模型用(yòng)于等效這(zhè)些器件。

可(kě)以通(tōng)過仿真的(de)等效電路參數值的(de)阻抗拟合曲線與實際測重的(de)阻抗曲線進行對(duì)比，還(hái)可(kě)以通(tōng)過您輸入的(de)參數按照(zhào)所選擇的(de)摸型進行拟合。

等效的(de)電路模型可(kě)以直接輸出成TIT文檔方便用(yòng)戶保存使用(yòng)

3)晶體振蕩器分(fēn)析

對(duì)壓電陶瓷等晶體進行列量以及性能分(fēn)析，測重計算(suàn)後獲取晶體的(de)諧振頻(pín)軍、反諧振頻(pín)率.品質因數等重要參數。

4)曲線軌迹對(duì)比

曲線軌迹對(duì)比用(yòng)于對(duì)被測件進行連續測童，所有曲線顯示在同一個(gè)坐(zuò)标系中。由下(xià)列兩種應用(yòng):

a)針對(duì)多(duō)種不同被測件

對(duì)比不同測量條件下(xià)的(de)曲線軌迹

設置不同的(de)頻(pín)率點，計算(suàn)出所有曲線在該頻(pín)率點的(de)測量值

b)針對(duì)同一個(gè)被測件

對(duì)比同一個(gè)條件下(xià)測量的(de)多(duō)次測量結果重複性

設置不同頻(pín)率點，計算(suàn)出所有曲線在該頻(pín)率點的(de)測童值。

F.标配附件