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詳細介紹
| 品牌 | ACE/美(měi)國 | 産地類别 | 國産 |
|---|---|---|---|
| 應用(yòng)領域 | 能源,電子,冶金,航天,電氣 |
JKZC-YDZK50M型1000℃高(gāo)溫精密阻抗分(fēn)析儀
關鍵詞：阻抗，高(gāo)溫，導納圖，掃描,50MHZ
JKZC-YDZK50M型1000℃高(gāo)溫精密阻抗分(fēn)析儀是一款兼容高(gāo)溫功能的(de)精密阻抗分(fēn)析儀，是一款能夠應用(yòng)于*材料測試的(de)多(duō)功能複合型精密阻抗分(fēn)析儀，該阻抗分(fēn)析儀可(kě)以兼容多(duō)種高(gāo)溫夾具，可(kě)以測試粉末，液體，塊體等多(duō)種不同類型的(de)樣品。常溫下(xià)測試數據豐富，高(gāo)溫下(xià)測試數據穩定，無漂移。是一款兼顧中頻(pín)率的(de)精密阻抗分(fēn)析儀。在陶瓷及*材料生産中和(hé)科研院校廣泛使用(yòng)。
一、主要應用(yòng)：
1、*材料測試：高(gāo)溫及常溫介電常數、彈性常數等C-V特性
2、高(gāo)溫及常溫無源元件測試：電容器、電感器、磁芯、電阻器、壓電器件、變壓器、芯片組件和(hé)網絡元件等的(de)阻抗參數評估和(hé)性能分(fēn)析。
3、高(gāo)溫及常溫半導體元件：LED驅動集成電路寄生參數測試分(fēn)析；變容二極管的(de)C-VDC特性；晶體管或集成電路的(de)寄生參數分(fēn)析
4、高(gāo)溫及常溫其它元件：印制電路闆、繼電器、開關、電纜、電池等阻抗評估
5高(gāo)溫及常溫介質材料：塑料、陶瓷和(hé)其它材料的(de)介電常數和(hé)損耗角評估
6、高(gāo)溫及常溫磁性材料：鐵氧體、非晶體和(hé)其它磁性材料的(de)導磁率和(hé)損耗角評估
7、高(gāo)溫及常溫半導體材料：半導體材料的(de)介電常數、導電率和(hé)C-V特性
二、主要特點：
1、高(gāo)溫及常溫進行*材料測試阻抗各參數測試：諧振頻(pín)率Fs、反諧振頻(pín)率Fp、半功率點F1與F2、導納Gmax、靜電容C0、動态電抗R1、動态電容C1、動态電感L1、自由電容CT、自由介電常數、機械品質因素Qm、機電耦合系數Keff、Kp、K31、K33等
2、多(duō)種探頭滿足壓電陶瓷，液體，及粉末相關電學性能測試
3、高(gāo)溫夾具及常溫測試裝置，設計精巧靈活，測試數據可(kě)靠
4、50MHZ高(gāo)頻(pín)阻抗頻(pín)率滿足測試需求
5、1000攝氏度高(gāo)溫條件下(xià)測試數據穩定無漂移，曲線與溫度對(duì)應
6、軟件功能豐富，數據即讀取，方便快(kuài)捷
三、主要技術參數：
1、頻(pín)率範圍：20HZ-50MHZ
2、溫度：室溫-1000℃
3、阻抗參數：諧振頻(pín)率Fs、反諧振頻(pín)率Fp、半功率點F1與F2、導納Gmax、靜電容C0、動态電抗R1、動态電容C1、動态電感L1、自由電容CT、自由介電常數、機械品質因素Qm、機電耦合系數Keff、Kp、K31、K33等
4、電極材質:鉑銥合金(樣品有無電均可(kě)以測試)同軸屏蔽層
5、上電極 直徑1.6mm球頭電極，引線帶同軸屏蔽層
6、下(xià)電極： 直徑26.8mm平面電極，引線帶同軸屏蔽層
7、保護電極： 消除寄生電容、邊界電容對(duì)測試的(de)影(yǐng)響
8、電極幹擾屏蔽： 電極引線帶同軸屏蔽，樣品平台帶屏蔽罩
9、夾具升降控制： 帶程序和(hé)手動控制，可(kě)更換夾具的(de)電動升降裝置
10、熱(rè)電偶: 雙探頭
11、無電極樣品尺寸 : 直徑小于40mm，厚度小于8mm
12、帶電極樣品尺寸: 直徑小于26mm，厚度小于8mm
13、軟件功能：自動分(fēn)析數據，可(kě)以分(fēn)類保存，樣品和(hé)測量方案結合在一起，生成系統所需的(de)實驗方案，輸出TXT、XLS、BMP等格式文件
14、測量方案 提供靈活、豐富的(de)測試設置功能，包括頻(pín)率譜、阻抗譜、介電譜及其組合
15、接口方式：包括Keysight\WayneKerr\Tonghui等多(duō)種LCR接口，
16、外形尺寸: L360mm*W370mm*H510mm
17、淨 重: 22KG
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