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2019-09-12
+2019-08-12
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詳細介紹
| 品牌 | ACE/美(měi)國 | 産地類别 | 國産 |
|---|---|---|---|
| 應用(yòng)領域 | 電子,冶金,航天,汽車,電氣 |
BKTEM-B2薄膜熱(rè)電參數測試系統
關鍵詞：薄膜熱(rè)電，賽貝克系數，Seebeck，四線法
爲解決日益緊迫的(de)能源危機，太陽能、風能、核能等多(duō)種新能源不斷被開發利用(yòng)。新能源的(de)使用(yòng)需要優質的(de)節能材料。利用(yòng)熱(rè)電材料制成的(de)制冷(lěng)和(hé)發電系統，具有體積小、重量輕、無任何機械噪音(yīn)、不造成任何環境污染等衆多(duō)優點。因此對(duì)熱(rè)電材料的(de)研究非常重要。爲了(le)進一步提高(gāo)熱(rè)電材料的(de)轉化(huà)效率（熱(rè)電優值），對(duì)其研究從塊體慢(màn)慢(màn)轉移到薄膜材料。
技術原理(lǐ)
動态法：測量 Seebeck 系數
在待測溫場(chǎng)下(xià)給樣品兩端加一個(gè)連續變化(huà)的(de)微小溫差，通(tōng)過記錄樣品兩端溫差和(hé)熱(rè)電勢的(de)變化(huà)，
然後将溫差和(hé)熱(rè)電勢拟合成一條直線，直線斜率即爲該材料在該溫場(chǎng)下(xià)的(de) Seebeck 系數。
采用(yòng)四線法測量電阻率。 硬件特點
專門針對(duì)薄膜材料的(de) Seebeck 系數和(hé)電阻率測量。
采用(yòng)動态法測量 Seebeck 系數,避免了(le)靜态測量在溫差測量上的(de)系統誤差,測量更準确。
采用(yòng)四線法測量電阻率，測量更加穩定可(kě)靠。
薄膜熱(rè)電參數測試系統
技術原理(lǐ)
動态法：測量 Seebeck 系數
在待測溫場(chǎng)下(xià)給樣品兩端加一個(gè)連續變化(huà)的(de)微小溫差，通(tōng)過記錄樣品兩端溫差和(hé)熱(rè)電勢的(de)變化(huà)，
然後将溫差和(hé)熱(rè)電勢拟合成一條直線，直線斜率即爲該材料在該溫場(chǎng)下(xià)的(de) Seebeck 系數。
采用(yòng)四線法測量電阻率。 硬件特點
專門針對(duì)薄膜材料的(de) Seebeck 系數和(hé)電阻率測量。
采用(yòng)動态法測量 Seebeck 系數,避免了(le)靜态測量在溫差測量上的(de)系統誤差,測量更準确。
采用(yòng)四線法測量電阻率，測量更加穩定可(kě)靠。
1. 實現功能：在室溫溫場(chǎng)下(xià)可(kě)同步測量Seebeck系數和(hé)電阻率；
2. 電勢測量：采集系統采用(yòng)商業高(gāo)分(fēn)辨數字萬用(yòng)表；
3. 溫差測量：溫差精度控制：+/-0.1K，控溫速率：0.02–50K/min；溫差控制：0-80K ；
4. Seebeck系數和(hé)電阻測量方法：Seebeck系數-靜态直流法, 多(duō)溫差法，電阻率-四端法；
5. Seebeck系數測量範圍和(hé)分(fēn)辨率：1μV/K-25V/K；測量分(fēn)辨率：10nV/K；
6. 電阻率測量範圍和(hé)分(fēn)辨率：0.2μOhmm-2.5Ohmm；測量分(fēn)辨率：10nOhmm；
7. 測量精度：Seebeck 系數 : +/- 7%，電阻率 : +/- 10%；
8. 樣品尺寸：直徑或正方形 6-12mm，長(cháng)度6-22mm，正反面電極均可(kě)；
9. 探頭測試間距：6, 8 mm，任選一種；
10. 外接電源：單相220V ，50Hz；
11. 軟件：圖形化(huà)界面， windows 菜單，數據采集；加熱(rè)恒溫降溫溫度程序化(huà)設計；易于操作的(de)菜單設計，測量結果可(kě)以txt，EXC
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