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型号:
RTS-4A型全自動掃描四探針測試系統

描述:PRTS-4A全自動掃描四探針測試系統通(tōng)過采用(yòng)四探針雙位組合測量技術,将範德堡測量方法推廣應用(yòng)到直線四探針上。利用(yòng)電流探針和(hé)電壓探針的(de)組合變換,進行兩次電測量,其最後計算(suàn)結果能自動消除由樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和(hé)機械遊移等因素所引起的(de),對(duì)測量結果的(de)不利影(yǐng)響。因而在測試過程中,在滿足基本條件下(xià)可(kě)以不考慮探針間距、樣品尺寸及探針在樣品表面上的(de)位置等因素。這(zhè)種動态地對(duì)以上不利因素的(de)自動修正,

  • 廠商性質

    生産廠家
  • 更新時(shí)間

    2024-08-27
  • 訪問量

    383
詳細介紹
品牌ACE/美(měi)國産地類别國産
應用(yòng)領域石油,地礦,能源,電子,交通(tōng)

RTS-4A型全自動掃描四探針測試系統

關鍵詞:全自動四探針,2D,3D,多(duō)點掃描, 電阻率, 方塊電阻

 

 

 

可(kě)對(duì)樣品進行 49 點、81 點、中心 1 點、中心 10 點、中心半徑 5 點、中心邊緣 5 點、中心半徑邊緣 9 點、直徑掃描等測試;統計分(fēn)析測試數據生成 2D 和(hé) 3D 的(de) map 圖; 屏蔽測試,消除光(guāng)對(duì)樣品測試的(de)影(yǐng)響,保證測量的(de)準确性;真空吸附防止全自動測試過程中樣品移動對(duì)測試的(de)影(yǐng)響; 

一體化(huà)嵌入式設計,觸控電腦(nǎo)屏幕操作,手指點點就可(kě)以完成操作

PRTS-4A全自動掃描四探針測試系統是運用(yòng)四探針測量原理(lǐ)的(de)多(duō)用(yòng)途綜合全自動測量設備。該設備按照(zhào)單晶矽物(wù)理(lǐ)測試方法國家标準并參考美(měi)國 A.S.T.M 标準而設計的(de),專用(yòng)于測試半導體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的(de)專用(yòng)設備。通(tōng)過全自動測試系統,對(duì)晶圓片進行電阻率和(hé)方塊電阻分(fēn)布的(de)測量,繪制出等值線圖後,從而直接觀察到整個(gè)晶圓片的(de)電阻率或方塊電阻大(dà)小的(de)分(fēn)布。

PRTS-4A全自動掃描四探針測試系統通(tōng)過采用(yòng)四探針雙位組合測量技術,将範德堡測量方法推廣應用(yòng)到直線四探針上。利用(yòng)電流探針和(hé)電壓探針的(de)組合變換,進行兩次電測量,其最後計算(suàn)結果能自動消除由樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和(hé)機械遊移等因素所引起的(de),對(duì)測量結果的(de)不利影(yǐng)響。因而在測試過程中,在滿足基本條件下(xià)可(kě)以不考慮探針間距、樣品尺寸及探針在樣品表面上的(de)位置等因素。這(zhè)種動态地對(duì)以上不利因素的(de)自動修正,顯著降低了(le)其對(duì)測試結果的(de)影(yǐng)響,從而提高(gāo)了(le)測量結果的(de)準确度。

PRTS-4A全自動掃描四探針測試系統擁有友好操作測試界面,通(tōng)過此測試程序輔助用(yòng)戶簡便地進行各項測試操作,把采集到的(de)測試數據進行數學分(fēn)析,然後把測試數據以Excel表格,2D、3D等數值圖直觀地記錄、顯示出來(lái)。方便用(yòng)戶對(duì)數據進行各種數據分(fēn)析,用(yòng)戶可(kě)對(duì)采集到的(de)數據在電腦(nǎo)中保存或者打印以備日後參考和(hé)查看,  

産品應用(yòng)

● 半導體及太陽能電池(單晶矽、多(duō)晶矽、鈣钛礦)

● 液晶面闆(ITO/AZO)

● 功能材料(熱(rè)電材料、碳納米管、石墨烯、銀納米線、導電纖維布)

● 半導體工藝(金屬層/離子注入/擴散層)、非晶合金

 

全自動四探針軟件測試系統

 

 

 

 

主要技術指标 

 測量範圍 

電阻率:10-5105 Ω.cm  方塊電阻:10-4106 Ω/□   

可(kě)測晶片尺寸 

英寸~15 英寸;(太陽能電池片≤210mm*210mm 

恒流源 

 電流量程分(fēn)爲 1µA10µA100µA1mA10mA100mA 六檔。 

采樣電壓範圍 

 量程:000.00199.99mV;(低阻擴展時(shí),量程:00.00019.999mV) 

分(fēn)辨力:10μV;(低阻擴展時(shí),分(fēn)辨力:1μV)輸入阻抗:>1000MΩ;精度:±0.1% 

四探針探頭基本指标 

 間距:1±0.01mm;針間絕緣電阻:≥1000MΩ 機械遊移率:≤0.3%;  探針:碳化(huà)鎢或高(gāo)速鋼Ф0.5mm;探針壓力:516 牛頓(總力) 

模拟電阻測量相對(duì)

 0.01Ω0.1Ω1Ω10Ω100Ω1000Ω10000Ω0.2 

整機測量最大(dà)相對(duì)

(用(yòng)矽标樣片:0.003-500Ω.cm 測試)≤±3%23℃) 

重複性 

≤±0.5% 

最小去邊距離 

 3mm

自動測試選點方式 

49 點、81 點、中心 點、中心 10 點、中心半徑 點、中心邊緣 點、中心半徑邊緣 點、直徑掃描。 

測試數據處理(lǐ) 

以Excel格式文件表格記錄測試數據,并生成2D、3D的(de) map 圖。用(yòng)戶可(kě)對(duì)采集的(de)數據在 Excel 中進行進一步的(de)各種數據統計分(fēn)析。 

屏蔽和(hé)吸附測試 

對(duì)樣品進行屏蔽和(hé)真空吸附測試,消除光(guāng)和(hé)全自動測試過程中樣品移動對(duì)樣品測試的(de)影(yǐng)響,保證測量的(de)準确性。 

外形尺寸 

550mm×455mm×400mm(深×寬×高(gāo)) 

标準使用(yòng)環境 

 溫度:23±2℃; 相對(duì)濕度:≤65%;無高(gāo)頻(pín)幹擾; 

 


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