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詳細介紹
| 品牌 | 其他(tā)品牌 | 産地類别 | 國産 |
|---|---|---|---|
| 應用(yòng)領域 | 能源,電子,交通(tōng),航天,綜合 |
HTRC-800型高(gāo)溫導電材料電阻率測試系統
關鍵詞：電導率，電阻率，高(gāo)溫600℃，兩探針，四探針
HTRC-800型高(gāo)溫導電材料電阻率測試系統是一款用(yòng)于測量材料電阻，電導率的(de)專用(yòng)設備，采用(yòng)由四端測量方法測試電阻率系統與高(gāo)溫試驗箱爲一體的(de)專用(yòng)的(de)高(gāo)溫測試系統，滿足半導體及導體材料因溫度變化(huà)對(duì)電阻值變化(huà)的(de) 測量要求，通(tōng)以在高(gāo)溫 、真空、氣氛的(de)條件下(xià)測量導電材料電阻和(hé)電阻率，可(kě)以分(fēn)析被測樣的(de)電阻和(hé)電阻率随溫度、 時(shí)間變化(huà)的(de)曲 線． 目前主要針對(duì)圓片、方塊、長(cháng)條等樣品進行測試，可(kě)以廣泛用(yòng)于碳系導電材料、 金屬系導電材料、 金屬氧化(huà)物(wù)系導電材料、結 構型高(gāo)分(fēn)子導電材料、複合導電材料等材料的(de)電阻率測量。 測控軟件可(kě)以顯示出溫度與電阻，電阻率，電導率數據的(de)變化(huà)曲線。
一、主要應用(yòng)範圍：
1、 廣泛用(yòng)于碳系導電材料的(de)電阻率和(hé)電導率測量
2、 金屬系導電材料的(de)電阻率和(hé)電導率測量
3、 金屬氧化(huà)物(wù)系導電材料的(de)電阻率和(hé)電導率測量
4、 高(gāo)分(fēn)子導電材料的(de)電阻率和(hé)電導率測量
5、 複合導電材料等材料的(de)電阻率測量
6、 可(kě)以測量矽、鍺單晶（棒料、晶片）電阻率
7、 符合标準：ASTM B193-02和(hé)GBT 6146-2010 、GBT15662-1995
8、 産品主要特點：
1、高(gāo)溫兩探針夾具與帶升降高(gāo)溫測試平台配合使用(yòng)，組成高(gāo)溫兩探針測試平台；
2測溫熱(rè)電偶探頭與樣品平台爲同一熱(rè)沉，确保測量溫度與樣品溫度的(de)一緻性；
3、采用(yòng)緊湊型設計，體積小、結構簡潔，操作簡單、方便；
4' 隔熱(rè)盤隔離樣品平台與調節平台，并與高(gāo)溫測試平台重合，具有理(lǐ)想的(de)隔熱(rè)保溫效果；
5、 探針調節裝置具有三維精确調節功能，精确定位探針的(de)位置；
6、 探針調節裝置具有粗調功能，有效增大(dà)探針的(de)調節範圍；
7、 探針調節裝置帶探針壓力調節功能，确保探針與樣品的(de)良好接觸，又不損傷樣品；
8、 探針采用(yòng)帶同軸屏蔽層設計，減少電磁對(duì)測量的(de)幹擾；
9、探針電極選用(yòng)鉑銥合金，有效減少接觸電阻，并具有良好的(de)高(gāo)溫抗氧化(huà)能力；
10、自帶校準件，與各測試儀器配套，校準測試夾具。
主要技術參數：
1、測量溫度範圍：RT~600℃或RT~800℃或RT~1200℃可(kě)選
2、測試探針： 2個(gè)高(gāo)溫高(gāo)頻(pín)探針或4個(gè)高(gāo)頻(pín)探針
3、電極直徑：26.8mm
4、樣品大(dà)小：厚度小于10 mm，直徑5~40mm
5、溫控方式：恒溫、變溫、常溫
6、控溫精度：±0.4℃
7、電阻率：10nΩ-10MΩ
8、電阻：10nΩ-100MΩ
9、電導率：10-5 ～105 s/cm
10、重量：38KG
11、工作溫度：5℃至40℃
12、重量：15KG
13、可(kě)以配合任意型号Agilent 、 WayneKer r 、 So lar tron 、 同惠、 Keysight
等LCR表進行無縫結合
14、設備可(kě)以配合ZJ-3型和(hé)ZJ-6型壓電測試儀進行壓電D33系數測量
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