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2024-09-02
+2024-09-02
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詳細介紹
| 品牌 | 北(běi)京精科 | 産地類别 | 國産 |
|---|---|---|---|
| 應用(yòng)領域 | 電子,冶金,航天,司法,汽車 |
TZTFE-2000薄膜鐵電測試儀
TZTFE-2000薄膜鐵電測試儀是一款應用(yòng)于薄膜材料的(de)鐵電性能測試的(de)設備，該設備具有動态電滞回線(DHM)、I-V特性、脈沖(PUND)、靜态電滞回線(SHM)、疲勞(FM)、漏電流(LM)、電流-偏壓、保持力(RM)、印迹(IM)的(de)測試功能.，可(kě)廣泛地應用(yòng)于如各種鐵電/壓電/熱(rè)釋電薄膜、厚膜、體材料和(hé)電子陶瓷、鐵電傳感器/執行器/存儲器等領域的(de)研究。
TZTFE-2000薄膜鐵測試儀與探針台配套使用(yòng)，可(kě)實現薄膜的(de)鐵電性能測試。動态電滞回線測試頻(pín)率和(hé)激勵測試電源，用(yòng)戶可(kě)根據需要進行選擇，動态電滞回線測試頻(pín)率範圍爲1mHz～500kHz可(kě)選，激勵測試電源±10/30/100/200/500VAC可(kě)選，也(yě)可(kě)根據用(yòng)戶需要進行定制。
TZTFE-2000薄膜鐵測試儀本測試系統由主控器、探針台、計算(suàn)機及系統軟件部分(fēn)組成。主控器集成了(le)内置激勵測試電源、電荷積分(fēn)器、可(kě)編程放大(dà)器、模數轉換器、通(tōng)訊總線等功能，系統軟件包括可(kě)視化(huà)數據采集和(hé)管理(lǐ)功能，測試時(shí)，無需改變測試樣品的(de)連接，即可(kě)實現滞回，脈沖，漏電，IV等性能測試。
本測試系統鐵電性能測試采用(yòng)改進的(de)Sawyer- Tower測量方法，與傳統的(de)Sawyer- Tower模式相比，此電路取消了(le)外接電容，可(kě)減小寄生元件的(de)影(yǐng)響。此電路的(de)測試精度僅取決于積分(fēn)器積分(fēn)電容的(de)精度，減少了(le)對(duì)測試的(de)影(yǐng)響環節，容易定标和(hé)校準，并且能實現較高(gāo)的(de)測量準确度。
本系統提供外接高(gāo)壓放大(dà)器的(de)接口，對(duì)于需要做(zuò)高(gāo)壓測試、高(gāo)壓漏電流測試 的(de)用(yòng)戶，可(kě)直接擴展此功能。
用(yòng)戶選擇此款設備，需向廠家提供測試頻(pín)率、激勵測試電壓等要求。
測試功能：
· 動态電滞回線(DHM)
· I-V特性
· 脈沖(PUND)
· 靜态電滞回線(SHM)
· 疲勞(FM)
· 漏電流(LM)
· 電流-偏壓
· 保持力(RM)
· 印迹(IM)
可(kě)擴展部件：
· 探針台
· 主要技術參數：
1.電壓範圍（内置電壓）：±40V，（可(kě)外接高(gāo)壓放大(dà)器，最大(dà)10KV）；
2.ADC位數：18；
3.最小電荷分(fēn)辨率：≤10fC；
4.最大(dà)電荷分(fēn)辨率：276μC；
5.最大(dà)電滞回線測試頻(pín)率：0.03Hz~300KHz；
6.最小電滞回線測試頻(pín)率：0.01Hz；
7.最小脈沖寬度：1μs；
8.最小脈沖上升時(shí)間：50μs；
9.最大(dà)脈沖寬度：1μs；
10.額定功率：≥500W；
11.設備總電源方式：AC：220V；
12.配備JKTD型探針台(尺寸:直徑30mm,材質：銅,線纜：同軸線/三軸線；)
13.漏電精度：1pA；
14.固定探針：彈簧固定/管狀固定；
15.接頭類型：BNC/三軸/香蕉頭/鳄魚夾/接線端子。
選配高(gāo)壓功率放大(dà)器:
1.輸出電壓：-200～200V
2.輸出電流：-100～100mA
3.大(dà)信号帶寬：DC≥500KHz/s
4.小信号帶寬：DC≥10kHz(-3dB)
5.随時(shí)間穩定性：50ppm/小時(shí)；
6.随溫度穩定性：200℃；
7.精度：≤0.1%滿量程；
8.設備帶有TTL接口；
9.設備帶有遠(yuǎn)端控制BNC接口；
10.供電：220V，50Hz。
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