描述：當兩種不同導體構成閉合回路時(shí)，如果兩個(gè)接點的(de)溫度不同，則兩接點間有電動勢産生，且在回路中有電流通(tōng)過，即溫差電現象或塞貝克效應。

熱(rè)電材料（也(yě)稱溫差電材料(thermoelectric materials））是一種利用(yòng)固體内部載流子運動，實現熱(rè)能和(hé)電能直接相互轉換的(de)功能材料，熱(rè)電效應是電流引起的(de)可(kě)逆熱(rè)效應和(hé)溫差引起的(de)電效應的(de)總稱，包括塞貝克（Seebeck）效應、波爾貼（Peltier）效應和(hé)湯姆

BKTEM-D3型賽貝克系數測試儀/熱(rè)電性能測試儀

關鍵詞：熱(rè)電，賽貝克系數，Seebeck

當兩種不同導體構成閉合回路時(shí)，如果兩個(gè)接點的(de)溫度不同，則兩接點間有電動勢産生，且在回路中有電流通(tōng)過，即溫差電現象或塞貝克效應。

熱(rè)電材料（也(yě)稱溫差電材料(thermoelectric materials））是一種利用(yòng)固體内部載流子運動，實現熱(rè)能和(hé)電能直接相互轉換的(de)功能材料，熱(rè)電效應是電流引起的(de)可(kě)逆熱(rè)效應和(hé)溫差引起的(de)電效應的(de)總稱，包括塞貝克（Seebeck）效應、波爾貼（Peltier）效應和(hé)湯姆遜（Thomson）效應。

塞貝克系數，也(yě)稱爲塞貝克效應，是熱(rè)電轉換領域中的(de)一個(gè)核心概念，描述了(le)在兩種不同的(de)導體之間，當存在溫度差時(shí)，會産生電動勢的(de)現象。塞貝克系數的(de)數值大(dà)小直接反映了(le)材料熱(rè)電轉換的(de)效率，是衡量電動勢大(dà)小的(de)物(wù)理(lǐ)量。随著(zhe)材料科學的(de)不斷發展，人(rén)們發現許多(duō)新材料具有優異的(de)塞貝克性能，這(zhè)爲熱(rè)電轉換技術的(de)實際應用(yòng)提供了(le)可(kě)能。

該儀器主要用(yòng)于測試兩種不同電導體或半導體的(de)溫度差異而引起兩種物(wù)質間的(de)電壓差。

熱(rè)電動勢率，即塞貝克系數。它表示在給定溫度下(xià)熱(rè)電動勢随溫度的(de)變化(huà)率，一般用(yòng)每單位溫度的(de)電動勢值表示，單位名稱爲微伏每攝氏度（μV/℃）。這(zhè)一系數是衡量物(wù)質熱(rè)電性質的(de)重要參數。

通(tōng)過開發出具有可(kě)逆雙性塞貝克系數的(de)全固态離子熱(rè)電材料和(hé)可(kě)循環發電的(de)離子熱(rè)電器件，研究人(rén)員(yuán)揭示了(le)電極調控離子熱(rè)電材料P/N型的(de)微觀機制，實現了(le)在恒定溫差下(xià)連續産生電量，并具有高(gāo)穩定性和(hé)循環特性。這(zhè)一成果爲離子熱(rè)電轉換循環連續供電提供了(le)關鍵技術。

二：儀器測試原理(lǐ)結構圖

三：主要熱(rè)電材料體系：

Bi2Te3/Sb2Te3體系

PbTe體系

SiGe體系

CoSb3爲代表的(de)方鑽礦型熱(rè)電材料

Zn4Sb3  

四：高(gāo)溫熱(rè)電材料參數測試儀産品特點

1.可(kě)控溫場(chǎng)下(xià)可(kě)同步測量賽貝克系數和(hé)電阻率；

2.配置垂直或水(shuǐ)平放樣結構，滿足不同用(yòng)戶的(de)要求，方便樣品操作；

3.鉑金大(dà)電極設計，與樣品充分(fēn)接觸，對(duì)于不均勻樣品也(yě)可(kě)獲得(de)良好的(de)導電測試；

4.可(kě)配置雙加熱(rè)系統，不均勻樣品的(de)溫差控制；

5.高(gāo)級應用(yòng)程序控溫技術，包括溫差和(hé)測量步進等高(gāo)級要求；

6. 0-50K範圍的(de)溫差可(kě)随意設置溫差值及溫差點的(de)個(gè)數；

7.自由升/降溫、可(kě)精确控制溫度程序，進行升溫、恒溫與降溫過程中的(de)數據測量；

8.溫度檢測可(kě)選S 型熱(rè)電偶，适合測量Si系列熱(rè)電材料（SiGe,MgSi等）；

9. 熱(rè)電偶探針可(kě)選K、S、R型（無需铠裝）配置，不會産生非常大(dà)的(de)接觸電阻；

10.熱(rè)電偶間距可(kě)以跟根據樣品尺寸調節或固定，滿足不同科研要求；

11：标準配置進口高(gāo)級商用(yòng)吉時(shí)利（Keithley ）數采儀表，避免電路闆集成數據采集技術帶來(lái)的(de)幹擾誤差；

12：恒流源參數：0.000-220mA；恒流設置分(fēn)辨率：100nA；恒流穩定性：0.008+20nA/天；

13：溫度範圍：RT up to 1150℃；

14：控溫速率：0.01 –100K/min，可(kě)以節約用(yòng)戶測試時(shí)間；

15：測量範圍：賽貝克系數：0.5μV/K-25V/K；電阻率：0.2μOhmm-2.5KOhmm；

16： 0-80K溫差範圍可(kě)任意設置溫差值及溫差點的(de)個(gè)數；

17：U-I曲線自動掃描，計算(suàn)出合适的(de)電流數值，可(kě)以精确測量電導率；

不會對(duì)大(dà)電阻樣品産生誤差；

18：熱(rè)電偶間距可(kě)以根據樣品尺寸調節後固定，滿足不同科研要求；

19：精度：賽貝克系數：±7 %；電導系數：±10 %（熱(rè)電材料測試，非康銅标樣）；

20:重複性：3%；

21：測量系統：柱狀、片狀、長(cháng)方體、薄膜等系統；

五：儀器主要技術參數：

1：溫度範圍：RT up to 1200℃；

2：溫度分(fēn)辨率：0.001℃；

3：控溫精度：+/-0.25K；

4：恒流源：0.000-220mA；分(fēn)辨率：100nA；穩定性：0.008+20nA/天，标準配置進口高(gāo)級商用(yòng)吉時(shí)利（Keithley ）數采儀表。Keithley技術： 100nV rms 噪音(yīn)本底，直流電壓靈敏度低至10nV，基本精度爲0.002%（90天）7ppm DCV可(kě)重複性，基本1年DCV準确度：0.0028%

最大(dà)讀取速度範圍：2k讀數/秒；

溫度分(fēn)辨率：0.001℃；

交流電壓分(fēn)辨率：0.1μV

電阻分(fēn)辨率：1 μΩ

電流分(fēn)辨率：1nA

5：U-I曲線自動掃描，計算(suàn)出合适的(de)電流數值， 可(kě)以精确測量電導率

6：精度：賽貝克系數：±7 %；電導系數：±10 %（熱(rè)電材料測試，非康銅标樣）

重複性：3%

7：試樣參考大(dà)小：4*4*20-----8*8*30mm

8、電源：220V