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FE-5001型鐵電參數測試儀/PUND測試

描述:FE-5001型鐵電參數測試儀/PUND測試是一款功能豐富的(de)鐵電參數測試儀/PUND測試,可(kě)廣泛地應用(yòng)于如各種鐵電/壓電/熱(rè)釋電薄膜、厚膜、體材料和(hé)電子陶瓷、鐵電傳感器/執行器/存儲器等領域的(de)研究。

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    生産廠家
  • 更新時(shí)間

    2024-09-10
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應用(yòng)領域能源,電子,航天,綜合

FE-5001鐵電參數測試儀/PUND測試

關鍵詞:電滞回線,疲勞Fatigue漏電流LM電流-偏壓

FE-5001型鐵電參數測試儀/PUND測試

 

FE-5001鐵電參數測試儀/PUND測試是一款功能豐富的(de)鐵電參數測試儀/PUND測試,可(kě)廣泛地應用(yòng)于如各種鐵電/壓電/熱(rè)釋電薄膜、厚膜、體材料和(hé)電子陶瓷、鐵電傳感器/執行器/存儲器等領域的(de)研究。

鐵電參數測試主要性能指标:

a. 外接5 kV高(gāo)壓放大(dà)器;

b. 動态電滞回線測試頻(pín)率範圍0.01 Hz ~ 1 kHz;

c. 最大(dà)電荷解析度:10 mC;

d. 疲勞測試頻(pín)率300 kHz(振幅10 Vpp,負載電容1 nF);

e. 漏電流測量範圍 1 pA ~ 20 mA,分(fēn)辨率0.1 pA;

f. 配有高(gāo)壓擊穿保護模塊。

本測試系統由主控器、高(gāo)壓放大(dà)器、變溫綜合測試平台(配鐵電測試盒)或高(gāo)低溫探針台(配高(gāo)壓探針)、計算(suàn)機及系統軟件部分(fēn)組成。主控器集成了(le)可(kě)編程波形發生器、内置驅動電壓、電荷積分(fēn)器、可(kě)編程放大(dà)器、模數轉換器、通(tōng)訊總線等功能,主控器提供擴展外置高(gāo)壓放大(dà)器接口,可(kě)擴展±5 kV或±10 kV的(de)高(gāo)壓放大(dà)器。系統軟件包括可(kě)視化(huà)數據采集和(hé)管理(lǐ)功能,測試時(shí),無需改變測試樣品的(de)連接,即可(kě)實現滞回,脈沖,漏電,IV等性能測試。

鐵電參數測試儀/PUND測試采用(yòng)改進的(de)Sawyer- Tower測量方法,與傳統的(de)Sawyer- Tower模式相比,此電路取消了(le)外接電容,可(kě)減小寄生元件的(de)影(yǐng)響。此電路的(de)測試精度僅取決于積分(fēn)器積分(fēn)電容的(de)精度,減少了(le)對(duì)測試的(de)影(yǐng)響環節,容易定标和(hé)校準,并且能實現較高(gāo)的(de)測量準确度。

該系統測試功能:

動态電滞回線DHM

I-V特性

脈沖PUND

疲勞Fatigue

漏電流LM

電流-偏壓。

 


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