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  • ZJ-5型多(duō)層疊堆壓電測試儀
    ZJ-5型多(duō)層疊堆壓電測試儀

    多(duō)層疊堆壓電陶瓷是一種新型的(de)壓電材料,它由多(duō)層壓電陶瓷片疊加而成。這(zhè)種材料具有很高(gāo)的(de)壓電效應和(hé)優異的(de)機械性能,因此在電子、機械、醫療等領域得(de)到了(le)廣泛的(de)應用(yòng)。 多(duō)層疊堆壓電陶瓷的(de)制備過程相對(duì)複雜(zá),需要經過多(duō)次燒結和(hé)壓制。首先,将壓電陶瓷粉末制成片狀,然後将多(duō)層片狀陶瓷疊加在一起.形成一個(gè)整體。接著(zhe),将整體放入高(gāo)溫爐史進行燒結,使其成爲一個(gè)堅硬的(de)陶瓷塊。最後,将陶瓷塊切割成所需的(de)形狀和(hé)尺寸,即可(kě)得(de)到

    更新時(shí)間:2024-08-27型号:浏覽量:573
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  • GWJDN-400型2MHZ自動平衡高(gāo)溫介電溫譜儀
    GWJDN-400型2MHZ自動平衡高(gāo)溫介電溫譜儀

    主要功能: 材料介電常數測試儀 半導體材料的(de)介電常數、導電率和(hé)C-V特性液晶材料:液晶單元的(de)介電常數、彈性常數等C-V特性 性能特點: 溫度:RT-1000℃ 測試頻(pín)率: 20Hz- 21MHz, 分(fēn)辨率:最高(gāo)0.1mHz 基本精度: 0.05% 測試速度:最快(kuài)5. 6ms/次 測試原理(lǐ):自動平衡電橋 高(gāo)穩定性和(hé)一緻性:高(gāo)達15個(gè)測試量程配置 高(gāo)分(fēn)辨: 7英寸, 800X600

    更新時(shí)間:2024-08-27型号:浏覽量:489
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  • BKTEM-3A型熱(rè)電材料性能測試儀(動态法)
    BKTEM-3A型熱(rè)電材料性能測試儀(動态法)

    BKTEM-3型熱(rè)電材料性能測試儀熱(rè)電材料也(yě)稱溫差電材料(thermoelectric materials)是一種利用(yòng)固體内部載流子運動,實現熱(rè)能和(hé)電能直接相互轉換的(de)功能材料。熱(rè)電效應是電流引起的(de)可(kě)逆熱(rè)效應和(hé)溫差引起的(de)電效應的(de)總稱,包括塞貝克(seebeck)效應、波爾貼(Peltier)效應和(hé)湯姆遜(Thomoson)效應。 BKTEM-3采用(yòng)動态法和(hé)四線法分(fēn)别測量樣品的(de)Seebeck系數和(hé)電

    更新時(shí)間:2024-08-27型号:浏覽量:548
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  • BKTEM-S4型熱(rè)電賽貝克系數測試儀
    BKTEM-S4型熱(rè)電賽貝克系數測試儀

    BKTEM-S4型熱(rè)電賽貝克系數測試儀 關鍵詞:賽貝克系數,電阻 熱(rè)功率、熱(rè)電勢、或塞貝克系數描述的(de)都是材料在一定溫差條件下(xià)産生感應熱(rè)電電壓的(de)大(dà)小,單位是V/K。   近年來(lái)直接将熱(rè)能轉化(huà)成電能的(de)方法引起人(rén)們的(de)廣泛興趣。通(tōng)過熱(rè)電裝置收集熱(rè)發動機和(hé)燃燒系統餘熱(rè)并轉換成電能可(kě)以節省數十億美(měi)元。

    更新時(shí)間:2024-08-27型号:浏覽量:542
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  • SCTS-2000系型雙電測四探針測試儀
    SCTS-2000系型雙電測四探針測試儀

    SCTS-2000系型雙電測四探針測試儀是運用(yòng)直線或方形四探針雙位測-改進形範德堡測量方法測試電阻率/方阻的(de)多(duō)用(yòng)途綜合測量儀器。該儀器設計符合單晶矽物(wù)理(lǐ)測試方法國家标準并參考美(měi)國 A.S.T.M 标準。利用(yòng)電流探針、電壓探針的(de)變換,進行兩次電測量,對(duì)數據進行雙電測分(fēn)析,自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和(hé)機械遊移等因素對(duì)測量結果的(de)影(yǐng)響,它與單電測直線或方形四探針相比,大(dà)大(dà)提高(gāo)正确度,特

    更新時(shí)間:2024-08-27型号:浏覽量:520
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  • TSC(TSDC)-5000熱(rè)刺激電流測試儀
    TSC(TSDC)-5000熱(rè)刺激電流測試儀

    熱(rè)刺激理(lǐ)論是在介質物(wù)理(lǐ)的(de)基礎上發展起來(lái)的(de),研究這(zhè)一理(lǐ)論的(de)方法即熱(rè)刺激法比較簡單實用(yòng)而且又能較準确地測量出某些物(wù)質(如電介質、絕緣材料、半導體、駐極體等)的(de)微觀參數,熱(rè)刺激法是一面對(duì)材料升溫一面進行測量,即非等溫測量。由于材料(例如介電材料)中的(de)荷電粒子的(de)微觀參數(如活化(huà)能h、松弛時(shí)間τ等)不同,用(yòng)熱(rè)刺激法就很容易将材料中的(de)各種不同h或τ的(de)荷電粒子分(fēn)離開來(lái),從而求出各自的(de)參數。因爲熱(rè)刺激電流與材料的(de)

    更新時(shí)間:2024-08-27型号:浏覽量:533
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