GWJDN-600A壓電材料高(gāo)溫介電溫譜儀本高(gāo)頻(pín)介電溫譜系統主要用(yòng)于絕緣材料在不同溫度不同頻(pín)率下(xià)的(de)電學性能測試，系統包含高(gāo)溫爐膛，阻抗分(fēn)析儀，微電流表，夾具，測試軟件于一體，可(kě)測試材料的(de)介電常數，介質損耗，阻抗譜Co-Co圖，機電耦合系數，等，同時(shí)可(kě)分(fēn)析被測樣品随溫度，頻(pín)率，時(shí)間變化(huà)的(de)曲線，測試治具可(kě)以根據産品及測試項目要求選購(gòu)。 件可(kě)根據實驗方案設計，通(tōng)過測量C和(hé)D值，自動完成介電常數和(hé)介電損耗

随著(zhe)固體粉末在化(huà)工、航天、醫藥、食品、塑料制品等行業越來(lái)越廣泛的(de)應用(yòng)，必然需要更多(duō)、更精确的(de)以工藝過程控制、産品混合均勻度測試、物(wù)料含量檢測等爲目的(de)的(de)儀器，以期優化(huà)産品的(de)過程控制、提高(gāo)産品質量，FWJD-600型粉末高(gāo)溫介電溫譜儀是一款新型的(de)高(gāo)溫介電溫譜測試系統，

本測試系統用(yòng)于鐵電體的(de)鐵電性能測量，可(kě)用(yòng)于鐵電體的(de)科學研究及近代物(wù)理(lǐ)實驗中的(de)固體物(wù)理(lǐ)實驗以及工業化(huà)生産鐵電存儲器的(de)鐵電性能檢測中，本測試系統主要由信号源、高(gāo)壓電源、電荷放大(dà)器、積分(fēn)器、示波器、計算(suàn)機通(tōng)訊接口、計算(suàn)機和(hé)應用(yòng)軟件等部分(fēn)組成。 模式測量電路，與傳統的(de) Sawyer-Tawer-模式相比，此電路取消了(le)外接電容，可(kě)減小寄生元件的(de)影(yǐng)響。此電路的(de)測試精度取決于積分(fēn)器積分(fēn)電容的(de)精度，減少了(le)對(duì)測試

ZKSJD-600型全自動高(gāo)低溫介電溫譜儀是中科院聲學所研發的(de)最新一款高(gāo)低溫介電溫譜儀用(yòng)于分(fēn)析寬頻(pín)、高(gāo)低溫條件下(xià)被測樣品的(de)介電系數、阻抗Z、電抗X、導納Y、電導G、電納B、電感L、介電損耗D、品質因數Q等物(wù)理(lǐ)量，得(de)到這(zhè)些變化(huà)曲線的(de)頻(pín)率譜、溫度譜、介電譜曲線。可(kě)廣泛應用(yòng)于鐵電壓電陶瓷材料、半導體器件及功能薄膜材料等研究。測溫範圍從-190℃-600℃，滿足目前條件下(xià)測試的(de)要求，同時(shí)高(gāo)低溫阻抗、介

GDPT-900A型高(gāo)低溫壓電材料測試儀+ZJ-4型D33測試儀（靜壓電系數d33測量儀）是爲測量壓電材料的(de)d33常數而設計的(de)專用(yòng)儀器，可(kě)以測量任意形狀的(de)壓電陶瓷材料，也(yě)可(kě)以薄膜PVDF材料，在之前的(de)基礎上添加了(le)薄膜拉伸裝置，可(kě)以更加直觀的(de)了(le)解薄膜在拉伸條件下(xià)的(de)D33數值。對(duì)試樣大(dà)小及形狀無特殊要求，圓片、圓環、圓管、方塊、長(cháng)條、柱形及半球殼等均可(kě)測量，增加了(le)對(duì)被測元件的(de)放電保護

模式測量電路，與傳統的(de) Sawyer-Tawer-模式相比，此電路取消了(le)外接電容，可(kě)減小寄生元件的(de)影(yǐng)響。此電路的(de)測試精度取決于積分(fēn)器積分(fēn)電容的(de)精度，減少了(le)對(duì)測試的(de)影(yǐng)響環節,比較容易定标和(hé)校準，且能實現較高(gāo)的(de)測量準确度它不僅能畫(huà)出鐵電薄膜的(de)電滞回線還(hái)可(kě)以定量得(de)到鐵電薄膜材料的(de)和(hé)極化(huà)Ps、剩餘極化(huà)Pr、矯頑場(chǎng)Ec、漏電流k等參數，以及對(duì)鐵電薄膜材料的(de)鐵電勞性能、鐵電保持性能的(de)測試，能夠較全面确地測量鐵