HTCAS-300型高(gāo)溫超導材料交流磁化(huà)率測量儀

GWTF-300高(gāo)溫鐵電材料測量系統是一套建立在高(gāo)溫高(gāo)壓下(xià)的(de)鐵電測量系統，旨在針對(duì)一些特殊的(de)要求材料需要在高(gāo)溫下(xià)測量而研發的(de)一套鐵電測量系統。該系統不僅僅在溫度上将實現了(le)高(gāo)溫測試，而且在電壓和(hé)頻(pín)率上進行了(le)提高(gāo)，對(duì)我們的(de)鐵電材料研究和(hé)測試帶來(lái)更加重要的(de)幫助，該系統可(kě)以測量鐵電材料的(de)電滞回線，飽和(hé)極化(huà)Ps、剩餘極化(huà)Pr、矯頑場(chǎng)Ec、漏電流、疲勞、保持、I-V和(hé)開關特性等性能的(de)測試，是科研機構和(hé)高(gāo)等院校

GWST-1000型高(gāo)溫四探針綜合測試系統（包含薄膜，塊體功能）是爲了(le)更方便的(de)研究在高(gāo)溫條件下(xià)的(de)半導體的(de)導電性能，該系統可(kě)以*實現在高(gāo)溫、真空及惰性氣氛條件下(xià)測量矽、鍺單晶（棒料、晶片）電阻率和(hé)外延層、擴散層和(hé)離子層的(de)方塊電阻及測量其他(tā)方塊電阻。

HTRS-1000型高(gāo)溫半導體材料電阻率測試儀主要用(yòng)于半導體材料導電性能的(de)評估和(hé)測試，該系統采用(yòng)四線電阻法測量原理(lǐ)進行設計開發，可(kě)以在高(gāo)溫、真空氣氛的(de)條件下(xià)測量半導體材料電阻和(hé)電阻率，可(kě)以分(fēn)析被測樣品電阻和(hé)電阻率随溫度、時(shí)間變化(huà)的(de)曲線。目前主要針對(duì)圓片、方塊、長(cháng)條等測試樣品進行測試，可(kě)以廣泛用(yòng)于半導體材料矽（si）、鍺（ge）,化(huà)合物(wù)半導體材料砷化(huà)镓（GaAs）、銻化(huà)铟（InSb），三元化(huà)合物(wù)半導

HTIM-1000高(gāo)溫絕緣材料電阻率測試儀/GB-T10581-2006絕緣材料在高(gāo)溫下(xià)電阻和(hé)電阻率主要用(yòng)于評估測量絕緣材料電學性能，該系統采用(yòng)三環電極法設計原理(lǐ)并結合GB-T 10581-2006 絕緣材料在高(gāo)溫下(xià)電阻和(hé)電阻率試驗方法标準設計開發，可(kě)以直接測量高(gāo)溫、真空、氣氛條件下(xià)樣品的(de)電阻和(hé)體電阻率、漏電流等随溫度、時(shí)間變化(huà)的(de)曲線，高(gāo)溫絕緣材料電阻率測試儀系統已經在航天航空傳感器領域得(de)到很好的(de)

PRPM-1000熱(rè)釋電系數高(gāo)溫測試系統 關鍵詞：熱(rè)釋電，激光(guāng)，紅外 熱(rè)釋電材料目前主要用(yòng)于紅外、激光(guāng)等熱(rè)釋電探測領域,也(yě)廣泛地使用(yòng)在各類輻射計,光(guāng)譜儀,以及紅外、激光(guāng)探測器等方面。而熱(rè)釋電系數是測定紅外探測器工作特性的(de)主要參數之一。PRPM-1000熱(rè)釋電系數高(gāo)溫測試系統采用(yòng)高(gāo)精度進口的(de)設備采集分(fēn)析數據，對(duì)熱(rè)釋電系數能夠準确的(de)測試.