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型号:GWJD-1000
高(gāo)溫介電測量儀

描述:GWJD-1000型高(gāo)溫介電性能測量系統(四通(tōng)道測試,同時(shí)測試4個(gè)樣品)

  • 廠商性質

    生産廠家
  • 更新時(shí)間

    2024-08-26
  • 訪問量

    2340
詳細介紹

GWJD-1000型高(gāo)溫介電性能測量系統(四通(tōng)道測試,同時(shí)測試4個(gè)樣品

 

 

GWJD-1000型高(gāo)溫介電性能測量系統(四通(tōng)道測試,同時(shí)測試4個(gè)樣品)

關鍵詞:高(gāo)溫介電測試溫譜儀高(gāo)溫介電性能測量系統、高(gāo)溫介溫譜能系統

  

産品介紹:

   GWJD-1000型高(gāo)溫介電性能測量系統主要應用(yòng)于高(gāo)溫下(xià)材料的(de)介電性能測

試與分(fēn)析,包括介電常數、介電損耗、電容等參數,同時(shí)測試出測試材料的(de)其

他(tā)阻抗參數,廣泛應用(yòng)于陶瓷材料、半導體器件及功能薄膜材料等研究

一、産品優勢:

1.耐高(gāo)溫、1000°C不氧化(huà),電極阻抗低、絕緣好.

2.四通(tōng)道測試,可(kě)以同時(shí)測試1-4個(gè)樣品,方便快(kuài)捷

3.數據分(fēn)析軟件:提供多(duō)種掃描曲線,可(kě)以在多(duō)窗(chuāng)口之間切換數據

二、《符合ASTMD150和(hé) D2149-97标準>>

<<符合GB/T1409-2006介電常數和(hé)介電損耗的(de)推薦方法;》

三、産品特點

1.可(kě)以在高(gāo)溫、寬頻(pín)、真空條件下(xià)測量固體、薄膜樣品的(de)介電性能;

2.可(kě)以分(fēn)樣品的(de)頻(pín)率譜、溫度譜、偏壓譜、阻抗譜、介電譜、時(shí)間譜等測量功能;

3.可(kě)以測量樣品的(de)介電常數、介電損耗,電容C,損耗D,電感L,品質因數Q,阻抗Z等物(wù)理(lǐ)量;以實現介電常數和(hé)介電損耗随多(duō)個(gè)溫度、多(duō)個(gè)頻(pín)率變化(huà)的(de)曲線,時(shí)間和(hé)電壓變化(huà)的(de)曲線;

4可(kě)提供塊體,薄膜,單樣品,四樣品夾具,滿足不同測試要求。

主要技術指标:

 

測量溫度: 室溫-1000°C

升溫斜率:2°C /min

頻(pín)率範圍:20-30MHZ

精度:0.05%

測量精度: ±0.1°C

控溫精度:±1°CPID精準控溫)

高(gāo)溫樣品杆:耐高(gāo)溫、1000°C不氧化(huà),電極阻抗低、絕緣好

測試方法:兩線法或四線法

測試通(tōng)道數:1-4通(tōng)道

一次可(kě)測樣品數:1-4個(gè)樣品

樣品尺寸:直徑小于2-10mm,厚度小于1-10mm,樣品放置位置靈活,可(kě)快(kuài)捷安裝和(hé)拆卸

測量精度:0.05%

AC電平:  0V 1V rms

直流偏壓:0±40V/100mA

數據存儲:EXCEL表格等多(duō)種格式

加熱(rè)方式:電阻絲加熱(rè)

真空度範圍:100 Pa-1大(dà)氣壓

電極材料:鉑金

數據傳輸:4個(gè)USB接口

儀器通(tōng)訊:USBGPIB

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