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詳細介紹
GDJD-600型高(gāo)低溫介電性能測量系統
GDJD-600型高(gāo)低溫介電性能測量系統（四通(tōng)道測試，同時(shí)測試4個(gè)樣品）
關鍵詞：高(gāo)低溫介電測量儀，高(gāo)低溫介電測量系統，
産品介紹：
GWJD-600型高(gāo)溫介電性能測量系統主要應用(yòng)于高(gāo)低溫下(xià)材料的(de)介電性能測
試與分(fēn)析，包括介電常數、介電損耗、電容等參數，同時(shí)測試出測試材料的(de)其
他(tā)阻抗參數，廣泛應用(yòng)于陶瓷材料、半導體器件及功能薄膜材料等研究 。
一、産品優勢:
1.實現室溫-140°C-800°C的(de)低高(gāo)溫介電轉換測量
2.四通(tōng)道測試,可(kě)以同時(shí)測試1-4個(gè)樣品，方便快(kuài)捷
3.數據分(fēn)析軟件:提供多(duō)種掃描曲線,可(kě)以在多(duō)窗(chuāng)口之間切換數據
二、《符合ASTMD150和(hé) D2149-97标準>>
<<符合GB/T1409-2006介電常數和(hé)介電損耗的(de)推薦方法;》
三、産品特點
1.可(kě)以在低高(gāo)溫、寬頻(pín)、真空條件下(xià)測量固體、薄膜樣品的(de)介電性能；
2.可(kě)以分(fēn)樣品的(de)頻(pín)率譜、溫度譜、偏壓譜、阻抗譜、介電譜、時(shí)間譜等測量功能;
3.可(kě)以測量樣品的(de)介電常數、介電損耗，電容C，損耗D，電感L，品質因數Q，阻抗Z等物(wù)理(lǐ)量;以實現介電常數和(hé)介電損耗随多(duō)個(gè)溫度、多(duō)個(gè)頻(pín)率變化(huà)的(de)曲線，時(shí)間和(hé)電壓變化(huà)的(de)曲線；
4、可(kě)提供塊體，薄膜，單樣品，四樣品夾具，滿足不同測試要求。
主要技術指标：
測量溫度： -160°C-800°C | 升溫斜率：2°C /min |
頻(pín)率範圍：20-30MHZ | 精度：0.05% |
測量精度： ±0.1°C | 控溫精度：±1°C（PID精準控溫） |
高(gāo)溫樣品杆：耐高(gāo)溫、1000°C不氧化(huà)，電極阻抗低、絕緣好 | 測試方法：兩線法或四線法 |
測試通(tōng)道數：1-4通(tōng)道 | 一次可(kě)測樣品數：1-4個(gè)樣品 |
樣品尺寸：直徑小于2-10mm，厚度小于1-10mm，樣品放置位置靈活，可(kě)快(kuài)捷安裝和(hé)拆卸 | 測量精度：0.05% |
AC電平： 0V 到 1V rms | 直流偏壓：0到±40V/100mA |
數據存儲：EXCEL表格等多(duō)種格式 | 加熱(rè)方式：電阻絲加熱(rè) |
真空度範圍：100 Pa-1大(dà)氣壓 | 電極材料：鉑金 |
數據傳輸：4個(gè)USB接口 | 儀器通(tōng)訊：USB或GPIB |
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