JKZC-UC系列高(gāo)低溫探針台是一款在非真空條件下(xià)實現低溫環境的(de)測試探針台。該産品釆用(yòng)液氮或者空氣壓縮機制冷(lěng) ,自動控溫，設備配置非常豐富。自帶屏蔽暗室，一方面可(kě)以屏蔽無線電磁幹擾，另外一方面也(yě)可(kě)以保持氮氣正壓環境下(xià)樣品在低溫時(shí)無結霜。此設備對(duì)于一些有溫度需求的(de)測試，尤其是低溫，運用(yòng)非常廣泛。

JKZC-DSH系列探針台是我司自主研發的(de)一款雙面探針台，最大(dà)可(kě)完成12英寸晶圓的(de)正反面點針測試。在具備常 規探針台的(de)功能基礎上,可(kě)用(yòng)于晶圓和(hé)PCB闆的(de)測試，對(duì)晶圓或者PCB闆正面和(hé)背面同時(shí)紮針以實現各種 光(guāng)/電性能測試需求的(de)測試，或背面點針，正面收集光(guāng)線等,運用(yòng)十分(fēn)豐富。該定制探針台具有優良的(de)機械系統，穩定的(de)結構，符合人(rén)體工程學，以及多(duō)項升級功能。

JKZC-DM系列探針台是我司一款基于高(gāo)校教育與實驗室而研發的(de)基礎型晶圓測試探針台。其結構緊湊，設計精密，價格實惠，配置靈活，高(gāo)性價比。在高(gāo)等院校教學和(hé)小型實驗室科研過程中得(de)到了(le)廣泛運用(yòng)，配合對(duì)應的(de)儀器儀表，用(yòng)于測試各類器件的(de)IV、CV、l-t、V-t,光(guāng)電信号，1/f噪聲測試，器件表征測試，RF射頻(pín)等。如 果您的(de)測試器件pad電極大(dà)于50um,此系列探針台。

SCD-1500型半導體C-V特性分(fēn)析儀創新性地采用(yòng)了(le)雙CPU架構、Linux底層系統、10.1英寸電容式觸摸屏、中英文操作界面、内置使用(yòng)說明(míng)及幫助等新一代技術，适用(yòng)于生産線快(kuài)速分(fēn)選、自動化(huà)集成測試及滿足實驗室研發及分(fēn)析。半導體C-V特性分(fēn)析儀測試頻(pín)率爲10kHz-2MHz，VGS電壓可(kě)達±40V，足以滿足二極管、三極管、MOS管及IGBT等半導體件CV特性測試分(fēn)析。

WLRYJ-300型微流控芯片真空熱(rè)壓機是一款應用(yòng)于PMMA、PC、PP、COP、COC、BOPET、CBC、樹脂（部分(fēn)）、聚乙烯（部分(fēn)）等硬質塑料芯片的(de)鍵合，是硬質塑料微流控芯片加工專用(yòng)設備。 基于MEMS技術制備的(de)微流控芯片，其表面多(duō)種微結構（微通(tōng)道、微儲液池、微孔等）需要經過鍵合形成密封的(de)微流路才能用(yòng)于微流控分(fēn)析。熱(rè)壓鍵合的(de)原理(lǐ)是，通(tōng)過外部壓力使得(de)工件表面緊密結合，依靠氫鍵形成初步鍵合，當

JYJC-3型絕緣及抗靜電材料電阻率及表面電阻測試儀是一款針專門用(yòng)于絕緣及抗靜電材料電阻率及表面電阻測試裝置，采用(yòng)環形三電極測試可(kě)以勝任于防靜電産品(防靜電鞋、防靜電塑料橡膠制品、計算(suàn)機房(fáng)防靜電活動地闆等)電阻值的(de)檢測;材料體電阻(率)和(hé)表面電阻(率)測量，是目前電阻率及表面電阻測試的(de)重要材料測試設備。 一、主要應用(yòng)領域： 1、防靜電橡膠電阻率及表面電阻 2、絕緣防靜電塑電阻率及表面電阻