FE-5001型鐵電參數測試儀/PUND測試是一款功能豐富的(de)鐵電參數測試儀/PUND測試，可(kě)廣泛地應用(yòng)于如各種鐵電/壓電/熱(rè)釋電薄膜、厚膜、體材料和(hé)電子陶瓷、鐵電傳感器/執行器/存儲器等領域的(de)研究。

DZFE-5000W型電緻應變鐵電測試儀是一款高(gāo)量程款的(de)鐵電性能材料測試裝置，這(zhè)款設備可(kě)以适用(yòng)于鐵電薄膜、鐵電體材料（既可(kě)塊體材料）的(de)電性能測量，可(kě)測量鐵電薄膜電滞回線、可(kě)測出具有非對(duì)稱電滞回線鐵電薄膜值。可(kě)以進行電緻應變測試，可(kě)以蝴蝶曲線功能，設備還(hái)可(kě)以擴展高(gāo)溫電阻，高(gāo)溫介電，電容-電壓曲線，TSC/TSDC等功能。本儀器是從事壓電材料及壓電元件生産、應用(yòng)與研究部門的(de)重要設備之一，已經在

FE-5000型寬量程鐵電性能測試儀是一款高(gāo)量程款的(de)鐵電性能材料測試裝置，這(zhè)款設備可(kě)以适用(yòng)于鐵電薄膜、鐵電體材料（既可(kě)塊體材料）的(de)電性能測量，可(kě)測量鐵電薄膜電滞回線、可(kě)測出具有非對(duì)稱電滞回線鐵電薄膜值。而且可(kě)以測量電緻應變參數。 二、主要技術指标： 1.輸出信号電壓：：0±3000V，±5000V，±10000V多(duō)種可(kě)選。 2.輸出信号頻(pín)率：0.2到100Hz（陶瓷、單晶），1到1kHz(薄

TZTFE-2000薄膜鐵電測試儀是一款應用(yòng)于薄膜材料的(de)鐵電性能測試的(de)設備，該設備具有動态電滞回線(DHM)、I-V特性、脈沖(PUND)、靜态電滞回線(SHM)、疲勞(FM)、漏電流(LM)、電流-偏壓、保持力(RM)、印迹(IM)的(de)測試功能.，可(kě)廣泛地應用(yòng)于如各種鐵電/壓電/熱(rè)釋電薄膜、厚膜、體材料和(hé)電子陶瓷、鐵電傳感器/執行器/存儲器等領域的(de)研究。

NTRK-5000型鐵電測試儀高(gāo)壓脈沖放大(dà)器是一款可(kě)以兼容美(měi)國Radiant鐵電測試儀,德國鐵電測試儀，解決了(le)國内高(gāo)校使用(yòng)美(měi)國Radiant鐵電測試儀主機，但是外接的(de)高(gāo)壓放大(dà)器電壓能量不夠的(de)問題，這(zhè)樣能夠爲高(gāo)校的(de)材料研究提供測試的(de)外部環境，在不斷創新和(hé)優化(huà)中設置了(le)這(zhè)款高(gāo)壓放大(dà)器。NTRK-5000型高(gāo)壓放大(dà)器目前已經是生物(wù)、醫療、電子、物(wù)理(lǐ)、化(huà)學等行業的(de)測試工具。此外，放大(dà)器在新型的(de)半導體

TDZT-04C鐵電性能綜合測試系統是一代鐵電材料參數測試儀适用(yòng)于鐵電薄膜、鐵電體材料（既可(kě)塊體材料）的(de)電性能測量，可(kě)測量鐵電薄膜電滞回線、I—V特性及開關特性，可(kě)地測出具有非對(duì)稱電滞回線鐵電薄膜的(de)Pr值。可(kě)測鐵電體材料的(de)電滞回線及I—V特性。 一、産品介紹：