當前位置:首頁  >  産品中心  >  材料高(gāo)溫電學測試儀  >  
  • YMJC-1000型雲母材料耐壓擊穿測試儀
    YMJC-1000型雲母材料耐壓擊穿測試儀

    YMJC-1000型雲母材料耐壓擊穿測試儀是一款設計精巧的(de)材料電壓擊穿試驗測試儀,全防護的(de)玻璃屏蔽罩,安全互鎖,側開式放樣品安裝方便,可(kě)移動十字型探頭,電壓擊穿數據保存查看,設備輕巧,可(kě)調壓升壓。是研究絕緣材料的(de)重要設備。

    更新時(shí)間:2024-08-27型号:浏覽量:304
    查看詳情
  • SPRE-1000型固相反應實驗儀
    SPRE-1000型固相反應實驗儀

    SPRE-1000型固相反應實驗儀是一款針對(duì)固體材料在高(gāo)溫加熱(rè)時(shí),固體物(wù)系的(de)質量會發生變化(huà),測量物(wù)質的(de)質量随溫度發生變化(huà)的(de)方法稱爲熱(rè)重分(fēn)析法。SPRE-1000型固相反應實驗儀用(yòng)于固相反應實驗,即将反應物(wù)在恒定溫度下(xià)保溫,記錄質量随時(shí)間的(de)變化(huà),驗證固相反應的(de)動力學規律。是目前一款新型的(de)升級版固相反應實驗儀。

    更新時(shí)間:2024-08-27型号:浏覽量:406
    查看詳情
  • HTRT-1600型超高(gāo)溫導電材料電阻率測試儀
    HTRT-1600型超高(gāo)溫導電材料電阻率測試儀

    HTRT-1600本系統主要由高(gāo)精度高(gāo)穩定度的(de)小電流源、高(gāo)精度AD采樣芯片以及嵌入式芯片,上位機智能管理(lǐ)分(fēn)析軟件、真空多(duō)段溫控加熱(rè)設備組成的(de)金屬電阻率智能存儲分(fēn)析儀器。測試金屬樣品根據測試工藝要求任意設定加熱(rè)、降溫曲線,通(tōng)過過程中電阻率的(de)精密測量,完成對(duì)金屬内部結構變化(huà)如相變、碳化(huà)物(wù)、固溶度等特性的(de)分(fēn)析。 一、主要性能 :導電材料的(de)電特性主要用(yòng)電阻率表征。影(yǐng)響電阻率的(de)因素有溫度、雜(zá)質含量、冷(lěng)變形

    更新時(shí)間:2024-08-27型号:浏覽量:499
    查看詳情
  • GWJDN-150型高(gāo)低溫高(gāo)溫介電溫譜儀
    GWJDN-150型高(gāo)低溫高(gāo)溫介電溫譜儀

    GWJDN-150型高(gāo)低溫高(gāo)溫介電溫譜儀中的(de)測試夾具依據國際标準ASTM D150方法設計,采用(yòng)平行闆電極原理(lǐ),測試電極由上下(xià)電極+保護電極組成。上下(xià)電有良好的(de)同心度和(hé)平行度,保護電極可(kě)減少周圍空氣電容的(de)影(yǐng)響,使得(de)測試數據更加準确可(kě)靠。$n$n2.介電溫譜儀可(kě)測量陶瓷、薄膜、半導體等塊狀材料,可(kě)與WK6500系列、Agilent/keysight E4990A、同惠TH28系列阻抗分(fēn)析儀集成使用(yòng),組成

    更新時(shí)間:2024-09-11型号:浏覽量:447
    查看詳情
  • GW-JDZK高(gāo)溫介電溫譜阻抗分(fēn)析儀
    GW-JDZK高(gāo)溫介電溫譜阻抗分(fēn)析儀

    GW-JDZK高(gāo)溫介電溫譜阻抗分(fēn)析儀(溫度:1000℃,頻(pín)率:10HZ-20MHZ)提供頻(pín)率(10 Hz 至20MHz),可(kě)在不同測量條件下(xià)進行高(gāo)速連續測量。其等效電路分(fēn)析功能支持7種不同的(de)參數模型(三組件、四組件),可(kě)協助客戶仿真組件的(de)等效參數值。并支持RS232、 USB 、LAN和(hé) GPIB PC聯機能力。

    更新時(shí)間:2024-08-27型号:浏覽量:369
    查看詳情
  • TSC/TSDC-200型熱(rè)刺激電流測試儀
    TSC/TSDC-200型熱(rè)刺激電流測試儀

    熱(rè)刺激電流(Thermally Stimulated Current,TSD)技術是通(tōng)過将樣品線性升溫,使材料中不同陷阱能級内的(de)空間電荷脫阱,或使取向的(de)偶極分(fēn)子發生松弛,在外電路上産生電流,獲得(de)電流随溫度的(de)變化(huà)關系的(de)一門技術。通(tōng)過對(duì)所獲得(de)的(de)電流-溫度譜的(de)分(fēn)析、計算(suàn),可(kě)得(de)到捕獲空間電荷和(hé)取向偶極分(fēn)子的(de)束縛能級、活化(huà)能分(fēn)布和(hé)儲存的(de)電荷密度、脫阱電荷的(de)逃逸頻(pín)率和(hé)平均渡越時(shí)間等參數,是研究材料内部空間電荷

    更新時(shí)間:2024-08-27型号:浏覽量:429
    查看詳情
共 36 條記錄,當前 3 / 6 頁  首頁  上一頁  下(xià)一頁  末頁  跳轉到第頁