GLSR-1000型玻璃熔體電阻率試驗儀是一款專用(yòng)于玻璃熔體電阻測試的(de)設備，采用(yòng)自動平衡技術，具有交流電壓輸出功能，頻(pín)率可(kě)調，可(kě)測試不同電流及頻(pín)率下(xià)的(de)電阻率數據，加熱(rè)及溫控系統數據穩定，可(kě)以設置不同溫度及升溫速率，是研究玻璃熔體電阻率的(de)重要設備。

産品簡介 GWJDN-1000B高(gāo)溫介電溫譜分(fēn)析儀采用(yòng)當前的(de)自動平衡電橋原理(lǐ)研制成功的(de)新一高(gāo)溫介電溫譜分(fēn)析儀，産品全新的(de)電子器件。.了(le)傳統國産儀器複雜(zá)繁瑣的(de)操作界面。基于Windows10操作系統。實現了(le)全電腦(nǎo)化(huà)操作界面。讓測試更智能、更簡便。 T 120MHz的(de)頻(pín)率瓶頸:解決了(le)國外同類儀器隻能分(fēn)析、無法單獨測試的(de)缺陷:中英文操作界面也(yě)解決了(le)國外儀器僅有英文界面的(de)增尬:采用(yòng)單測和(hé)分(fēn)析兩種界面。

TFVT-1000型薄膜變溫電阻測試儀一款兼具薄膜和(hé)塊體（可(kě)擴展）的(de)測試各種薄膜材料在高(gāo)溫、真空、氣氛條件下(xià)的(de)電阻和(hé)電阻率，可(kě)以用(yòng)來(lái)分(fēn)析樣品的(de)電阻率随溫度變化(huà)曲線、電阻溫阻系數、樣品相變溫度點。而且可(kě)廣泛用(yòng)于光(guāng)電、鐵電、熱(rè)電等各種導電材料的(de)電阻率測量。是目前科研和(hé)生産的(de)重要材料測量設備。

HTIM-600高(gāo)溫電阻率測試儀是一款針對(duì)于材料的(de)測量設備，可(kě)以出具CNAS整體認證的(de)專業材料高(gāo)溫測量設備，該儀器采用(yòng)使用(yòng)方法多(duō)樣化(huà)，最大(dà)2000V，最快(kuài)6.4ms的(de)采集系統，實現了(le)是以往産品300倍的(de)抗幹擾功能最快(kuài)6.4ms的(de)高(gāo)速測量，作爲皮安表使用(yòng)進行低電容檢查，最高(gāo)2×10^19 Ω顯示，最小0.1fA分(fēn)辨率标配EXT I/O, RS-232C, GP-IB, USB，自行設計的(de)懸浮式電路，

HTIM-3高(gāo)低溫材料電阻率測試儀主要用(yòng)于半導體材料導電性能的(de)評估和(hé)測試，該系統采用(yòng)四線電阻法測量原理(lǐ)進行設計開發，可(kě)以在高(gāo)溫、真空氣氛的(de)條件下(xià)測量半導體材料電阻和(hé)電阻率，可(kě)以分(fēn)析被測樣品電阻和(hé)電阻率随溫度、時(shí)間變化(huà)的(de)曲線。目前主要針對(duì)圓片、方塊、長(cháng)條等測試樣品進行測試，可(kě)以廣泛用(yòng)于半導體材料矽（si）、鍺（ge）,化(huà)合物(wù)半導體材料砷化(huà)镓(GaAs)、銻化(huà)铟（InSb），三元化(huà)合物(wù)半導體GaAsA

GWJDN-4型四通(tōng)道同屏高(gāo)溫介電溫譜測量系統運用(yòng)三電極法設計原理(lǐ)測量，并參考美(měi)國A.S.T.M 标準。采用(yòng)Labview系統開發具備彈性的(de)自定義功能，可(kě)進行介電溫譜、頻(pín)譜、升溫速度、測量參數等設置，符合壓電陶瓷與其它新材料測試多(duō)樣化(huà)的(de)需求。電壓、過電流、超溫等異常情況以保證測試過程的(de)安全；資料保存機制，當遇到電腦(nǎo)異常瞬時(shí)斷電可(kě)将資料保存于控制器中，不丢失試驗數據，設備重新啓動後可(kě)恢複原有試驗數據