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  • JK-600CH190P4D型外部調節探針冷(lěng)熱(rè)台
    JK-600CH190P4D型外部調節探針冷(lěng)熱(rè)台 JK-600CH190P4D型外部調節探針冷(lěng)熱(rè)台
  • JK-600GCH2190P4微型探針冷(lěng)熱(rè)台
    JK-600GCH2190P4微型探針冷(lěng)熱(rè)台 JK-600GCH2190P4微型探針冷(lěng)熱(rè)台産品特點:結構緊湊,适用(yòng)于各種變溫測試最大(dà)溫度範圍-190~600℃(選型) 氣密腔室設計,可(kě)通(tōng)保護氣體多(duō)探針測試上位機軟件控制支持改動或定制
  • JK-600CH190P8型常規探針冷(lěng)熱(rè)台
    JK-600CH190P8型常規探針冷(lěng)熱(rè)台 JK-600CH190P8型常規探針冷(lěng)熱(rè)台是一款針對(duì)研究樣品變溫電學性能測試而設計的(de)産品,可(kě)表征樣品電學性能随溫度變化(huà)的(de)特征。産品采用(yòng)液氮緻冷(lěng)、電阻加熱(rè)的(de)方式,實現-190~600℃(選型)或RT~1...
  • JK-600CH190P2BPE型電控位移探針冷(lěng)熱(rè)台
    JK-600CH190P2BPE型電控位移探針冷(lěng)熱(rè)台 光(guāng)學冷(lěng)熱(rè)台JK-GH600-190是一款針對(duì)研究樣品變溫光(guāng)學性能測試而設計的(de)産品,可(kě)表征樣品光(guāng)學性能随溫度變化(huà)的(de)特征。産品采用(yòng)液氮緻冷(lěng)、電阻加熱(rè)的(de)方式,實現-190~600℃範圍内精準控制,與其他(tā)光(guāng)學...
  • JK-600CHG2190型光(guāng)學冷(lěng)熱(rè)台
    JK-600CHG2190型光(guāng)學冷(lěng)熱(rè)台 JK-600CHG2190型光(guāng)學冷(lěng)熱(rè)台是一款針對(duì)研究樣品變溫光(guāng)學性能測試而設計的(de)産品,可(kě)表征樣品光(guāng)學性能随溫度變化(huà)的(de)特征。産品采用(yòng)液氮緻冷(lěng)、電阻加熱(rè)的(de)方式,實現-190~600℃(選型)或RT~100...
  • JK-GH600-190型光(guāng)學冷(lěng)熱(rè)台
    JK-GH600-190型光(guāng)學冷(lěng)熱(rè)台 光(guāng)學冷(lěng)熱(rè)台JK-GH600-190是一款針對(duì)研究樣品變溫光(guāng)學性能測試而設計的(de)産品,可(kě)表征樣品光(guāng)學性能随溫度變化(huà)的(de)特征。産品采用(yòng)液氮緻冷(lěng)、電阻加熱(rè)的(de)方式,實現-190~600℃範圍内精準控制,與其他(tā)光(guāng)學...
  • JK-GH600S光(guāng)學熱(rè)台
    JK-GH600S光(guāng)學熱(rè)台 光(guāng)學熱(rè)台JK-GH600S是一款針對(duì)研究樣品變溫光(guāng)學性能測試而設計的(de)産品,可(kě)表征樣品光(guāng)學性能随溫度變化(huà)的(de)特征。産品采用(yòng)電阻加熱(rè)的(de)方式,實現RT~600℃範圍内精準控制,與其他(tā)光(guāng)學設備(如顯微鏡、拉曼光(guāng)...
  • JK-CH600LSJ型自調節拉伸機冷(lěng)熱(rè)台
    JK-CH600LSJ型自調節拉伸機冷(lěng)熱(rè)台 Instruments拉伸機冷(lěng)熱(rè)台拉伸機冷(lěng)熱(rè)台-JK-CH600LSJ型自調節拉伸機冷(lěng)熱(rè)台是一種安裝在萬能試驗機上研究樣品在變溫條件下(xià)進行應力應變測試的(de)産品。産品采用(yòng)液氮緻冷(lěng)、電阻加熱(rè)的(de)方式,實現-1...
  • JK-150BPE型半導體冷(lěng)熱(rè)台
    JK-150BPE型半導體冷(lěng)熱(rè)台 JK-150BPE型半導體冷(lěng)熱(rè)台又稱帕爾貼冷(lěng)熱(rè)台,利用(yòng)半導體的(de)熱(rè)-電效應制冷(lěng),配合循環水(shuǐ)散熱(rè),在 -30~150℃的(de)溫度範圍内進行控溫,實現樣品在開放式 / 氣密 / 真空環境下(xià)的(de)變溫光(guāng)學、電學等測試...
  • JK-120BCH半導體冷(lěng)熱(rè)台
    JK-120BCH半導體冷(lěng)熱(rè)台 半導體冷(lěng)熱(rè)台JK-120BCH采用(yòng)半導體緻冷(lěng),配合低溫循環液,實現從-40到180℃(選型)的(de)控溫。結構緊湊,适用(yòng)于各種變溫測試氣密腔室設計,可(kě)通(tōng)保護氣體多(duō)探針測試上位機軟件控制支持改動或定制
  • JK-120BPE型半導體冷(lěng)熱(rè)台
    JK-120BPE型半導體冷(lěng)熱(rè)台 半導體冷(lěng)熱(rè)台JK-120BPE、BPE100采用(yòng)半導體冷(lěng)熱(rè)控制,配合循環水(shuǐ)散熱(rè),實現從-25~120℃(選型)的(de)控溫。無需液氮等緻冷(lěng)劑,具有無噪聲、無振動等特點。可(kě)以實現變溫光(guāng)學測試,或者選配探針實現...
  • JK-600C型變溫電學探針冷(lěng)熱(rè)台
    JK-600C型變溫電學探針冷(lěng)熱(rè)台 探針冷(lěng)熱(rè)台JK-600C是一款針對(duì)研究樣品變溫電學性能測試而設計的(de)産品,可(kě)表征樣品電學性能随溫度變化(huà)的(de)特征。産品采用(yòng)液氮緻冷(lěng)、電阻加熱(rè)的(de)方式,實現-190~600℃範圍内精準控制,與其他(tā)電學儀表(如電...
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